一种检测密封圈缺陷的方法技术

本发明专利技术涉及密封圈生产检验技术领域，尤其涉及一种检测密封圈缺陷的方法，S1、将检测基座平置，再将待检测的密封圈置于检测基座的检测口处；S2、分别按下上下两侧的开关，令两侧的定位座均调至与密封圈相接触的位置，以活动销的端部露出定位座外2cm为准；S3、按下按钮，启动装置，并手动原地转动密封圈，对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况，当出现问题时，活动销出现上下移动的情况，此时，指示灯闪烁，反之，指示灯不闪烁，即若指示灯出现了闪烁现象，则说明此密封圈存在缺陷。本发明专利技术通过设计检测基座来对密封圈的表面进行检测，以判定其表面是否存在多料或少料的问题，能够有效地提高检测质量及检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种检测密封圈缺陷的方法
本专利技术涉及密封圈生产检验
，尤其涉及一种检测密封圈缺陷的方法。
技术介绍
密封圈材料的选择对其密封性能和使用寿命有着重要意义，材料的性能直接影响密封圈的使用性能。常见的密封圈类型有NBR丁腈橡胶密封圈、HNBR氢化丁腈橡胶密封圈、SIL硅橡胶密封圈、FLS氟硅橡胶密封圈以及CR氯丁橡胶密封圈等。在密封圈的生产过程中，由于注塑过程中的不当因素，使得密封圈出现多料或少料的现象，而影响了密封圈成品的质量，因此，我们提出了一种检测密封圈缺陷的方法用于解决上述问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种检测密封圈缺陷的方法。一种检测密封圈缺陷的装置，包括检测基座，所述检测基座上开设有检测口，检测口的两侧均通过电动推杆活动设有定位座，定位座内开设有空腔，空腔内通过弹簧活动设有多组活动销，活动销的两侧侧壁上均焊有滑块，滑块滑动在导杆上，导杆焊接在空腔的内壁之间，并且滑块的上表面嵌有光敏二极管，与光敏二极管相对的位置在空腔的内壁上嵌有发光二极管。优选的，所述检测基座上设有两个开关、一个指示灯以及一个按钮。优选的，所述定位座呈“U”型结构且其侧壁与电动推杆的活动端相连接固定。优选的，所述活动销的一端端部呈尖状设置且为球体结构。优选的，所述指示灯与光敏二极管之间通过电性连接，且按钮与发光二极管之间也通过电性连接。一种检测密封圈缺陷的方法，包括以下步骤：S1、将检测基座平置，再将待检测的密封圈置于检测基座的检测口处；S2、分别按下上下两侧的开关，令两侧的定位座均调至与密封圈相接触的位置，以活动销的端部露出定位座外2cm为准；S3、按下按钮，启动装置，并手动原地转动密封圈，对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况，当出现问题时，活动销出现上下移动的情况，此时，指示灯闪烁，反之，指示灯不闪烁，即若指示灯出现了闪烁现象，则说明此密封圈存在缺陷。相比于现有技术，本专利技术的有益效果是：本专利技术通过设计一组检测基座，将密封圈置于其中，通过定位座与密封圈的接触来对其进行定位，再由工人转动密封圈，使得活动销不断地对密封圈的表面进行检测，以判定其表面是否存在多料或少料的问题，能够有效地提高检测质量及检测效率。附图说明图1为本专利技术一种检测密封圈缺陷的方法所用检测基座的结构示意图；图2为图1中的定位座及其内部活动销连接示意图；图3为图2中局部A放大结构示意图。图中：1检测基座、11开关、12指示灯、13按钮、2密封圈、3定位座、31导杆、4活动销、41滑块、5发光二极管、6光敏二极管。具体实施方式下面结合具体实施例对本专利技术作进一步解说。参照图1-3，一种检测密封圈缺陷的装置，包括检测基座1，检测基座1上开设有检测口，检测口的两侧均通过电动推杆活动设有定位座3，用于对密封圈2的定位，定位座3呈“U”型结构且其侧壁与电动推杆的活动端相连接固定，定位座3内开设有空腔，空腔内通过弹簧活动设有多组活动销4，用于判断密封圈2的表面是否存在凸起或凹槽，活动销4的底端呈尖状设置且为球体结构，活动销4的两侧侧壁上均焊有滑块41，用于测定光敏二极管6与发光二极管5之间接收信号的时间，滑块41滑动在导杆31上，导杆31焊接在空腔的内壁之间，导杆31对滑块41有导向作用，并且滑块41的上表面嵌有光敏二极管6，与光敏二极管6相对的位置在空腔的内壁上嵌有发光二极管5。检测基座1上设有两个开关11、一个指示灯12以及一个按钮13，指示灯12与光敏二极管6之间通过电性连接，且按钮13与发光二极管5之间也通过电性连接。一种检测密封圈缺陷的方法，包括以下步骤：S1、将检测基座1平置，再将待检测的密封圈2置于检测基座1的检测口处；S2、分别按下上下两侧的开关11，令两侧的定位座3均调至与密封圈2相接触的位置，以活动销4的端部露出定位座3外2cm为准；S3、按下按钮13，启动装置，并手动原地转动密封圈2，对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况，当出现问题时，活动销4出现上下移动的情况，此时，指示灯12闪烁，反之，指示灯12不闪烁，即若指示灯12出现了闪烁现象，则说明此密封圈2存在缺陷。本实施例中：首先，将检测基座1平置，再将待检测的密封圈2置于检测基座1的检测口处，令密封圈2处于检测口的竖直方向上；接着，分别按下上下两侧的开关11，令两侧的电动推杆启动，使得电动推杆带动定位座3移动调节，调节至与密封圈2相接触的位置后松开开关11停止，当两组电动推杆均停止时，密封圈2夹于两侧的定位座3之间，且此时的活动销4的端部露出定位座3外2cm为准；然后，按下按钮13，启动装置，手动原地转动密封圈2，对其表面进行检测是否有缺料或多料的情况，当出现问题时，活动销4出现上下移动的情况，此时，指示灯12闪烁，反之，指示灯12不闪烁，即若指示灯12出现了闪烁现象，则说明此密封圈2存在缺陷。上述过程中，在出现缺料或多料的问题时，也就是意味着密封圈2的表面存在凸起或凹槽，当活动销4经过凸起的位置时，活动销4向定位座3内移动，此时，光敏二极管6接收到发光二极管5的信号的时间变短，而当活动销4经过凹槽的位置时，活动销4向定位座3外移动，此时，光敏二极管6接收到发光二极管5的信号的时间变长，在这两种情况下，光敏二极管6接收的信号都出现了短暂的波动，从而使得通过电信号控制指示灯12闪烁，当指示灯12闪烁时，即可按下按钮13，关闭装置，取下该存在缺陷的密封圈2，再继续下一密封圈2的检测。以上所述，仅为本专利技术较佳的具体实施方式，但本专利技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本专利技术揭露的技术范围内，根据本专利技术的技术方案及其专利技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测密封圈缺陷的装置，包括检测基座(1)，其特征在于，所述检测基座(1)上开设有检测口，检测口的两侧均通过电动推杆活动设有定位座(3)，定位座(3)内开设有空腔，空腔内通过弹簧活动设有多组活动销(4)，活动销(4)的两侧侧壁上均焊有滑块(41)，滑块(41)滑动在导杆(31)上，导杆(31)焊接在空腔的内壁之间，并且滑块(41)的上表面嵌有光敏二极管(6)，与光敏二极管(6)相对的位置在空腔的内壁上嵌有发光二极管(5)。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测密封圈缺陷的装置，包括检测基座(1)，其特征在于，所述检测基座(1)上开设有检测口，检测口的两侧均通过电动推杆活动设有定位座(3)，定位座(3)内开设有空腔，空腔内通过弹簧活动设有多组活动销(4)，活动销(4)的两侧侧壁上均焊有滑块(41)，滑块(41)滑动在导杆(31)上，导杆(31)焊接在空腔的内壁之间，并且滑块(41)的上表面嵌有光敏二极管(6)，与光敏二极管(6)相对的位置在空腔的内壁上嵌有发光二极管(5)。


2.根据权利要求1所述的一种检测密封圈缺陷的装置，其特征在于，所述检测基座(1)上设有两个开关(11)、一个指示灯(12)以及一个按钮(13)。


3.根据权利要求1所述的一种检测密封圈缺陷的装置，其特征在于，所述定位座(3)呈“U”型结构且其侧壁与电动推杆的活动端相连接固定。


4.根据权利要求1所述的一种检测密封圈缺陷的装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏小波，
申请(专利权)人：厦门沪熠铭电子工业有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35