本发明专利技术提供位置检测信号的校正方法和位置检测装置。位置检测装置是用于检测能够在规定的可动范围内移动的检测对象物的位置的装置。该位置检测装置包括：以随着上述检测对象物的移动而一体地移动的方式配置的第一磁体和第二磁体；配置在可动范围外的位置的、检测第一磁体的磁场的第一磁检测电路和检测第二磁体的磁场的第二磁检测电路；以及差分放大器，其将从第一磁检测电路和第二磁检测电路输出的磁场的检测信号之差放大，作为检测对象物的位置检测信号输出。的位置检测信号输出。的位置检测信号输出。
【技术实现步骤摘要】
位置检测信号的校正方法和位置检测装置
[0001]本专利技术涉及使用磁传感器的位置检测信号的校正方法和位置检测装置。
技术介绍
[0002]近年来，具有磁传感器的位置检测装置被应用于各种用途。例如，在美国专利申请公开第2016/0231528号说明书(以下称为专利文献1)和美国专利申请公开第2018/0046063号说明书(以下称为专利文献2)中记载有位置检测装置，该位置检测装置内置于智能手机，在具有自动对焦机构的摄像模块中使用磁传感器检测镜头的位置。专利文献1和2中记载的位置检测装置具有用于使镜头移动的已固定的驱动磁体、与镜头一起移动的感测磁体、以及被施加合成磁场的磁传感器，该合成磁场是由驱动磁体生成的驱动磁场和由感测磁体生成的感测磁场的合成磁场。在这样的结构中，磁传感器中的感测磁场的大小根据该磁传感器与镜头的距离而变化，合成磁场的方向随之变化。因此，通过用磁传感器测量该合成磁场的方向的变化，能够检测镜头的位置。
[0003]另外，在日本专利第6517302号(以下称为专利文献3)中记载有位置检测装置，在对磁传感器施加了上述驱动磁场和感测磁场以外的外部磁场(噪声磁场)的情况下，该位置检测装置也能够高精度地检测镜头的位置。专利文献3中记载的位置检测装置具有与镜头一起移动的多个感测磁体和分别与该多个感测磁体对应地配置的多个磁传感器，通过将由该多个磁传感器测量出的检测结果相加来降低噪声磁场的影响。
[0004]此外，在专利文献1～3中，提出了设置多个磁传感器以减少施加到磁传感器的噪声磁场的影响的结构，但只要是具有一组感测磁体和磁传感器的结构，就能够检测镜头的位置。
[0005]近年来，在摄像模块中有具有用于减轻因手抖引起的图像或影像的模糊(混乱)的手抖校正功能的模块。作为手抖校正，已知有电子式手抖校正和光学式手抖校正。电子式手抖校正是通过对所拍摄的图像或影像本身进行信号处理来校正手抖的方式。因此，在摄像模块中组装光学式手抖校正(以下称为OIS(Optical Image Stabilizer：光学图像稳定器))。OIS是当由陀螺仪传感器等探测到摄像机的手抖时，通过使图像传感器或镜头向与该手抖方向相反的方向移动来减轻该手抖的方式。利用OIS使图像传感器或镜头移动的方向，例如是与该图像传感器和镜头的光轴正交的方向。OIS也存在使图像传感器或镜头以与该光轴正交的轴为中心旋转的结构。
[0006]然而，在具有使镜头移动的OIS机构和自动对焦机构的摄像模块中，当使用OIS机构使镜头移动时，上述感测磁体也与自动对焦机构的位置的检测对象物即镜头一起移动。通常，磁传感器固定于规定的位置，因此当用OIS使感测磁体移动时，磁传感器与感测磁体的位置关系变化。在该情况下，施加到磁传感器的合成磁场的方向也因OIS而变化，因此不能用磁传感器准确地检测出镜头的位置。上述专利文献1～3没有给出任何用于减轻由OIS引起的使用磁传感器的位置检测精度的降低的方法。
技术实现思路
[0007]本专利技术是为了解决如上述那样的
技术介绍
中存在的技术问题而完成的，其目的在于，提供即使磁传感器与感测磁体的位置关系变动，也能够高精度地检测对象物的位置的位置检测信号的校正方法和位置检测装置。
[0008]为了实现上述目的，本专利技术的位置检测信号的校正方法用于将检测对象物的第一方向上的位置检测信号根据上述检测对象物向第二方向的移动进行校正，其中上述检测对象物在上述第一方向和与上述第一方向正交的第二方向上分别能够在规定的可动范围内移动，其中，
[0009]以随着上述检测对象物的移动而一体地移动的方式配置第一磁体和第二磁体，
[0010]将检测上述第一磁体的磁场的第一磁检测电路和检测上述第二磁体的磁场的第二磁检测电路分别配置在上述第一方向上的上述可动范围外的位置，
[0011]将从上述第一磁检测电路和上述第二磁检测电路输出的磁场的检测信号之差用差分放大器放大，作为上述第一方向上的上述检测对象物的校正后的位置检测信号输出。
[0012]另一方面，本专利技术的位置检测装置用于检测能够在规定的可动范围内移动的检测对象物的位置，上述位置检测装置包括：
[0013]以随着上述检测对象物的移动而一体地移动的方式配置的第一磁体和第二磁体；
[0014]配置在上述可动范围外的位置的、检测上述第一磁体的磁场的第一磁检测电路和检测上述第二磁体的磁场的第二磁检测电路；以及
[0015]差分放大器，其将从上述第一磁检测电路和上述第二磁检测电路输出的磁场的检测信号之差放大，作为上述检测对象物的位置检测信号输出。
[0016]根据对本专利技术的例子进行说明的、参照附图的后述的记载，能够明确本专利技术的上述及其它目的、特征和优点。
附图说明
[0017]图1是表示包括本专利技术的位置检测装置的摄像模块的一个结构例的立体图。
[0018]图2是表示图1所示的摄像模块的内部的侧截面图。
[0019]图3是表示图1所示的第一磁传感器和第二磁传感器的一个结构例的电路图。
[0020]图4是表示位置检测装置所具有的两组感测磁体和磁传感器的配置例的立体图，
[0021]图5A是表示图4所示的磁传感器的输出电压的模拟结果的曲线图。
[0022]图5B是表示图4所示的磁传感器的输出电压的模拟结果的曲线图。
[0023]图5C是表示图4所示的磁传感器的输出电压的模拟结果的曲线图。
[0024]图6A是表示图4所示的磁传感器的输出电压的模拟结果的曲线图。
[0025]图6B是表示图4所示的磁传感器的输出电压的模拟结果的曲线图。
[0026]图6C是表示图4所示的磁传感器的输出电压的模拟结果的曲线图。
[0027]图7A是表示图4所示的磁传感器的输出电压的模拟结果的曲线图。
[0028]图7B是表示图4所示的磁传感器的输出电压的模拟结果的曲线图。
[0029]图7C是表示图4所示的磁传感器的输出电压的模拟结果的曲线图。
[0030]图8A是表示图4所示的磁传感器的输出电压的模拟结果的曲线图。
[0031]图8B是表示图4所示的磁传感器的输出电压的模拟结果的曲线图。
[0032]图8C是表示图4所示的磁传感器的输出电压的模拟结果的曲线图。
[0033]图9是表示本实施方式的位置检测信号的测量电路的一个例子的电路图。
[0034]图10是表示本实施方式的位置检测信号的测量电路的另一个例子的电路图。
具体实施方式
[0035]下面，使用附图，对本专利技术进行说明。
[0036]首先，使用图1和图2，对包括本专利技术的位置检测装置的摄像模块的结构进行说明。图1是表示包括本专利技术的位置检测装置的摄像模块的一个结构例的立体图，图2是表示图1所示的摄像模块的内部的侧截面图。此外，图2以与图1不同的尺寸和配置表示摄像模块100所具有的各构成要素。图1和图2所示的摄像模块100构成例如具有使镜头移动的OIS机构和自动对焦机本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种位置检测信号的校正方法，其特征在于：用于将检测对象物的第一方向上的位置检测信号根据所述检测对象物向第二方向的移动进行校正，其中所述检测对象物在所述第一方向和与所述第一方向正交的第二方向上分别能够在规定的可动范围内移动，以随着所述检测对象物的移动而一体地移动的方式配置第一磁体和第二磁体，将检测所述第一磁体的磁场的第一磁检测电路和检测所述第二磁体的磁场的第二磁检测电路分别配置在所述第一方向上的所述可动范围外的位置，将从所述第一磁检测电路和所述第二磁检测电路输出的磁场的检测信号之差用差分放大器放大，作为所述第一方向上的所述检测对象物的校正后的位置检测信号输出。2.如权利要求1所述的位置检测信号的校正方法，其特征在于：将所述第一磁检测电路和所述第二磁检测电路并联连接，从共用的恒流源对所述第一磁检测电路和所述第二磁检测电路供给直流电流。3.如权利要求1所述的位置检测信号的校正方法，其特征在于：将所述第一磁检测电路和所述第二磁检测电路并联连接，从共用的恒压源对所述第一磁检测电路和所述第二磁检测电路供给直流电压。4.如权利要求1所述的位置检测信号的校正方法，其特征在于：所述第一磁检测电路具有串联连接的第一磁阻效应元件和第二磁阻效应元件，从所述第一磁阻效应元件与所述第二磁阻效应元件的连接点输出所述磁场的检测信号，所述第二磁检测电路具有串联连接的第三磁阻效应元件和第四磁阻效应元件，从所述第三磁阻效应元件与所述第四磁阻效应元件的连接点输出所述磁场的检测信号，所述第一磁阻效应元件、所述第二磁阻效应元件、所述第三磁阻效应元件和所述第四磁阻效应元件分别包括磁化方向与外部磁场无关而是一定的固定层和磁化方向根据外部磁场而变化的自由层，所述第二方向上的所述第一磁体的磁化方向与所述第二磁体的磁化方向相反，所述第一磁阻效应元件和所述第三磁阻效应元件中的所述固定层的磁化方向，与所述第二磁阻效应元件和所述第四磁阻效应元件中的所述固定层的磁化方向相同。5.如权利要求1所述的位置检测信号的校正方法，其特征在于：所述第一磁体和所述第二磁体配置在施加到所述第一磁检测电路和...
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡永福，平林启，一桥秀辅，
申请(专利权)人：TDK株式会社，
类型：发明
国别省市：
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