一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构制造技术

本实用新型专利技术提供了一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构，包括晶体定位座、探针对位校准座、测试头和分度盘，所述晶体定位座、探针对位校准座底部均固定连接至分度盘边缘处，分度盘中部转动连接测试组件，测试组件一侧固定连接测试头，测试头位于晶体定位座、探针对位校准座的顶部，分度盘底部设有固定座，固定座一侧固定连接一个外部相机。本实用新型专利技术所述的一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构，结构简单，设计合理，其晶体定位座、探针对位校准座、测试头和分度盘可以通过相机拍摄和系统校准精准对位代替肉眼观察定位功能，不仅提高了测试定位精度，而且成本低廉，经济实用，易于操作，适于推广。

【技术实现步骤摘要】
一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构
本技术属于石英晶体
，尤其是涉及一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构。
技术介绍
近年来，由于人工石英晶体合成技术生产工艺的迅速发展，生产成本大幅度下降，使晶体的应用深入每个家庭。如：石英钟表、彩电、计算机、数码产品、儿童玩具等。计算机和微处理机不仅广泛地应用于石英晶体的设计和分析，而且正在广泛用于生产和参数设置系统，这不仅提高了生产效率，更重要的是改进了产品质量，提高了测试精度，并为加速产品的发展提供优越的条件。而现有设备结构不便于晶体测试时精准对位确认功能，例如：用手工分选晶体，熟练工人才达1000～2000颗/小时，且不良率高；传统的4路测试设备使用2张测试板卡的速度是6000颗/小时，我们的旋转测试组件在4路测试设备上使用2张测试板卡可以达到9000颗/小时左右的产能，大大提高了生产效率。
技术实现思路
有鉴于此，本技术旨在提出一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构，以解决现有技术的不足。为达到上述目的，本技术的技术方案是这样实现的：<br>一种用于四头高本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构，其特征在于：包括晶体定位座(1)、探针对位校准座(2)、测试头(3)和分度盘(4)，所述晶体定位座(1)、探针对位校准座(2)底部均固定连接至分度盘(4)边缘处，分度盘(4)中部转动连接测试组件(5)，测试组件(5)一侧固定连接测试头(3)，测试头(3)位于晶体定位座(1)、探针对位校准座(2)的顶部，分度盘(4)底部设有固定座，固定座一侧固定连接一个外部相机，且晶体定位座(1)远离分度盘(4)一侧、探针对位校准座(2)远离分度盘(4)一侧均位于外部相机的视野范围内。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构，其特征在于：包括晶体定位座(1)、探针对位校准座(2)、测试头(3)和分度盘(4)，所述晶体定位座(1)、探针对位校准座(2)底部均固定连接至分度盘(4)边缘处，分度盘(4)中部转动连接测试组件(5)，测试组件(5)一侧固定连接测试头(3)，测试头(3)位于晶体定位座(1)、探针对位校准座(2)的顶部，分度盘(4)底部设有固定座，固定座一侧固定连接一个外部相机，且晶体定位座(1)远离分度盘(4)一侧、探针对位校准座(2)远离分度盘(4)一侧均位于外部相机的视野范围内。


2.根据权利要求1所述的一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构，其特征在于：所述晶体定位座(1)包括从上至下依次设置的四工位陶瓷片(11)、四工位陶瓷片垫板(12)、定位底座(13)和2个定位柱(14)，定位底座(13)顶部顶部销钉连接四工位陶瓷片垫板(12)，四工位陶瓷片垫板(12)顶部销钉连接四工位陶瓷片(11)，四工位陶瓷片(11)顶部远离分度盘(4)一侧位于外部相机的视野范围内，四工位陶瓷片(11)底部通过四工位陶瓷片垫板(12)销钉连接至定位底座(13)，定位底座(13)底部固设2个定位柱(14)，定位底座(13)通过定位柱(14)固定至分度盘(4)。


3.根据权利要求2所述的一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构，其特征在于：所述四工位陶瓷片(11)上分别开设有2个一号销钉孔(112)、2个一号销钉槽(113)和4个放置槽(111)，所述四工位陶瓷片垫板(12)分别开设有2个二号销钉孔和2个三号销钉孔，所述定位底座(13)分别开设有2个四号销钉孔和2个五号销钉孔，4个放置槽(111)呈线形结构，4个放置槽(111)的两侧分别设有1个一号销钉孔(112)和一个一号销钉槽(113)，每个一号销钉孔(112)内均设有1个一号...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘贵枝，陈桂东，胡聪，
申请(专利权)人：天津必利优科技发展有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12