弱信号的输入检测电路制造技术

本实用新型专利技术属于检测电路技术领域，尤其是涉及弱信号的输入检测电路。光耦合器的1号引脚与电阻三连接后与供电极连接；光耦合器的2号引脚与三极管的集电极连接；三极管的基极与电阻一连接后与弱信号输入端连接；所述的三极管的基极与发射极之间并联有电阻二，且三极管的发射极接地；所述的光耦合器的3号引脚接地；光耦合器的4号引脚分别与信号输出端、电阻四连接，且电阻四的另一端与供电端连接，其中，信号输出端与基础检测电路的输入端连接。它可以把弱的电压信号接到三极管的基极转换成为强的电压信号，就可以实现弱电流控制大电流来驱动TTL芯片，并且可以不影响信号的输入频率。

【技术实现步骤摘要】
弱信号的输入检测电路
本技术属于检测电路
，尤其是涉及弱信号的输入检测电路。
技术介绍
因为测试的需要有时候需要把外部的一些弱电流信号进行检测，又因为信号十分微弱所以容易受到外部影响或者驱动了能力不足造成检测的不去定性；主要就是外部输入的电信号直接输入到TTL电平转换芯片内，在输出相反的电平信号。但是需要注意的是，所输入的低电压信号能不能驱动TTL芯片，如果电流太弱是无法驱动的了的，所以是输出不了低电压的。参看图1，TTLx都是外部输入的信号，如果电流驱动能力不够，就无法在MCU-TTL-IN-X端输出电压。
技术实现思路
为解决现有技术的缺陷和不足问题；本技术的目的在于一种结构简单，设计合理、使用方便的弱信号的输入检测电路,它可以把弱的电压信号接到三极管的基极转换成为强的电压信号，就可以实现弱电流控制大电流来驱动TTL芯片，并且可以不影响信号的输入频率。为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：它包含光耦合器、电阻一到电阻四、三极管、基础检测电路；光耦合器的1号引脚与电阻三连接后与供电极连接；光耦合器的2号引脚与三极管的集电极连接；三极管的基极与电阻一连接后与弱信号输入端连接；所述的三极管的基极与发射极之间并联有电阻二，且三极管的发射极接地；所述的光耦合器的3号引脚接地；光耦合器的4号引脚分别与信号输出端、电阻四连接，且电阻四的另一端与供电端连接，其中，信号输出端与基础检测电路的输入端连接。作为优选，所述的基础检测电路A由TTL芯片、电容一到电容四、电阻十一到十四组成；所述的TTL芯片的各输入端与接地端之间分别并联有电容一、电容二、电容三、电容四；TTL芯片的各输出端分别与电阻十一、电阻十二、电阻十三、电阻十四串联后输出。作为优选，所述的光耦合器的导通速率与输入信号的频率保持匹配。作为优选，所述的TTL芯片为74HC14D单片机。采用上述结构后，本技术有益效果为：它可以把弱的电压信号接到三极管的基极转换成为强的电压信号，就可以实现弱电流控制大电流来驱动TTL芯片，并且可以不影响信号的输入频率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，本技术由下述的具体实施及附图作以详细描述。图1为本技术的
技术介绍
附图；图2为本技术的结构示意图；附图标记说明：光耦合器OP1、电阻一到电阻四R1-R4、三极管Q1。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面通过附图中示出的具体实施例来描述本技术。但是应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本技术的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本技术的概念。在此，还需要说明的是，为了避免因不必要的细节而模糊了本技术，在附图中仅仅示出了与根据本技术的方案密切相关的结构和/或处理步骤，而省略了与本技术关系不大的其他细节。参看如图2所示，本具体实施方式采用以下技术方案：它包含光耦合器OP1、电阻一到电阻四R1-R4、三极管Q1、基础检测电路A；光耦合器OP1的1号引脚与电阻三R3连接后与供电极SVCC1连接；光耦合器OP1的2号引脚与三极管Q1的集电极连接；三极管Q1的基极与电阻一R1连接后与弱信号输入端连接；所述的三极管Q1的基极与发射极之间并联有电阻二R2，且三极管Q1的发射极接地；所述的光耦合器OP1的3号引脚接地；光耦合器OP1的4号引脚分别与信号输出端、电阻四R4连接，且电阻四R4的另一端与供电端SVCC33连接，其中，信号输出端与基础检测电路A的输入端连接。其中，所述的基础检测电路A由TTL芯片U1、电容一到电容四C1-C4、电阻十一到十四R11-R14组成；所述的TTL芯片U1的各输入端与接地端之间分别并联有电容一C1、电容二C2、电容三C3、电容四C4；TTL芯片U1的各输出端分别与电阻十一R11、电阻十二R12、电阻十三R13、电阻十四R14串联后输出；所述的光耦合器OP1的导通速率与输入信号的频率保持匹配；所述的TTL芯片U1为74HC14D单片机。本具体实施方式的工作原理为：在电路中加入的三极管驱动电路来驱动光耦，在光耦的输出端接入信号的TTL芯片，这样既满足了弱信号的驱动能力又增加了电路的安全性和稳定性，但是需要注意的是，输入信号的频率受限于光耦的导通速率，如果频率高的话就需要更换成高速光耦。采用上述结构后，本技术有益效果为：它可以把弱的电压信号接到三极管的基极转换成为强的电压信号，就可以实现弱电流控制大电流来驱动TTL芯片，并且可以不影响信号的输入频率。对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内。此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.弱信号的输入检测电路，其特征在于：它包含光耦合器(OP1)、电阻一到电阻四(R1-R4)、三极管(Q1)、基础检测电路(A)；光耦合器(OP1)的1号引脚与电阻三(R3)连接后与供电极(SVCC1)连接；光耦合器(OP1)的2号引脚与三极管(Q1)的集电极连接；三极管(Q1)的基极与电阻一(R1)连接后与弱信号输入端连接；所述的三极管(Q1)的基极与发射极之间并联有电阻二(R2)，且三极管(Q1)的发射极接地；所述的光耦合器(OP1)的3号引脚接地；光耦合器(OP1)的4号引脚分别与信号输出端、电阻四(R4)连接，且电阻四(R4)的另一端与供电端(SVCC33)连接，其中，信号输出端与基础检测电路(A)的输入端连接。/n

【技术特征摘要】
1.弱信号的输入检测电路，其特征在于：它包含光耦合器(OP1)、电阻一到电阻四(R1-R4)、三极管(Q1)、基础检测电路(A)；光耦合器(OP1)的1号引脚与电阻三(R3)连接后与供电极(SVCC1)连接；光耦合器(OP1)的2号引脚与三极管(Q1)的集电极连接；三极管(Q1)的基极与电阻一(R1)连接后与弱信号输入端连接；所述的三极管(Q1)的基极与发射极之间并联有电阻二(R2)，且三极管(Q1)的发射极接地；所述的光耦合器(OP1)的3号引脚接地；光耦合器(OP1)的4号引脚分别与信号输出端、电阻四(R4)连接，且电阻四(R4)的另一端与供电端(SVCC33)连接，其中，信号输出端与基础检测电路(A)的输入端连接。


2.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：王献伟，徐东桂，张文彬，
申请(专利权)人：广州市韦德电气机械有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44