【技术实现步骤摘要】
一种测量绝对重力和微重力的装置和方法
本专利技术涉及绝对重力和微重力的测量
，尤其涉及一种测量绝对重力和微重力的装置和方法。
技术介绍
目前，精密的绝对重力测量技术在地球科学研究、资源勘探、地震预测、重力场导航和导弹制导等各个领域中有应用广泛，而且，微重力测量也是空间科学与应用中的重要课题，但是，目前的绝对重力仪产品只能进行地表环境中的绝对重力的测量，而静电悬浮加速度计只能进行微重力环境中的加速度测量，没有能兼顾测量绝对重力和微重力的装置。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供了一种测量绝对重力和微重力的装置和方法。本专利技术的一种测量绝对重力和微重力的装置的技术方案如下：包括芯片、第一角锥棱镜、用于驱动所述第一角锥棱镜做自由落体运动的音圈电机，以及依次排列布置的第一非偏振分束立方、第二非偏振分束立方和第一硅探测器；所述第一非偏振分束立方将接收到激光进行分束后，分别射至所述第一角锥棱镜和所述第二非偏振分束立方，所述第一角锥棱镜将接收到的激光反射...
【技术保护点】
1.一种测量绝对重力和微重力的装置，其特征在于，包括芯片、第一角锥棱镜、用于驱动所述第一角锥棱镜做自由落体运动的音圈电机，以及依次排列布置的第一非偏振分束立方、第二非偏振分束立方和第一硅探测器；/n所述第一非偏振分束立方将接收到激光进行分束后，分别射至所述第一角锥棱镜和所述第二非偏振分束立方，所述第一角锥棱镜将接收到的激光反射至所述第二非偏振分束立方，所述第二非偏振分束立方将接收到的两束激光进行合束后射至所述第一硅探测器，当所述音圈电机驱动所述第一角锥棱镜做自由落体运动时，所述第一硅探测器按照时间顺序采集多个电压值；/n所述芯片用于根据所述第一硅探测器按照时间顺序所采集多个...
【技术特征摘要】
1.一种测量绝对重力和微重力的装置，其特征在于，包括芯片、第一角锥棱镜、用于驱动所述第一角锥棱镜做自由落体运动的音圈电机，以及依次排列布置的第一非偏振分束立方、第二非偏振分束立方和第一硅探测器；
所述第一非偏振分束立方将接收到激光进行分束后，分别射至所述第一角锥棱镜和所述第二非偏振分束立方，所述第一角锥棱镜将接收到的激光反射至所述第二非偏振分束立方，所述第二非偏振分束立方将接收到的两束激光进行合束后射至所述第一硅探测器，当所述音圈电机驱动所述第一角锥棱镜做自由落体运动时，所述第一硅探测器按照时间顺序采集多个电压值；
所述芯片用于根据所述第一硅探测器按照时间顺序所采集多个电压值得到绝对重力或微重力。
2.根据权利要求1所述的一种测量绝对重力和微重力的装置，其特征在于，还包括第二角锥棱镜，以及依次排列布置的第三非偏振分束立方、第四非偏振分束立方、第五非偏振分束立方和第二硅探测器；
所述第三非偏振分束立方将接收到的激光进行分束，得到第一反射光和第一透射光，其中，所述第一反射光射至所述第一非偏振分束立方，所述第一透射光射至所述第四非偏振分束立方；
所述第四非偏振分束立方将所述第一透射光进行分束，得到第四反射光和第五透射光，其中，所述第四反射光射至所述第二角锥棱镜，所述第五透射光射至所述第五非偏振分束立方；
所述第二角锥棱镜将所述第四反射光进行反射，得到射至所述第五非偏振分束立方的第五反射光，所述第五非偏振分束立方将所述第五透射光和所述第五反射光进行合束后射至所述第二硅探测器，得到用于监测所述第三非偏振分束立方所接收到的激光的相干性的多个监测电压值。
3.根据权利要求2所述的一种测量绝对重力和微重力的装置，其特征在于，还包括水平液面部件和可变光阑，所述第一角锥棱镜反射至所述第二非偏振分束立方的激光还通过所述可变光阑射至所述水平液面部件的水平液面，当该激光原路返回时，则确定所述第一角锥棱镜的自由落体运动时的方向与真实的重力场方向一致。
4.根据权利要求3所述的一种测量绝对重力和微重力的装置，其特征在于，还包括安装面垂直度调节机构，所述安装面垂直度调节机构用于对光路空间姿态进行调节，以使所述第一角锥棱镜反射至所述第二非偏振分束立方的激光通过所述可变光阑射至所述水平液面部件的水平液面，并由所述水平液面反射的激光沿入射方向原路返回。
5.根据权利要求4所述的一种测量绝对重力和微重力的装置，其特征在于，还包括激光器和扩束器，所述激光器发射初始激光至所述扩束器，所述扩束器对所述初始激光进行扩束后得到扩束激光，并将所述扩束激光射至所述第三非偏振分束立方。
6.根据权利要求5所述的一种测量绝对重力和微重力的装置，其特征在于，还包括用于提...
【专利技术属性】
技术研发人员：李楠，董文博，何建国，段文祥，葛文琦，
申请(专利权)人：中国科学院空间应用工程与技术中心，
类型：发明
国别省市：北京;11
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