用于测试安装在控制装置中的至少一个计算单元的方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及到一种用于测试至少一个安装在控制装置上的计算单元（２，３）的方法，其中该控制装置具有装置接口，至少两个具有扫描链（４，５）的计算单元（２，３）。而且至少具有一个存储单元（６，７），所述方法包括下列步骤：该控制装置接口用于载入用于测试第一计算单元（２）的第一测试数据，已经载入的第一测试数据存储在位于第二个计算单元（３）中的，第二计算单元（３）用于把第一计算单元（２）切换到测试模式，在测试模式中可以访问第一计算单元（２）中的第一扫描链（４），第二计算单元（３）用于从第二存储单元（７）中读取第一测试数据，第二计算单元（３）用于通过第一计算单元（２）中的第一扫描链（４）转移已读出的第一测试数据，其中第一扫描链（４）切换为测试模式，由此给第一计算单元（２）提供测试结果数据，已提供的测试结果数据采用第二计算单元（３）进行可靠校验，为了给第一计算单元（２）提供测试结果数据。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于测试安装在控制装置中的至少 一个计算单元的方法
技术介绍
本专利技术涉及到用于测试至少一个安装在控制装置中的计算单元 的方法，其中尤其是安装在汽车上的控制装置。本专利技术的
涉及到集成电路的测试，尤其是其中的计算单 元。以下计算单元、计算器件、计算装置和数字核心是同义词而表示 同样的意思。集成电路或者计算单元或者运算单元在非封装状态下测试是熟 知的。其中非封装状态的意思就是集成电路或者计算单元或者运算单 元尚未安装到转向装置或类似装置上，尤其是控制装置。尤其是集成电路的半导体生产工厂要进行这种测试。例如，所谓的Stuck-At测试 和Path-Delay测试就是为了该类测试。借助于Stuck-At测试例如可以 测试到相应计算单元的扫描链或者扫描路径上的接通电源电压或者 接地后信号的潜在短路。借助于Path-Delay测试例如可以测试到信号 通过扫描链或者扫描路径时的时间延迟。关于Stuck-At测试和 Path-Delay测试的详细说明见于EP 05488585 A2。专利技术优点具有权利说明书1中所述特征的本专利技术中的用于测试至少一个安 装在控制装置中的计算单元的方法与当前解决方案相比具有下列优 点，计算单元在封装或者安装后的状态下尤其是在闭合的控制装置里 也可以进行测试。由此根据本专利技术，控制装置的一个或者多个计算单 元(该控制装置例如封装在汽车的任意位置上)都是可以进行测试的。 根据本专利技术，尤其是可以在封装了的控制装置中进行Stuck-At测试和 Path-Delay测试。通过根据本专利技术的方法，可以确保控制装置及其计算单元在如同 在相应的半导体工厂以同样的方式和方法(由此具有相同类似的好的 测试覆盖层)压制和使用后仍然可以进行测试。尤其是由此产生了更好 在磁场回程状态下的分析能力。尤其是大大提高由半导体工厂在非封 装状况下发现的确定的缺陷在封装状态下不^^现的概率。基于本专利技术的思想主要包括提供具有下述步骤的用于测试至少 一个安装在控制装置上的计算单元的方法，其中该控制装置包含控制 装置接口，至少两个计算单元，每个计算单元各自具有一个扫描奮连(或 者与内部扫描链连接在一起的电路起始端)，而且还至少包含一个存储 单元。步骤包括-借助于控制装置接口载入第一测试数据用于第一计算单元的测试；-把载入的第 一测试数据储存到第二计算单元的第二存储单元；-将第一计算单元切换到测试模式，在该模式下借助于第二计算单元可以访问第 一计算单元的扫描链；-借助于第二计算单元把第一测试数据从第二存储单元中读出；-为了给第一计算单元提供测试结果数据，借助于第二计算单元，通过切换为测试模式的第一计算单元中的第一扫描链，转移已读出的第一测试数据；-借助于第二计算单元对所提供的测试结果数据进行可靠校验， 以为第 一计算单元提供测试结果数据。从属权利要求中给出了根据权利要求1的用于测试至少一个安装 在控制装置中的计算单元的方法的有利的优化和改型。根据本专利技术的有利的优化，从第二存储单元中读出的测试数据借 助于第二计算单元，通过第一专用接口，并通过第一扫描链进行转移， 其中，第二计算单元借助于该接口与第一扫描链联接在一起。才艮据本专利技术的有利的优化，基于本专利技术的方法还包括以下步骤-载入第二测试数据用于第二计算单元的测试，其中，第二测试数据借助于控制装置接口栽入，或者存储于第二存储单元中第一测试数据作为第二测试数据通过控制装置的内部接口载入； -把载入的第二测试数据储存到第 一计算单元的第 一存储单元； -将第二计算单元切换到测试模式，在该模式下借助于第一计算 单元可以访问第二计算单元的扫描链； -借助于第一计算单元把第二测试数据从第一存储单元中读出； -为了给第二计算单元提供测试结果数据，借助于第一计算单元， 通过切换为测试模式的第二计算单元中的第二扫描链，转移已读 出的第二测试数据；且-借助于第 一计算单元对已提供的测试结果数据进行可靠校验，由此为第二计算单元提供测试结果数据。根据进一步的有利的优化，从第一存储单元中读出的第二测试数 据借助于第一计算单元，通过第二专用接口，并通过第二扫描链进行 转移，其中借助于该接口第一计算单元与第二扫描链连接在一起。根据进一步的有利的优化，该控制装置具有时钟用于提供预设时 钟脉冲而通过各自的扫描链进行的分别读出的测试数据的转移用于 在提供的时钟脉沖下进行Path-Delay测试。才艮据本专利技术的有利的改型，第一专用接口和/或第二专用接口分别 设计为移位寄存器或者ASC接口或者SPI接口 。根据进一步的有利的改型，控制装置接口设计为CAN总线或者 Flex Ray总线或者K-Line总线。根据进一步的有利的改型，各自提供的测试结果数据和/或测试结 果存储在第一计算单元或者第二计算单元中的至少一个存储单元中， 和/或通过控制装置接口用于数据输出。根据进一步的有利的改型，时钟的时钟脉冲通过控制装置接口进 行设置。根据进一步的有利的优化，第一计算单元和第二计算单元集成于 单个集成电路中，其中，该集成电路的每一个Stuck-At路径都可以通过第一计算单元或者第二计算单元测试，该集成电路不属于第一计算 单元或者第二计算单元。附图说明本专利技术的实施实例见于附图中且在下述说明中进一 步阐明。其中图l显示了基于该专利技术的方法的第一的示意性流程图2显示了基于该专利技术的方法的第二实施实例的示意性流程且图3显示了控制装置的实施实例的示意图，该控制装置借助于基 于本专利技术的方法进行测试。具体实施例方式在附图中，同样的参考符号表示同样的功能或组成部分。 在图1中显示了基于本专利技术的第一实施实例的示意性流程图。基 于本专利技术的用于测试至少 一个安装在控制装置中的微控制器的方法 含有下列方法步骤a)到f),其中该微控制器包含两个计算单元2,3。其 中该控制装置包括控制装置接口、至少一个计算单元2，3、至少一个 存储单元6,7,两个计算单元2,3各自都包括扫描链4,5及扫描链4，5 的区域。方法步骤a:借助于控制装置接口 ，载入第一测试数据用于第一计算单元2的 测试。控制装置接口优选地设计成CAN总线或者Flex Ray总线或者 K-Line总线。测试数据是特定建模的测试矢量，该矢量在半导体工厂 相应的计算单元的电路综合中产生或者形成。测试数据优选地用于半 导体工厂的扫描模式。方法步骤b:第一测试数据储存或者载入到第二计算单元3的第二存储单元7中。方法步骤c:借助于第二计算单元3把第一计算单元2切换到测试模式。在该 模式下可以访问第一计算单元2中的第一扫描链4或者第一扫描链4 的区域，也就是说，例如借助于第二计算单元3可以访问第一扫描链 4。方法步骤d:借助于第二计算单元3把第一测试数据从第二存储单元7中读出。方法步骤e:为了给第 一计算单元2提供测试结果数据，借助于第二计算单元 3，通过切换为测试模式的第一计算单元2中的第一扫描链4，转移已 读出的第一测试数据。优选地把从第二存储单元7中读出的第一测试 数据借助于第二计算单元3,通过第一专用接口 8,并通过第一扫描 链4进行转移，其中第二计算单元3借助于该第一专用接口 8与第一 扫描链4连接在一起。特别地，第一专用接口 8设计为移位寄存器或 者ASC接口或者SPI接口。方法步骤f:借助于第二本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种方法，其用于测试安装在控制装置中的带计算单元（２，３）的至少一个微控制器，其中该控制装置具有装置接口、至少两个具有扫描链（４，５）的计算单元（２，３）（或者能够以和计算单元相似的方式和方法进行接口操作的等效电路）和至少一个存储单元（６，７），所述方法包括下列步骤：　ａ）借助于该控制装置接口载入第一测试数据用于第一计算单元（２）的测试；　ｂ）把载入的第一测试数据储存到第二计算单元（３）的第二存储单元（７）中；　ｃ）将该第一计算单元（２）切换到测试模式，在该模式下借助于第二计算单元（３）可以访问第一计算单元（２）的第一扫描链（４）；　ｄ）借助于该第二计算单元（３）把第一测试数据从第二存储单元（７）中读出；　ｅ）借助于该第二计算单元（３），通过切换为测试模式的第一计算单元（２）中的第一扫描链（４），转移已读出的第一测试数据，以为该第一计算单元（２）提供测试结果数据；　ｆ）借助于该第二计算单元（３）对已提供的测试结果数据进行可靠性校验，以为该第一计算单元（２）提供测试结果数据。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：A奥，
申请(专利权)人：罗伯特博世有限公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]