【技术实现步骤摘要】
一种磁粉探伤机的多芯单片机间数据校验电路及其系统
本专利技术涉及检测
，具体是一种磁粉探伤机的多芯单片机间数据校验电路及其系统。
技术介绍
磁粉探伤机经常需要周向和纵向电流进行同时磁化，需要极高的实时性，在开发的时候多采用三芯单片机。目前，三片单片机间的通信有许多种，由于磁粉探伤机在磁化时对时序要求过高，经常采用并行通信的方法，提高通信速度。在数据传输过程中，不可避免的是出现传输误差，采用奇偶校验要牺牲一半的数据容量，不适合探伤机的多单片机间传输数据的效验；采用CRC效验却无法对单一数据进行效验，无法保证实时的单个数据是否出错，不能满足磁粉探伤机这种实时性要求高的场合。所以，人们需要一种磁粉探伤机的多芯单片机间数据校验电路来解决上述问题。
技术实现思路
专利技术目的：本专利技术目的在于针对现有技术，提供一种磁粉探伤机的多芯单片机间数据校验电路及其系统解决的数据校验实时性要求高问题。技术方案：本专利技术所述一种磁粉探伤机的多芯单片机间数据校验电路，包括与触摸屏通信和处理电流检测信号的主单片机、...
【技术保护点】
1.一种磁粉探伤机的多芯单片机间数据校验电路，对传输中的数据采用硬件校验，其特征在于：包括与触摸屏通信和处理电流检测信号的主单片机、分别控制周向、纵向电流磁化工作的第一次级单片机、第二次级单片机，还包括异或门、或门、第一电阻、第二电阻、第五电阻、第六电阻、第一二极管、第二二极管、第一三极管、第二三极管、第一蜂鸣器和第二蜂鸣器；/n所述主单片机与第一次级单片机相连，传输第一完全数据和用于校验的第一完全数据的第一输幅值校验位数据；所述主单片机与第二次级单片机相连，传输第二完全数据和用于检验第二完全数据的第二幅值校验位数据；所述主单片机还通过IIC通信传输冗余电流参数数据；/n所...
【技术特征摘要】
1.一种磁粉探伤机的多芯单片机间数据校验电路，对传输中的数据采用硬件校验，其特征在于：包括与触摸屏通信和处理电流检测信号的主单片机、分别控制周向、纵向电流磁化工作的第一次级单片机、第二次级单片机，还包括异或门、或门、第一电阻、第二电阻、第五电阻、第六电阻、第一二极管、第二二极管、第一三极管、第二三极管、第一蜂鸣器和第二蜂鸣器；
所述主单片机与第一次级单片机相连，传输第一完全数据和用于校验的第一完全数据的第一输幅值校验位数据；所述主单片机与第二次级单片机相连，传输第二完全数据和用于检验第二完全数据的第二幅值校验位数据；所述主单片机还通过IIC通信传输冗余电流参数数据；
所述主单片机、第一次级单片机与异或门相连，将第一完全数据和第一幅值校验位数据送入异或门校验，各数据输出、合并并送至或门，第一完全数据和第二幅值校验位数据之间的差异使得异或门和或门输出高电平；所述异或门、或门与第一电阻和第二电阻相连，第一电阻和第二电阻与第一二极管相连，第一二极管和第一三极管相连，第一三极管和第一蜂鸣器相连，高电平驱动第一二极管和第一三极管点亮、第一蜂鸣器蜂鸣，发出报警信息；所述第一次级单片机对高电平做出反馈，接收主单片机通过IIC通信传输的冗余电流参数数据，直至数据正常；
所述主单片机、第二次级单片机与异或门相连，将第二完全数据和第二幅值校验位数据送入异或门校验，各数据输出、合并并送至或门，第二完全数据和第二幅值校验位数据之间的差异使得异或门和或门输出高电平；所述异或门、或门与第五电阻和第六电阻相连，第五电阻和第六电阻与第二二极管相连，第二二极管和第二三极管相连，第二三极管和第二蜂鸣器相连，高电平驱动第二二极管和第二三极管点亮、第二蜂鸣器蜂鸣，发出报警信息；所述第二次级单片机对高电平做出反馈，接收主单片机通过IIC通信传输的冗余电流参数数据，直至数据正常。
2.根据权利要求1所述的一种磁粉探伤机的多芯单片机间数据校验电路，其特征在于：所述主单片机F端口的第0～15个引脚与第一次级单片机F端口的第0～15个引脚相连，所述主单片机C端口第0～7个引脚...
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