一种电能表计量方法技术

技术编号:29042661 阅读:34 留言:0更新日期:2021-06-26 05:52
本发明专利技术涉及一种电能表计量方法,包括以下步骤:电能表出厂前其内部的MCU中存储有对全波电流的计量数据进行调校的第一调校系数和对半波电流的计量数据进行调校的第二调校系数;MCU读取并存储计量芯片中的电流波形采样数据,并对该电流波形采样数据进行离散傅里叶变换,并计算出偶数次谐波含量和奇数次谐波含量;之后判断上述偶数次谐波含量否在设定阈值范围内且奇数次谐波含量为0或接近于0的数值;如是,则判定此时为半波电流,调用第二调校系数对电能表计量的电能进行调校;如否,则调用第一调校系数对电能表计量的电能进行调校。本方法中能实现对半波电流的误差调校,提高了电能表计量准确度。能表计量准确度。能表计量准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种电能表计量方法


[0001]本专利技术涉及电能表领域,特别涉及一种电能表计量方法。

技术介绍

[0002]电能表作为标准电能计量器具,计量准确与否关乎电网公司和用电用户的切身利益。随着电力电子技术的广泛应用,用电环境中半波整流电源电路(如:开关电源等)越来越多。
[0003]常规电能表都是针对工频正弦波设计(全波),现有的采样元件也是用于计量全波,目前,常用的采样元件为电流互感器,因此通常情况下都是计量全波的电能表应用到半波电流的用电环境,由于半波电流直流分量导致采样元件(电流互感器)磁饱和,会造成采样元件(电流互感器)输入与输出之间存在相位差,从而会带来计量失准的问题。另外,用电环境还可以是除全波和半波以外的波形,但目前计量全波的电能表并不能完全准确计量出用户的用电电能数据,因此需要进一步改进。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的现状,提供一种计量准确度高的电能表计量方法。
[0005]本专利技术解决上述技术问题所采用的技术方案为:一种电能表计量方法,所述电能表内设置有M本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电能表计量方法,所述电能表内设置有MCU以及与MCU相连接的计量电路,所述计量电路包括计量芯片以及与计量芯片相连接的电流采样模块,其特征在于:所述电能表计量方法包括以下步骤:步骤1、电能表出厂前其内部的MCU中存储有对全波电流的计量数据进行调校的第一调校系数A和对半波电流的计量数据进行调校的第二调校系数B;步骤2、电流采样模块将采样的电流传输至计量芯片中,计量芯片中存储该电流波形采样数据;其中,一个周期内电流采样点数为N,N为正整数;步骤3、MCU读取并存储步骤2中的电流波形采样数据x(n),n=0、1、2...N

1;步骤4、在MCU中对电流波形采样数据x(n)进行离散傅里叶变换,得到离散傅里叶变换后的数据X(k):k为谐波次数,k=0、1、2...N

1;步骤5、根据步骤4中的X(k)计算出偶数次谐波含量q[i]和奇数次谐波含量r[j];i为偶数,j为奇数;i∈k,j∈k;步骤6、判断上述偶数次谐波含量q[i]是否在设定阈值范围内且奇数次谐波含量r[j]为0或接近于0的数值;如是,则判定此时为半波电流,并转入步骤7;如否,则转入步骤8;步骤7、MCU中调用第二调校系数B对电能表计量的电能进行调校,并将调校后的电能数据作为用户实际的用电电能进行保存,并转至步骤9;步骤8、MCU中调用第一调校系数A对电能表计量的电能进行调校,并将调校后的电能数据作为用户实际的用电电能进行保存,并转至步骤9;步骤9、继续采用步骤2~步骤6中相同的方法对下一个周期的电流波形采样数据进行处理,并根据步骤7和步骤8中相同的方法调用调校系数对电能表计量的电能进行调校。2.根据权利要求1所述的电能表计量方法,其特征在于:所述步骤4中X(k)的计算公式为:3.根据权利要求2所述的电能表计量方法,其特征在于:所述步骤5中的具体计算公式为:第k次谐波值Result[k]的计算公式为:其中,real(k)为X(k)的实部,imag(...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘俊胡志刚金海波
申请(专利权)人:宁波三星医疗电气股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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