电子设备测试状态的检测方法及检测装置制造方法及图纸

本申请公开了一种电子设备测试状态的检测方法及检测装置，电子设备包括第一天线和第二天线，该检测方法包括：在搜网前，通过所述第一天线发射固定功率的调制信号；通过所述第二天线接收所述调制信号，获取所述调制信号的接收信号强度；根据所述接收信号强度与预设校准值，确定所述电子设备的测试状态。上述方案能解决目前电子设备中的天线数量较多引起检测电路数量增加导致的电路板布局空间以及成本增加的问题。

【技术实现步骤摘要】
电子设备测试状态的检测方法及检测装置
本申请涉及通信
，尤其涉及一种电子设备测试状态的检测方法及检测装置。
技术介绍
随着技术的发展与进步，电子设备的发展也有了质一般的飞跃，天线是电子设备中的一种必不会可少的元器件，用于接收和传输信号，为了达到最佳的天线性能，需要根据电子设备的实时状态进行相应调整，例如，适当地降低电子设备的发射功率，降低电子设备的辐射能量，以达到较好的比吸收率(SpecificAbsorptionRate，SAR)指标；或者，调整天线的负载，以达到更好的效率或功耗。但这些操作只有电子设备在耦合测试状态下进行，在传导测试状态下不会被触发，因此，需要对电子设备检测，以确定电子设备是处于传导测试状态或耦合测试状态。在相关技术中，主要是设置检测电路来检测电子设备是处于传导测试状态或耦合测试状态。在5G系统中，多输入多输出(MultipleInputMultipleOutput，MIMO)天线成为电子设备设计的硬性要求，按照相关技术的检测电路设置，需要为每个天线分别配置一个检测电路，每个检测电路都需要配置一个主芯片检测端口，以检测各个射频路径是处于耦合测试状态还是传导测试状态。在电子设备的天线数量较多的情况下，检测电路的数量也较多，从而会增加PCB板的布局空间以及成本。
技术实现思路
本申请公开一种电子设备测试状态的检测方法及检测装置，以解决目前电子设备中的天线数量较多引起检测电路数量增加导致的电路板布局空间以及成本增加的问题。为了解决上述问题，本申请采用下述技术方案：第一方面，本申请实施例公开一种电子设备测试状态的检测方法，所述电子设备包括第一天线和第二天线，所述方法包括：在搜网前，通过所述第一天线发射固定功率的调制信号；通过所述第二天线接收所述调制信号，获取所述调制信号的接收信号强度；根据所述接收信号强度与预设校准值，确定所述电子设备的测试状态。第二方面，本申请实施例公开一种电子设备测试状态的检测装置，所述电子设备包括：第一天线和第二天线，所述装置包括：控制模块，用于在搜网前，通过所述第一天线发射固定功率的调制信号，并通过所述第二天线接收所述调制信号；获取模块，用于获取所述调制信号的接收信号强度；确定模块，用于根据所述接收信号强度与预设校准值，确定所述电子设备的测试状态。第三方面，本申请实施例公开一种终端设备，包括处理器，存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如第一方面所述的检测方法的步骤。第四方面，本申请实施例公开一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如第一方面所述的检测方法的步骤。第五方面，本申请实施例公开一种芯片，所述芯片包括处理器和通信接口，所述通信接口和所述处理器耦合，所述处理器用于运行终端程序或指令，实现如第一方面所述的检测方法。本申请实施例公开本申请采用的技术方案能够达到以下有益效果：本申请实施例提供了一种电子设备测试状态的检测方法，通过在搜网之前，通过第一天线发射一固定功率的调制信号，同时通过第二天线同步接收调制信号，获取第二天线接收调制信号的接收信号强度，根据接收信号强度与预设校准值的数值关系，确定电子设备的测试状态。通过这种方式，不需要在多天线的电子设备中额外增加检测电路来对电子设备的测试状态进行检测，因此，不会占用检测电路中的主芯片的检测端口资源，减少了电路板布局空间的占用以及成本。附图说明图1为本申请实施例公开的一种电子设备测试状态的检测方法的流程示意图；图2为本申请实施例公开的一种电子设备测试状态的检测方法的电路示意图；图3为本申请实施例公开的又一种电子设备测试状态的检测方法的流程示意图；图4为本申请实施例公开的一种电子设备测试状态的检测装置的示意图；图5为本申请实施例公开的一种终端设备的示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。下面结合附图，通过具体的实施例及其应用场景对本申请实施例提供的测试状态的检测方法及检测装置进行详细地说明。图1为本申请实施例公开的一种电子设备测试状态的检测方法的流程示意图，电子设备包括第一天线和第二天线，如图1所示，该方法主要包括以下步骤：S110：在搜网前，通过第一天线发射固定功率的调制信号。例如，可以在电子设备开机后或取消飞行模式后，控制电子设备的第一天线发射固定功率的调制信号。在本申请实施例中，电子设备包括但不限于：手机、平板电脑(TabletPersonalComputer)、膝上型电脑(LaptopComputer)或称为笔记本电脑、个人数字助理(PersonalDigitalAssistant，PDA)、掌上电脑、上网本、超级移动个人计算机(ultra-mobilepersonalcomputer，UMPC)、移动上网装置(MobileInternetDevice，MID)、可穿戴式设备(WearableDevice)或车载设备(VUE)、行人终端(PUE)等终端侧设备，可穿戴式设备包括：手环、耳机、眼镜等。需要说明的是，本申请实施例并不限定电子设备的具体类型。S120：通过第二天线接收调制信号，获取调制信号的接收信号强度。在本申请实施例中，可以同时通过第一天线发送调制信号，通过第二天线接收调制信号。S130：根据接收信号强度与预设校准值，确定电子设备的测试状态。在本申请实施例中，可以根据接收信号强度与预设校准的数值关系，来确定电子设备的测试状态。例如，当电子设备的测试座插入测试线时，电子设备的发射通路被断开，此时将没有发射功率传输至发射天线，因此，即使发射天线(即第一天线)和接收天线(即第二天线)同时工作，第二天线也接收不到发射信号，因此，若接收信号强度小于预设校准值，可以认为电子设备处于传导测试状态，在该可能的实现方式中，预设校准值可以用于衡量第二天线是否接收到发射信号。又例如，当电子设备的测试座上没有插入测试线时，将会有发射功率传输至发射接收天线，因此，此时若命令发射天线(即第一天线)和接收天线(即第二天线)同时工作，则第二天线能够接收到本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子设备测试状态的检测方法，其特征在于，所述电子设备包括第一天线和第二天线，所述方法包括：/n在搜网前，通过所述第一天线发射固定功率的调制信号；/n通过所述第二天线接收所述调制信号，获取所述调制信号的接收信号强度；/n根据所述接收信号强度与预设校准值，确定所述电子设备的测试状态。/n

【技术特征摘要】
1.一种电子设备测试状态的检测方法，其特征在于，所述电子设备包括第一天线和第二天线，所述方法包括：
在搜网前，通过所述第一天线发射固定功率的调制信号；
通过所述第二天线接收所述调制信号，获取所述调制信号的接收信号强度；
根据所述接收信号强度与预设校准值，确定所述电子设备的测试状态。


2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，根据所述接收信号强度与预设校准值，确定所述电子设备的测试状态，包括：
获取所述调制信号的发送信号强度与所述接收信号强度之间的目标差值；
在所述目标差值与所述预设校准值之间的差值小于预设阈值的情况下，确定所述电子设备处于耦合测试状态。


3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，在确定所述电子设备处于耦合测试状态之后，所述方法还包括：
触发调整所述第一天线的功率或调整所述第一天线的负载。


4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，确定所述电子设备的测试状态，还包括：
在所述目标差值与所述预设校准值之间的差值不小于所述预设阈值的情况下，确定所述电子设备处于传导测试状态。


5.根据权利要求1至4任一项所述的检测方法，其特征在于，在确定所述电子设备的测试状态之后，所述方法还包括：进行搜网和连接测试。


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【专利技术属性】
技术研发人员：苏景，李天林，
申请(专利权)人：维沃移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44