传感器数据分布式测量系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种传感器数据分布式测量系统，包括主控上位机及两套硬件测控设备；主控上位机包括主机和主系统网口，每套硬件测控设备均包括控制器及均与控制器相连的传感器信号输入接口、控制信号输出接口、第一分系统网口和第二分系统网口；第二个硬件测控设备的第一分系统网口连接第一个硬件测控设备的第二分系统网口，第二个硬件测控设备的第二分系统网口为扩展网口，第一个硬件测控设备的第一分系统网口连接上位机的主系统网口。用于测控点多且分散、测控点与主测控室距离较远的控制及高速采样应用场景，具有控制稳定性高、采样率高、小型化、扩展性好、可移动等特点。

【技术实现步骤摘要】
传感器数据分布式测量系统
本技术属于控制测量设备
，具体涉及一种传感器数据分布式测量系统。
技术介绍
在自动化控制领域，通常使用PLC实现对电机、阀门等的控制，使用基于PXI构架的采集仪器对传感器数据进行高速采集。但是当整套系统中数字和模拟量控制点、传感器测点不断增多，且分布不集中。各控制点、测点离主控室较远的情况下，若分别采用两套系统应用于控制和测量，则随着测控点不断增加，模拟线缆数量及长度的增长，电缆成本急剧增加，施工难度增加，维护性和扩展性急剧下降。因此需要一种测控系统同时实现控制及高速采集功能，适用于测控点数量多且分散、各点与主测控室距离较远的高速采样应用场景的自动化分布式测控系统。
技术实现思路
本技术的目的就是针对上述技术的不足，提供一种可靠性高、采样率高、扩展性好且方便移动的传感器数据分布式测量系统。为实现上述目的，本技术所设计的传感器数据分布式测量系统，包括主控上位机及两套Compact-RIO硬件测控设备；主控上位机包括主机和主系统网口，每套Compact-RIO硬件测控设备均包括Compac本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种传感器数据分布式测量系统，其特征在于：包括主控上位机(1)及两套Compact-RIO硬件测控设备(2)；主控上位机(1)包括主机(1.1)和主系统网口(1.2)，每套Compact-RIO硬件测控设备(2)均包括Compact-RIO控制器(2.1)及均与Compact-RIO控制器(2.1)相连的传感器信号输入接口(2.2)、Compact-RIO控制信号输出接口(2.3)、第一分系统网口(2.4)和第二分系统网口(2.5)；/n其中，第二个Compact-RIO硬件测控设备(2)的第一分系统网口(2.4)连接第一个Compact-RIO硬件测控设备(2)的第二分系统网口(2.5)...

【技术特征摘要】
1.一种传感器数据分布式测量系统，其特征在于：包括主控上位机(1)及两套Compact-RIO硬件测控设备(2)；主控上位机(1)包括主机(1.1)和主系统网口(1.2)，每套Compact-RIO硬件测控设备(2)均包括Compact-RIO控制器(2.1)及均与Compact-RIO控制器(2.1)相连的传感器信号输入接口(2.2)、Compact-RIO控制信号输出接口(2.3)、第一分系统网口(2.4)和第二分系统网口(2.5)；
其中，第二个Compact-RIO硬件测控设备(2)的第一分系统网口(2.4)连接第一个Compact-RIO硬件测控设备(2)的第二分系统网口(2.5)，第二个Compact-RIO硬件测控设备(2)的第二分系统网口(2.5)为扩展网口，第...

【专利技术属性】
技术研发人员：周东来，陈龙，龙鑫畅，余峰，邹云，
申请(专利权)人：武汉三江航天远方科技有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42