一种测试设备连接用电接触件制造技术

一种测试设备连接用电接触件，包括插头和插座；所述插头上设有贯通的第一插孔阵列；所述插座包括前面板和后面板，所述前面板设有与第一插孔阵列位置相对应的第二插孔阵列；所述第一插孔阵列连接插针，且插针穿过第一插孔阵列连接第二插孔阵列，所述第二插孔阵列的各插孔与插针的尺寸相适配；所述后面板设有第三插孔阵列。本实用新型专利技术一方面，插头和插座能够形成小体积、高密度结构；另一方面通过将插座的前面板和后面板分开设置，便于更换，即如果有一个面板上的插孔受损，可更换其他前面板，而后面板仍旧可采用原有的，不影响更换。不影响更换。不影响更换。

【技术实现步骤摘要】
一种测试设备连接用电接触件


[0001]本技术涉及一种测控设备，特别是一种测试设备连接用电接触件。

技术介绍

[0002]自动测试系统已广泛应用于航空航天设备，其整个系统主要包括计算机、测试仪器和接口适配装置，接口适配装置是待测设备与测试仪器之间的信号枢纽，它汇聚了大量的待检测信号，其功能是将待测设备各个接口的信号通过不同的调理模块转送至测试仪器。现有的接口适配装置通常为通用接口，用户可通过计算机控制矩阵开关自动切换以适应不同的测试对象，从而实现一个测试系统对应多个测试对象的目的，以避免接口适配装置重复开发的问题。
[0003]现有的接口适配装置通常通过电接触件分别接待测设备和测试仪器，电接触件包括插头和插座，插头通过插针连接待测设备，插座连接测试仪器，且插头和插座连成一体，将测试仪器与待测设备连通，实现信号传输。现有电接触件的插座通常是一个整体结构，不便于更换；而且现有的插孔数量少，排布稀疏，密度小，不能一次性连接多个设备。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是克服现有技术的上述不足而提供一种更换方便，体积小，密度高的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试设备连接用电接触件，包括插头和插座；其特征在于，所述插头上设有贯通的第一插孔阵列；所述插座包括前面板和后面板，所述前面板设有与第一插孔阵列位置相对应的第二插孔阵列；所述第一插孔阵列连接插针，且插针穿过第一插孔阵列连接第二插孔阵列，所述第二插孔阵列的各插孔与插针的尺寸相适配；所述后面板设有第三插孔阵列。2.根据权利要求1所述的测试设备连接用电接触件，其特征在于，所述第一插孔阵列、第二插孔阵列和第三插孔阵列的插孔数量相同，均不小于100个。3.根据权利要求2所述的测试设备连接用电接触件，其特征在于，所述第一插孔阵列、第二插孔阵列和第三插孔阵列的插孔数量均为192个。4.根据权利要求3所述的测试设备连接用电接触件，其特征在于，所述第一插孔阵列、第二插孔阵列和第三插孔阵列的各插孔均以4
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48矩阵方式排列。5.根据权利要求1~4任一项所述的测试设备连接用电接触件，其特征在于，所述插头的背部设有槽口，所述插座的前面板嵌入槽口内。6...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭龙，刘聃，
申请(专利权)人：湖南领舞科技有限公司，
类型：新型
国别省市：