高压开关温升试验方法及系统技术方案

技术编号:29054876 阅读:35 留言:0更新日期:2021-06-26 06:24
本发明专利技术涉及一种高压开关温升试验方法及系统,方法包括将待试验的试品部署在试验线路上,为试品提供试验所需的电流进行温升试验;采集试品的温度信息,得到第一温度值;对第一温度值进行修正,得到第二温度值;根据第二温度值和环境温度计算温升值。本发明专利技术对采集到的试品温度进行修正,得到试品的实际温度,利用实际温度计算温升值,能够显著提高试验结果的准确度,克服胶粘材料因耐热性差而导致其热阻会使测量出的温度与实际温度偏低的缺陷。会使测量出的温度与实际温度偏低的缺陷。会使测量出的温度与实际温度偏低的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
高压开关温升试验方法及系统


[0001]本专利技术涉及电力系统大电流温升试验
,尤其是指一种高压开关温升试验方法及系统。

技术介绍

[0002]温升试验是考核电气产品在通其额定工作电流下,其零部件由于电阻损耗而发热(温度升高)是否满足一定要求的试验。温升升高的温度取决于两方面因素:发热和散热。零部件的发热主要原因来源与电阻损耗电能转变成热能,但对于交流的交变磁场产生的涡流损耗和磁滞损耗也是其发热的重要因素。发热与通流I大小、载流导体的截面积S有关,其还与连接件接触面的结合质量有关。散热与试验环境的温度、试验环境的湿度有关,其还与周围的风速有关。
[0003]国标中规定温升试验是高压开关设备的型式试验项目也是强制型的试验项目,国标对于气体绝缘金属封闭式开关设备(GIS)也做出了相关的规定:如果电器产品是三相共箱的产品(及三相共用一个气室)应进行三相温升试验,试验电流在试品的进线端三相上施加,出线端短接。对于三相非共箱或是单相产品只进行单相温升试验即可。大多数单相温升试验电流一般从主导体进线端引入,出线端与外壳相连,电流从主导体进线端流入壳体引出形成回路。
[0004]试品测试点的温度采集绝大部分是由热电偶进行采集,在固定热电偶的热端(即测量端)时,应使其与被测点部件表面之间有良好的热传导,且尽可能不影响测温点的温升。现有技术固定热电偶的方法一般采用胶粘固定法,其具体操作为:首先要把电热偶的测量端用电烙铁焊接上小铜片,0.1

0.2mm大小为最合适,然后在铜片上涂抹胶水,胶水一般选择502胶,小铜片涂胶后压在测试点,等胶水固化粘贴好后再用锡箔纸二次固定。但是由于502胶的耐热性较差,导致其热阻会使测量出的温度与实际温度偏低,从而导致试验结果的准确度较低。

技术实现思路

[0005]为此,本专利技术所要解决的技术问题在于克服现有技术中试验结果准确度较低的缺陷。
[0006]为解决上述技术问题,本专利技术的一个目的是提供一种高压开关温升试验方法,包括:
[0007]将待试验的试品部署在试验线路上,为所述试品提供试验所需的电流进行温升试验;
[0008]采集所述试品的温度信息,得到第一温度值;
[0009]对所述第一温度值进行修正,得到第二温度值;
[0010]根据所述第二温度值和环境温度计算温升值。
[0011]在本专利技术的一个实施例中,所述温升试验包括快速升温阶段和温度稳定阶段。
[0012]在本专利技术的一个实施例中,为所述试品提供试验所需的电流进行温升试验包括:
[0013]预设试验电流和温度预期值,在快速升温阶段时,为所述试品提供大于试验电流的大电流,在温度升高至温度预期值时,将所述大电流调整为试验电流直至温度达到温度预期值且温度处于稳定状态,在温度稳定阶段采集所述试品的温度信息。
[0014]在本专利技术的一个实施例中,将所述大电流调整为试验电流的时间节点为试品当前温度值是温度预期值的75%

85%。
[0015]在本专利技术的一个实施例中,将所述大电流调整为试验电流的时间节点为试品当前温度值是温度预期值的75%。
[0016]在本专利技术的一个实施例中,采集所述试品的温度信息包括:
[0017]使用热电偶采集所述试品的温度信息,所述热电偶测试端的裸露金属长度为2

4mm。
[0018]在本专利技术的一个实施例中,对所述第一温度值进行修正,得到第二温度值,修正公式如下:
[0019]T=αT0[0020]式中,T表示第二温度值,T0表示第一温度值,α表示修正系数。
[0021]在本专利技术的一个实施例中,所述修正系数α的取值为1.025。
[0022]在本专利技术的一个实施例中,根据所述第二温度值和环境温度计算温升值,计算公式如下:
[0023]ΔT=T

T
环境
[0024]式中,ΔT表示温升值,T表示第二温度值,T
环境
表示环境温度。
[0025]本专利技术的另一个目的是提供一种高压开关温升试验系统,包括:
[0026]电流供给模块,将待试验的试品部署在试验线路上,所述电流供给模块用于为所述试品提供试验所需的电流进行温升试验;
[0027]温度采集模块,所述温度采集模块用于采集所述试品的温度信息,得到第一温度值;
[0028]修正模块,所述修正模块用于对所述第一温度值进行修正,得到第二温度值;
[0029]温升计算模块,所述温升计算模块用于根据所述第二温度值和环境温度计算温升值。
[0030]本专利技术的上述技术方案相比现有技术具有以下优点:
[0031]本专利技术对采集到的试品温度进行修正,得到试品的实际温度,利用实际温度计算温升值,能够显著提高试验结果的准确度,克服胶粘材料因耐热性差而导致其热阻会使测量出的温度与实际温度偏低的缺陷。
附图说明
[0032]为了使本专利技术的内容更容易被清楚的理解,下面根据本专利技术的具体实施例并结合附图,对本专利技术作进一步详细的说明,其中
[0033]图1是本专利技术实施例一中一种高压开关温升试验方法的流程示意图。
[0034]图2是本专利技术实施例二中一种高压开关温升试验系统的结构框图。
[0035]附图标记说明:10、电流供给模块;20、温度采集模块;30、修正模块;40、温升计算
模块。
具体实施方式
[0036]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明,以使本领域的技术人员可以更好地理解本专利技术并能予以实施,但所举实施例不作为对本专利技术的限定。
[0037]实施例一
[0038]图1是本专利技术实施例一中一种高压开关温升试验方法的流程示意图。
[0039]请参阅图1所示,本实施例一种高压开关温升试验方法包括以下步骤:
[0040]S100:将待试验的试品部署在试验线路上,为试品提供试验所需的电流进行温升试验。
[0041]示例地,温升试验包括快速升温阶段和温度稳定阶段,在快速升温阶段时,为试品提供大于试验电流的大电流,在温度升高至温度预期值时,将大电流调整为试验电流直至温度达到温度预期值且温度处于稳定状态,在温度稳定阶段采集试品的温度信息,其中试验电流和温度预期值为预先设定值,这里可以根据实际的应用场景自由设定。
[0042]示例地,在快速升温阶段为试品提供大电流用于试品快速升温,使得试品的温度能够在较快的时间内达到预设的温度预期值,如此能够缩短试验时间。但是在实际操作时,温升的显示会有一定的滞后性,即如果在试品当前温度达到温度预期值时才将大电流转换为试验电流,那么在电流转换节点的温度必然是大于温度预期值的,会对试验结果造成一定的干扰。因此本专利技术将大电流调整为试验电流的时间节点为试品当前温度值是温度预期值的75%

85%,在优选的一个方案中,大电流调整为试验电流的时间节点为试品当前温度值是温度预期值的75本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高压开关温升试验方法,其特征在于,包括:将待试验的试品部署在试验线路上,为所述试品提供试验所需的电流进行温升试验;采集所述试品的温度信息,得到第一温度值;对所述第一温度值进行修正,得到第二温度值;根据所述第二温度值和环境温度计算温升值。2.根据权利要求1所述的高压开关温升试验方法,其特征在于:所述温升试验包括快速升温阶段和温度稳定阶段。3.根据权利要求1所述的高压开关温升试验方法,其特征在于:为所述试品提供试验所需的电流进行温升试验包括:预设试验电流和温度预期值,在快速升温阶段时,为所述试品提供大于试验电流的大电流,在温度升高至温度预期值时,将所述大电流调整为试验电流直至温度达到温度预期值且温度处于稳定状态,在温度稳定阶段采集所述试品的温度信息。4.根据权利要求3所述的高压开关温升试验方法,其特征在于:将所述大电流调整为试验电流的时间节点为试品当前温度值是温度预期值的75%

85%。5.根据权利要求4所述的高压开关温升试验方法,其特征在于:将所述大电流调整为试验电流的时间节点为试品当前温度值是温度预期值的75%。6.根据权利要求1所述的高压开关温升试验方法,其特征在于:采集所述试品的温度信息包...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡德霖胡醇赵杰王俊俊曹坚凡海燕徐秀红吴金洲任翔沈晨华毛清春
申请(专利权)人:苏州电器科学研究院股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1