一种XRF分析仪滤光片的切换装置、其切换方法和用途制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种XRF分析仪滤光片的切换装置、其切换方法和用途，所述的切换装置包括设置于XRF分析仪上的导轨，所述导轨内设置有内嵌式的滑槽；所述切换装置还包括嵌入设置于所述滑槽的滑动件，所述滑动件包括沿长度方向依次对接的齿条板和滤光板，所述齿条板上设置有齿槽，所述滤光板上沿长度方向开设有至少两个通道口，所述通道口上设置有滤光片；所述滑槽上设置有定位传感器，所述定位传感器用于定位所述滤光板上通道口的位置；所述齿条板传动连接有驱动件，所述驱动件与齿槽咬合带动滑动件在滑槽内滑动。通过滤光板移动，并通过定位传感器对通道口进行定位，实现自动控制更换滤光片。

【技术实现步骤摘要】
一种XRF分析仪滤光片的切换装置、其切换方法和用途
本专利技术属于检测
，涉及XRF分析仪滤光片的切换装置，尤其涉及一种XRF分析仪滤光片的切换装置、其切换方法和用途。
技术介绍
固体废弃物对土地、水源和空气均造成了污染，其中的重金属成分是判定污染严重程度的重要依据。为了对固体废弃物中的微量重金属的精确检测，通常采用ICP、XRF和LIBS等方法进行测定，其中XRF具有使用简便和易于实施等特点，成为检测固废重金属的重要手段。XRF一般指X射线荧光光谱分析，是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(即次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。根据XRF的测试原理，被测样品在受到X光激发后，样品产生激光光谱，不同种类、不同含量的元素产生的能谱在波长和能级上不同，通过接收器对能谱光子进行计数后，转换为计数值，从而得知各元素的含量。在实际检测中，只需要测量一至两种元素的含量，其他非被测元素在能谱图中对主测元素形成了背景噪声，能谱图不易区分，影响主测元素的测量精度。为提高测量分析精度，可采用对非被本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种XRF分析仪滤光片的切换装置，其特征在于，所述的切换装置包括设置于XRF分析仪上的导轨，所述导轨内设置有内嵌式的滑槽；/n所述切换装置还包括嵌入设置于所述滑槽的滑动件，所述滑动件包括沿长度方向依次对接的齿条板和滤光板，所述齿条板上设置有齿槽，所述滤光板上沿长度方向开设有至少两个通道口，所述通道口上设置有滤光片；所述滑槽上设置有定位传感器，所述定位传感器用于定位所述滤光板上通道口的位置；/n所述齿条板传动连接有驱动件，所述驱动件与齿槽咬合带动滑动件在滑槽内滑动。/n

【技术特征摘要】
1.一种XRF分析仪滤光片的切换装置，其特征在于，所述的切换装置包括设置于XRF分析仪上的导轨，所述导轨内设置有内嵌式的滑槽；
所述切换装置还包括嵌入设置于所述滑槽的滑动件，所述滑动件包括沿长度方向依次对接的齿条板和滤光板，所述齿条板上设置有齿槽，所述滤光板上沿长度方向开设有至少两个通道口，所述通道口上设置有滤光片；所述滑槽上设置有定位传感器，所述定位传感器用于定位所述滤光板上通道口的位置；
所述齿条板传动连接有驱动件，所述驱动件与齿槽咬合带动滑动件在滑槽内滑动。


2.根据权利要求1所述的切换装置，其特征在于，位于所述滤光板的上方，所述导轨上固定设置有准直器支架，所述准直器支架上开设有入射孔，所述入射孔用于通过射线照射通道口，所述定位传感器位于所述入射孔位置；
优选地，所述入射孔居中开设于所述的准直器支架上；
优选地，所述准直器支架通过至少两个定位螺栓固定设置于所述导轨。


3.根据权利要求1或2所述的切换装置，其特征在于，所述齿条板和滤光板通过凹槽相互嵌合对接；
优选地，所述齿条板和滤光板通过螺栓固定连接。


4.根据权利要求1-3任一项所述的切换装置，其特征在于，所述齿条板上齿槽的中心距为3～3.4mm；
优选地，所述齿条板上齿槽的深度为1.3～1.7mm；
优选地，所述齿条板的材质包括不锈钢。


5.根据权利要求1-4任一项所述的切换装置，其特征在于，所述的通道口在滤光板上开设有四个；
优选地，所述通道口在滤光板上沿长度方向呈一排排布；
优选地，所述通道口处设置有安装凸台，所述安装凸台用于放置滤光片；
优选地，相邻所述通...

【专利技术属性】
技术研发人员：石垚，何明星，李会泉，张晨牧，李强，胡应燕，
申请(专利权)人：中国科学院过程工程研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11