【技术实现步骤摘要】
单片机控制综合参数测试仪本专利技术涉及一种计算机控制综合参数测试仪，尤其是可同时接受传感器输出的电压、电流、电阻或脉冲信号的计算机控制综合参数测试仪。至今已公开的计算机控制综合参数测试仪分工业控制机控制和单片机控制两类，前者抗干扰能力强，但结构复杂，成本高；后者抗干扰能力差，容易死机，显示电路复杂；而且两类综合参数测试仪的测量精度都较低，不能高于传感器的精度。中国专利ZL94247002.8公开了一种多功能单点智能数显温度表，这种温度表对传感器信号采用冷端温度软件补偿法，即通过在单片机内部进行查表运算来实现冷端补偿。这种方法的缺点是所用的数据太多，并且精度无法估算。本专利技术的任务是提供一种单片机控制综合参数测试仪，它能提高测试精度和抗干扰能力，并能简化显示电路。为了解决上述任务，本专利技术的解决方案是：A、单片机中的CPU，对传感器信号yi与单片机A/D读数xi的关系符合离散函数yi＝f(xi)(xi互不相同，i＝0，1，…，m)的传感器系统，给定一个多项式Pm(x)，使在已知结点xi满足yi＝Pm(xi)，面对区间[x0，xm]中其余各点，传感器信号连续函数f...
【技术保护点】
一种单片机控制综合参数测试仪，包括单片机、传感器放大电路、光电隔离电路、显示电路、Ｄ／Ａ电路、复位电路以及声、光报警电路等，其特征在于：Ａ、单片机中的ＣＰＵ，还能对传感器信号ｙ↓［ｉ］与单片机Ａ／Ｄ读数ｘ↓［ｉ］的关系符合离散函数ｙ↓［ ｉ］＝ｆ（ｘ↓［ｉ］）［ｘ↓［ｉ］互不相同，ｉ＝０，１，，…，ｍ］的传感器系统，给定一个多项式Ｐ↓［ｍ］（ｘ），使在已知结点ｘ↓［ｉ］满足ｙ↓［ｉ］＝Ｐ↓［ｍ］（ｘ↓［ｉ］），而对区间［ｘ↓［０］，ｘ↓［ｍ］］中其余各点，传感器信号连续函数ｆ（ｘ）与多项式连续函数Ｐ↓［ｍ］（ｘ）间，使测量误差｜ｆ（ｘ）－Ｐ↓［ｍ］（ｘ）｜符合精度０．...
【技术特征摘要】
1、一种单片机控制综合参数测试仪，包括单片机、传感器放大电路、光电隔离电路、显示电路、D/A电路、复位电路以及声、光报警电路等，其特征在于：A、单片机中的CPU，还能对传感器信号yi与单片机A/D读数xi的关系符合离散函数yi＝f(xi)(xi互不相同，i＝0，1，…，m)的传感器系统，给定一个多项式Pm(x)，使在已知结点xi满足yi＝Pm(x1)，而对区间[x0，xm]中其余各点，传感器信号连续函数f(x)与多项式连续函数Pm(x)间，使测量误差|f(x)-Pm(x)|符合精度0.1％的要求；B、在单片机监视定时器开通的前提下，将单片机的输出管脚P1.0～P1.5和P1.7与整个仪器内需复位的芯片的RST端相连接，当单片机重新启动时，CPU使这些输出管脚产生高电平——延迟——低电平，模拟复位脉冲，能使整机复位，不会出现死机情况；C、光电隔离电路(1)输出端即单片机的A/D输入端与模拟地之间并有电容器C；D、显示电路(2)带有一个并入串出移位寄存器(21)和一组n个级联的串入并出移位寄存器(22)，2n个译码器(23)和2n个数显管(24)，以及计...
【专利技术属性】
技术研发人员：周祝农，周向东，周文胜，官芳英，
申请(专利权)人：周祝农，周向东，周文胜，官芳英，
类型：实用新型
国别省市：91[中国|大连]
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