【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】TSV冗余及TSV测试选择方案
技术介绍
高数据可靠性、高存储器存取速度、较低功率消耗及减小的芯片大小是半导体存储器所需的特征。近年来,已引入三维(3D)存储器器件。一些3D存储器器件是通过垂直地堆叠芯片(例如,裸片)且使用贯穿衬底通孔(TSV)使芯片互连而形成。3D存储器器件的益处包含:较短互连件,其降低电路延迟及功率消耗;层之间的大量垂直通孔,其允许不同层中的功能区块之间的宽带宽总线;及相当小的占据面积。因此,3D存储器器件促成较高存储器存取速度、较低功率消耗及芯片大小缩减。实例3D存储器器件包含混合存储器立方体(HMC)、高带宽存储器(HBM)及宽I/O动态随机存取存储器(DRAM)。举例来说,高带宽存储器(HBM)是包含高性能DRAM接口芯片及垂直堆叠DRAM芯片的存储器类型。四个DRAM芯片(例如,核心芯片)的典型HBM堆叠具有每芯片两个128位沟道,总共具有8个输入/输出沟道及总共1024个位的宽度。HBM的接口(IF)芯片提供具有8个输入/输出沟道的接口,所述沟道彼此独立运作。图1是TSV阵列100及测试骨牌式开关电路的示意图。TSV阵列100包含多个TSV102、多个冗余TSV104、多个测试骨牌式开关电路(TD-SW)106、多个移位寄存器(SR)108、多个控制线116及寄存器线120。TSV阵列100包含布置成8个行及28个列的TSV。特定来说,多个TSV102中的每一者定位于行1到8的对应行及列1到27的对应列中,多个TSV102都不定位于第28列中。多个冗余TSV104(1)到104(8)中的每一 ...
【技术保护点】
1.一种设备,其包括:/n多个第一选择线,其各自在第一方向上延伸;/n多个第二选择线,其各自在第二方向上延伸以与所述多个第一选择线交叉;及/n多个贯穿衬底通孔TSV单元,其分别经安置于所述多个第一选择线与所述多个第二选择线的相交点中;/n其中所述多个TSV单元的每一TSV单元包括:/nTSV;/n开关,其经耦合到所述TSV;及/n选择电路,其经耦合到所述多个第一选择线中的相关联者及所述多个第二选择线中的相关联者,所述选择电路经配置以响应于所述多个第一选择线中的所述相关联者及所述多个第二选择线中的所述相关联者中的每一者被设置为作用电平而控制所述开关的开关状态。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20181108 US 16/183,9611.一种设备,其包括:
多个第一选择线,其各自在第一方向上延伸;
多个第二选择线,其各自在第二方向上延伸以与所述多个第一选择线交叉;及
多个贯穿衬底通孔TSV单元,其分别经安置于所述多个第一选择线与所述多个第二选择线的相交点中;
其中所述多个TSV单元的每一TSV单元包括:
TSV;
开关,其经耦合到所述TSV;及
选择电路,其经耦合到所述多个第一选择线中的相关联者及所述多个第二选择线中的相关联者,所述选择电路经配置以响应于所述多个第一选择线中的所述相关联者及所述多个第二选择线中的所述相关联者中的每一者被设置为作用电平而控制所述开关的开关状态。
2.根据权利要求1所述的设备,
其中所述开关插入于所述TSV与电压线之间;且
其中所述选择电路经进一步配置以响应于所述多个第一选择线中的所述相关联者及所述多个第二选择线中的所述相关联者中的每一者被设置为所述作用电平而导致所述开关形成所述TSV与所述电压线之间的导电路径。
3.根据权利要求1所述的设备,
其中所述开关包含经耦合到所述TSV的第一节点、经耦合到相邻TSV单元的第二节点及经耦合到信号线的第三节点;且
其中所述选择电路经进一步配置以响应于所述多个第一选择线中的所述相关联者及所述多个第二选择线中的所述相关联者中的至少一者被设置为非作用电平而导致所述开关形成所述TSV与所述信号线之间的第一导电路径,所述选择电路经进一步配置以响应于所述多个第一选择线中的所述相关联者及所述多个第二选择线中的所述相关联者中的每一者被设置为所述作用电平而导致所述开关形成所述相邻TSV单元与所述信号线之间的第二导电路径。
4.根据权利要求1所述的设备,
其中所述设备进一步包括:
多个第三选择线,其各自在所述第一方向上延伸;及
多个第四选择线,其各自在所述第二方向上延伸;
其中所述多个TSV单元的每一TSV单元进一步包括经耦合到所述TSV的额外开关;且
其中所述选择电路进一步经耦合到所述多个第三选择线中的相关联者及所述多个第四选择线中的相关联者,所述选择电路经进一步配置以响应于所述多个第三选择线中的所述相关联者及所述多个第四选择线中的所述相关联者中的每一者被设置为作用电平而控制所述额外开关的开关状态。
5.根据权利要求1所述的设备,其中经耦合到所述TSV的所述开关经配置以响应于所述多个第一选择线中的所述相关联者及所述多个第二选择线中的所述相关联者被设置为非作用电平而取消激活。
6.根据权利要求1所述的设备,其中所述多个TSV单元的每一TSV单元进一步包括经耦合到所述TSV的额外开关。
7.根据权利要求1所述的设备,其中所述开关经耦合到信号线,且
其中所述选择电路经进一步配置以响应于所述多个第一选择线中的所述相关联者及所述多个第二选择线中的所述相关联者中的至少一者被设置为非作用电平而控制所述开关以形成所述信号线与所述TSV之间的导电路径。
8.根据权利要求7所述的设备,其中响应于所述多个第一选择线中的所述相关联者及所述多个第二选择线中的所述相关联者中的所述至少一者被设置为非作用电平,所述选择电路控制所述开关取消激活,且由所述经取消激活开关形成所述信号线与所述TSV之间的所述导电路径。
9.根据权利要求1所述的设备,其中所述选择电路经进一步配置以控制所述开关的所述开关状态响应于所述多个第一选择线中的所述相关联者及所述多个第二选择线中的所述相关联者中的每一者被设置为所述作用电平而与相邻于所述TSV的另一TSV形成导电路径。
10.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员:佐都誉,近藤力,井出昭,
申请(专利权)人:美光科技公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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