使用可达性过度逼近进行验证的方法和系统技术方案

技术编号:2920331 阅读:227 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种用于验证设计符合所需特性的方法、系统和计算机程序产品。该方法包括接收设计、所述设计的第一初始状态以及与所述设计相关的要验证的特性。扩展所述设计的第一初始状态以创建所述第一初始状态的超集,该超集包含从所述设计的所述第一初始状态可达的一个或多个状态。合成超集以定义所述设计的第二初始状态。通过将切割点插入到所述超集来过度逼近针对所述设计的所述超集的应用,以获得修改的超集,然后参考所述修改的超集验证所述特性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般涉及测试和验证,尤其涉及数字设计的验证。更特别的是,本专利技术涉及一种用于数字设计验证的系统、方法和计算机程序产品,其包括验证(verify)设计符合预期的特性。
技术介绍
随着基于处理器的系统在人类活动的每个方面的日益渗透,对处理器、专用集成电路(ASIC)开发以及生产没有设计缺陷的系统的开发团体的需求日益增长。包括微处理器、数字信号和其他特殊目的处理器以及ASIC的电路产品已经与大批关键功能的性能密切相关,并且微处理器与日常生活的重要任务相关提高了人们对无误差的和无缺陷设计的期望。无论设计中的错误是通过对人类生活的影响还是仅仅通过对经济利益方面的影响来衡量,电路产品的消费者已失去了对设计错误所产生的结果的容忍。消费者将不会容忍例如在证券交易场所中、维持人的生命的医疗设备中或操控其交通工具的计算机中的计算错误。所有的这些活动代表了这样的一些领域在这些领域中,对可靠电路结果的需求已上升为一个关键任务问题。为了响应对可靠、无误差设计的日益增长的需求,处理器和ASIC设计以及开发团队已经开发出用于测试和验证的严格(即使是难以置信的昂贵)的方法。功能硬件验证已经成为用于验本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种验证设计符合所需特性的方法,所述方法包括:接收设计、所述设计的第一初始状态以及与所述设计相关的要验证的特性;扩展所述设计的所述第一初始状态以创建所述第一初始状态的超集,该超集包含从所述设计的所述第一初始状态可达的一个或多 个状态;合成所述超集以定义所述设计的第二初始状态;通过将切割点插入到所述超集,来过度逼近针对所述设计的所述超集和所述第二初始状态的应用,以获得修改的超集;以及参考所述修改的超集验证所述特性。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:贾森R伯姆加特纳哈里默尼维里施帕鲁斯徐佳肇
申请(专利权)人:国际商业机器公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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