本申请适用于芯片设计领域，提供了一种用例参数生成方法及装置，便于验证平台的维护。该方法包括：获取目标用例的约束信息，约束信息包括至少一个约束参数的约束条件，至少一个约束参数为目标用例的用例参数集中需要约束的随机参数；将约束信息输入共用随机参数发生函数中，生成用例参数集中的每个用例参数的参数值；其中，共用随机参数发生函数中预设有每个用例参数的随机条件，至少一个约束参数的参数值是根据约束条件生成的约束值，用例参数集中除至少一个约束参数外的剩余参数的参数值是根据剩余参数的对应的随机条件生成的随机值，共用随机参数发生函数是包含目标用例在内的多个用例共用的随机参数发生函数。的多个用例共用的随机参数发生函数。的多个用例共用的随机参数发生函数。
【技术实现步骤摘要】
一种用例参数生成方法及装置
[0001]本申请属于芯片测试领域，尤其涉及一种用例参数生成方法及装置。
技术介绍
[0002]在芯片设计领域中，为了保证芯片的各个功能能够正常运行，往往需要通过验证平台来测试芯片的各个功能。其中，验证平台一般包括多个用例，每个用例对应于芯片的一个功能，芯片设计所涉及到的各项参数构成该多个用例的用例参数集。因此，每个用例对应该用例参数集中的一个或多个参数，通过约束该一个或多个参数(我们称为该用例的约束参数)使得该用例能够实现相应的功能。
[0003]目前，由于每个用例的约束参数不同，因此，验证平台中的每个用例都设置有一个专用的随机参数发生函数。然而，随着芯片设计越来越复杂，功能越来越丰富，验证平台的用例以及用例参数也越来越多。当芯片的硬件规格发生变化或者在验证过程中发现某个随机参数的取值范围需要调整时，往往需要逐个修改每个专用的随机参数发生函数中对应的随机条件，导致工作量大，不利于维护。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供了一种用例参数生成方法，可以解决现有技术中，当修改某个随机参数的随机条件时，需要修改所有专用的随机参数发生函数，从而导致工作量大且不易于维护问题。
[0005]为解决上述问题，本申请实施例提供了一种用例参数生成方法，包括：获取目标用例的约束信息，所述约束信息包括至少一个约束参数的约束条件，所述至少一个约束参数为用例参数集中所述目标用例需要约束的参数；将所述约束信息输入共用随机参数发生函数中，生成所述用例参数集中的每个用例参数的参数值；其中，所述共用随机参数发生函数中预设有所述每个用例参数的随机条件，所述至少一个约束参数的参数值是根据所述约束条件生成的约束值，所述用例参数集中除所述至少一个约束参数外的剩余参数的参数值是根据所述剩余参数的对应的随机条件生成的随机值，所述共用随机参数发生函数是包含所述目标用例在内的多个用例共用的随机参数发生函数。
[0006]在本申请实施例中，采用共用随机参数发生函数实现目标用例的用例参数的生成。该共用随机参数发生函数中包括用例参数集中所有用例参数的随机条件，因此可以为所有用例生成用例参数，而无需为每个用例部署专用的随机参数发生函数。那么，当某个用例参数的随机条件需要改变时，只需要修改共用随机参数发生函数中对应的随机条件，而无需对每个用例进行修改，避免了巨大的工作量和修改时出现错误的风险。且，当增加用例时，仅需在用例文件中增加对应的约束信息，而不需要单独写一个专用的随机参数发生函数，极大的提升了验证平台的维护效率。
[0007]可选的，共用随机参数发生函数中采用std::randomize函数实现分步生成参数值。
[0008]基于std::randomize函数实现分步生成参数值，便于模拟用例参数之间的依赖关系，并简化了尝试的过程，提高了效率，并避免了由于尝试时间过长而导致超时，并进一步导致生成失败的问题。
[0009]第二方面，本申请提供一种用例参数生成装置，包括：
[0010]获取单元，用于获取目标用例的约束信息，所述约束信息包括至少一个约束参数的约束条件，所述至少一个约束参数为用例参数集中所述目标用例需要约束的参数；
[0011]生成单元，用于将所述约束信息输入共用随机参数发生函数中，生成所述用例参数集中的每个用例参数的参数值；其中，所述共用随机参数发生函数中预设有所述每个用例参数的随机条件，所述至少一个约束参数的参数值是根据所述约束条件生成的约束值，所述用例参数集中除所述至少一个约束参数外的剩余参数的参数值是根据所述剩余参数的对应的随机条件生成的随机值，所述共用随机参数发生函数是包含所述目标用例在内的多个用例共用的随机参数发生函数。
[0012]第三方面，本专利技术实施例提供一种终端设备，包括处理器、存储器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如第一方面或者第一方面的任一可选方式所述的用例参数生成方法。
[0013]第四方面，本专利技术实施例提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，计算机程序被处理器执行时实现如第一方面或者第一方面的任一可选方式所述的用例参数生成方法。
[0014]第五方面，本专利技术实施例提供一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述第一方面或者第一方面的任一可选方式所述的用例参数生成方法。
[0015]可以理解的是，上述第二方面至第五方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1是现有技术中的验证平台的结构示意图；
[0018]图2是本申请提供的一种验证平台的结构示意图；
[0019]图3是本申请提供的一种用例参数生成方法的一个实施例的流程图；
[0020]图4是本申请提供的一种用例参数生成装置的结构示意图；
[0021]图5是本申请提供的一种终端设备的结构示意图。
具体实施方式
[0022]以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电
路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
[0023]应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0024]在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。
[0025]芯片设计过程中，往往需要借助验证平台对芯片的各项功能进行验证，以确保芯片的设计能够保证各项功能可以实现。验证平台包括用例文件和验证模块。其中，用例文件中包括多个用例，每个用例通过约束芯片的用例本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用例参数生成方法，其特征在于，包括：获取目标用例的约束信息，所述约束信息包括至少一个约束参数的约束条件，所述至少一个约束参数为用例参数集中所述目标用例需要约束的参数；将所述约束信息输入共用随机参数发生函数中，生成所述用例参数集中的每个用例参数的参数值；其中，所述共用随机参数发生函数是包含所述目标用例在内的多个用例共用的随机参数发生函数，所述共用随机参数发生函数中预设有所述每个用例参数的随机条件，所述至少一个约束参数的参数值是根据所述约束条件生成的约束值，所述用例参数集中除所述至少一个约束参数外的剩余参数的参数值是根据所述剩余参数的对应的随机条件生成的随机值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述约束信息还包括每个所述约束参数的配置开关信息，且所述约束参数的配置开关信息为配置指示信息，所述配置指示信息用于指示所述共用随机参数发生函数按照所述约束条件生成所述约束参数的参数值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述共用随机参数发生函数中预设有所述剩余参数的配置开关信息的默认信息，所述默认信息用于指示所述共用随机参数发生函数按照所述随机条件生成所述剩余参数的参数值。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述约束信息输入共用随机参数发生函数中，生成所述用例参数集中的每个用例参数的参数值，包括：将所述约束信息输入所述共用随机参数发生函数中，按照所述共用随机参数发生函数中预设的配置顺序依次生成所述每个用例参数的参数值。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述将所述约束信息输入共用随机参数发生函数中，生成所述用例参数集中的每个用例参数的参数值，包括：将所述约束信息输入共用随机参数发生函数中，按照所述共用随...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡海莽，
申请(专利权)人：深圳云天励飞技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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