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在射线检测中双壁双投影成像方法及其角度控制器技术

技术编号:2914632 阅读:316 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种在射线检测中双壁双投影成像方法,其特征在于:它包括以下几个步骤:①检测对象的测量:管子外径、焊缝宽度、焊缝余高;②透照角度的计算:由步骤①的测量值计算出焊缝最高点与管子外壁之间的夹角;③利用角度控制器确定射线射入方向;④成像:根据步骤③确定的射入方向,确定射线发生器的位置,进而透照成像。采用上述技术方案,有效地大幅度提高焊缝中缺陷检出率;降低检测人员的劳动强度,提高劳动效率;降低底片消耗量,节约成本,提高经济效益;同时灵敏度的提高也减少了超标准缺陷的存在几率,减低了事故的隐患,可有效的控制检测质量,适用于全方位管子对接焊缝双壁双投影成像的射线检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种在射线检测中方法及其设备,尤其是涉及一种在射线检测双壁双投影中的成像方法及其设备。
技术介绍
目前,目前,在射线检测中,对小管对接焊缝双壁双投影椭圆成像的控制方法主要采用偏移距离的方法来完成底片的椭圆成像,但是此方法受到诸多条件的限制:1、管经太小,壁厚太大时,无法进行。2、空间位置狭小时,无法使用。3、管子走向和焊缝所在的位置不理想时,无法使用。在偏移距离的方法无法实现或难以实现的情况下射线检测只有采用角度透照来实现,在目前此方法是靠人的肉眼来实现的,这种凭肉眼来判定的方法造成了大量的不合格的射线底片,对这些不合格底片必须再次重新透照,浪费了大量的人力财力,错过了最佳检测时机,延误了工程工期,使经济效益受到了损失;同时也使检测灵敏度不能达到要求,减低了缺陷检出率,使工程隐含了安全隐患。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足和存在的缺陷,较准确的完成角度定位,大幅度提高射线检测质量的方法,并提供一种能够准确测量角度的仪器。本专利技术的目的可通过以下措施来实现:一种在射线检测中双壁双投影成像方法,它包括以下几个步骤:①检测对象的测量:管子外径D、焊缝宽度BE、焊缝余高H;②透照角度的计算:由步骤①的测量值计算出焊缝最高点与管子外壁之间的夹角a;③利用角度控制器确定射线射入方向;④成像:根据步骤③确定的射入方向,确定射线发生器的位置,进而透照成像。所述步骤②中的计算方法为:a=ctg-1{(BE+CE)/(D+H)

【技术保护点】
一种在射线检测中双壁双投影成像方法,,其特征在于:它包括以下几个步骤: ①检测对象的测量:管子外径D、焊缝宽度BE、焊缝余高H; ②透照角度的计算:由步骤①的测量值计算出焊缝最高点与管子外壁之间的夹角a; ③利用角度控制器确定射线射入方向; ④成像:根据步骤③确定的射入方向,确定射线发生器的位置,进而透照成像。

【技术特征摘要】
1、一种在射线检测中双壁双投影成像方法,,其特征在于:它包括以下几个步骤:①检测对象的测量:管子外径D、焊缝宽度BE、焊缝余高H;②透照角度的计算:由步骤①的测量值计算出焊缝最高点与管子外壁之间的夹角a;③利用角度控制器确...

【专利技术属性】
技术研发人员:宋全轩
申请(专利权)人:宋全轩
类型:发明
国别省市:41[中国|河南]

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