一种用于测量玉米穗轴硬度的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术设计了一种用于测量玉米穗轴硬度的装置，包括测量盒、加压钉和加压板，加压钉设置在测量盒顶端，加压板设置在测量盒内，测量盒呈立方体状，测量盒上设置有贯穿测量盒两侧的测量孔，测量孔两侧内壁面上均设置有两条滑轨，测量盒顶部上端面上设置有螺纹孔、数显屏、电源开关和测量开关，内部设置有单片机和电池，下端面对称设置有红外测距传感器。本实用新型专利技术对玉米穗轴的硬度进行量化，方便测量、研究玉米穗轴的硬度与研究玉米穗腐病的关系，可避免测量玉米硬度时玉米穗轴转动，保证测量结果的准确性，装置结构、测量原理简单，使用红外测距传感器测量加压板对玉米穗轴产生的形变距离的不同来得出硬度数据，简单易用。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量玉米穗轴硬度的装置
本技术涉及农业测量器械
，具体涉及一种用于测量玉米穗轴硬度的装置。
技术介绍
玉米穗腐病是一个与人类健康关系密切的玉米病害。全世界各地玉米生产地区都有发生，这个病害的真菌复合体可以产生几种真菌毒素，如黄曲霉菌和伏马菌素等影响人和动物健康的化学物质。玉米果穗及籽粒均可受害，被害果穗顶部或中部变色，并出现粉红色、蓝绿色、黑灰色或暗褐色、黄褐色霉层，即病原蓖的菌体、分生孢子梗和分生孢子。病粒无光泽，不饱满，质脆，内部空虚，常为交织的菌丝所充塞。果穗病部苞叶常被密集的菌丝贯穿，黏结在一起贴于果穗上不易剥离，仓贮玉米受害后，粮堆内外则长出疏密不等，各种颜色的菌丝和分生孢子，并散出发霉的气味。玉米成熟以后在地里长时间不收会增加粒腐病的发生。秋后成熟期多雨会导致玉米的颗粒染病。玉米粒没有晒干、入库时含水量偏高、以及贮藏期仓库密封不严，库内温度升高也利于各种霉菌腐生蔓延，引起玉米粒腐烂或发霉。根据研究显示玉米穗腐病的病发率与玉米穗轴的硬度有关，玉米穗轴的硬度越高，与越不容易发生玉米穗腐病，因此需要设计一种能够测量玉本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测量玉米穗轴硬度的装置，其特征在于：包括测量盒、加压板和加压钉，/n所述测量盒呈立方体状；所述测量盒具有贯穿其两侧的测量孔以放入玉米穗轴，所述测量孔上端面为矩形，下端面为半圆形；所述测量盒顶部开设有螺纹孔；所述测量盒顶部上端面安装有数字显示屏、电源开关和测量开关；所述测量盒顶部下端面安装有两个相对称的红外测距传感器；所述测量盒顶部内空间放置有单片机和电池；/n所述加压板滑动安装在所述测量孔内；/n所述加压钉与所述螺纹孔螺纹连接以对所述加压板旋转加压；/n所述单片机分别与所述红外测距传感器、所述数字显示屏、所述电源开关、所述测量开关和所述电池电性连接。/n

【技术特征摘要】
20201016 CN 20202231084011.一种用于测量玉米穗轴硬度的装置，其特征在于：包括测量盒、加压板和加压钉，
所述测量盒呈立方体状；所述测量盒具有贯穿其两侧的测量孔以放入玉米穗轴，所述测量孔上端面为矩形，下端面为半圆形；所述测量盒顶部开设有螺纹孔；所述测量盒顶部上端面安装有数字显示屏、电源开关和测量开关；所述测量盒顶部下端面安装有两个相对称的红外测距传感器；所述测量盒顶部内空间放置有单片机和电池；
所述加压板滑动安装在所述测量孔内；
所述加压钉与所述螺纹孔螺纹连接以对所述加压板旋转加压；
所述单片机分别与所述红外测距传感器、所述数字显示屏、所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：番兴明，蒋辅燕，毕亚琪，
申请(专利权)人：云南省农业科学院粮食作物研究所，
类型：新型
国别省市：云南;53