一种电子元器件性能测试台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电子元器件性能测试台，包括测试平台、阻断机构、测试架，所述测试平台下方四角设置有支撑腿，所述测试平台两端分别设置有第一转辊和第二转辊，所述第一转辊与第二转辊通过输送带连接，所述测试平台一端设置有测试架，所述测试架下表面设置有工业照相机和补光灯，所述测试平台两侧靠近测试架的一端设置有缺口，所述缺口与承接板连接，所述承接板下方设置有收集箱，所述测试平台两端设置有支撑板，所述支撑板下表面中间位置固定有隔板，所述隔板两侧设置有阻断机构，所述阻断机构包括安装块、连接块，所述连接块上设置有凹槽，所述凹槽内转动连接有挡杆。本实用新型专利技术有效提高分拣的准确率和效率，结构简单，实用性强。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件性能测试台
本技术涉及测试装置
，尤其是一种电子元器件性能测试台。
技术介绍
电子元器件是电子元件和小型机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用，常指电器、无线电、仪表等某些工业零件，是电容、晶体管、游丝、发条等子器件的总称。电子元器件在生产装配后需要对电子元器件进行性能测试，通常性能测试装置由性能测试和外观检测两个部分组成，首先需要对外观进行检测，将外观有缺陷的产品提前筛选出来，避免性能测试资源的浪费，同时防止外观不合格的产品流入市场。现有的电子元器件性能测试台通过人工挑选的方式将不合格的产品挑选出来，工作效率低，授权公告号为CN209979513的中国技术专利公开了一种电子元器件性能测试台，通过真空吸盘将不合格产品与合格产品分离，真空吸盘对于表面较平整的产品适用，但电子元器件通常表面结构复杂，真空吸盘无法有效的将此类元器件吸住抬起，无法有效的将外观不合格的产品分离开。
技术实现思路
为了克服现有技术中存在的上述问题，本技术提出如下技术方案。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种电子元器件性能测试台，包括测试平台、阻断机构、测试架，所述测试平台下方四角设置有支撑腿，所述测试平台两端分别设置有第一转辊和第二转辊，所述第一转辊与第二转辊通过输送带连接，所述测试平台一端设置有测试架，所述测试架下表面设置有工业照相机和补光灯，所述测试平台两侧靠近测试架的一端设置有缺口，所述缺口与承接板连接，所述承接板下方设置有收集箱，所述测试平台两端设置有支撑板，所述支撑板下表面中间位置固定有隔板，所述隔板两侧设置有阻断机构，所述阻断机构包括安装块、连接块，所述连接块上设置有凹槽，所述凹槽内转动连接有挡杆。上述的电子元器件性能测试台，所述测试平台一端侧面设置有电机，所述电机输出轴与第一转辊固定连接。上述的电子元器件性能测试台，所述支撑板通过立柱与测试平台边部固定连接。上述的电子元器件性能测试台，所述工业照相机和补光灯设置有两组，两组所述工业照相机和补光灯分别位于隔板两侧的测试架上。上述的电子元器件性能测试台，所述承接板侧面设置有挡边。上述的电子元器件性能测试台，所述挡杆弹出时与缺口远离测试架一端边缘对齐。上述的电子元器件性能测试台，所述挡杆弹出时与竖直方向夹角为30°-60°。本技术的有益效果是，通过设置测试架，对待测工件进行拍照通过计算机比对，提高准确率，通过设置阻断机构，在待测工件比对不合格时，弹出档杆将待测工件送入到收集箱内，提高分拣的准确率和效率。本技术结构简单，实用性强。附图说明下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。图1为本技术示意图；图2为本技术档杆弹出示意图；图3为本技术阻断机构示意图。图中1.支撑腿，2.测试平台，3.电机，4.输送带，5.阻断机构，5-1.安装块，5-2.连接块，5-3.凹槽，5-4.挡杆，6.隔板，7.工业照相机，8.补光灯，9.测试架，10.承接板，11.收集箱，12.缺口，13.支撑板，14.立柱。具体实施方式为使本领域技术人员更好的理解本技术的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本技术作详细说明。【实施例1】一种电子元器件性能测试台，包括测试平台2、阻断机构5、测试架9，所述测试平台2下方四角设置有支撑腿1，所述测试平台2两端分别设置有第一转辊和第二转辊，所述第一转辊与第二转辊通过输送带4连接，所述测试平台2一端设置有测试架9，所述测试架9下表面设置有工业照相机7和补光灯8，所述测试平台2两侧靠近测试架9的一端设置有缺口12，所述缺口12与承接板10连接，所述承接板10下方设置有收集箱11，所述测试平台2两端设置有支撑板13，所述支撑板13下表面中间位置固定有隔板6，所述隔板6两侧设置有阻断机构5，所述阻断机构5包括安装块5-1、连接块5-2，所述连接块5-2上设置有凹槽5-3，所述凹槽5-3内转动连接有挡杆5-4。进一步的，所述测试平台2一端侧面设置有电机3，所述电机3输出轴与第一转辊固定连接。进一步的，所述支撑板13通过立柱14与测试平台2边部固定连接。进一步的，所述工业照相机7和补光灯8设置有两组，两组所述工业照相机7和补光灯8分别位于隔板6两侧的测试架9上。进一步的，所述承接板10侧面设置有挡边。进一步的，所述挡杆5-4弹出时与缺口12远离测试架9一端边缘对齐。进一步的，所述挡杆5-4弹出时与竖直方向夹角为30°-60°。具体的，本技术使用时，将待测件放置到输送带4上，此时，电机带动第一转轴转动进而带动输送带4传动，当待测件移动到测试架9下方时，工业照相机7对待测件进行拍摄，同时补光灯8提供光照，提高照片的清晰度，工业照相机7将拍摄的高清照片传输到外界计算机中，利用计算机对拍摄的照片与符合要求的照片进行比对，从而判断待测件是否合格，若待测件合格，待测件随着输送带4传送到下一个测试区进行测试，若待测件不合格，则档杆5-4弹出，待测件向前运动，在档杆5-4的阻挡下进入到缺口12内，通过承接板10落入收集箱11中，由于设置了隔板6，将输送带4分割成两部分，可以同时进行两个待测件的测定，提高工作效率。以上实施例仅为本技术的示例性实施例，不用于限制本技术，本技术的保护范围由权利要求书限定。本领域技术人员可以在本技术的实质和保护范围内，对本技术做出各种修改或等同替换，这种修改或等同替换也应视为落在本技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元器件性能测试台，包括测试平台(2)、阻断机构(5)、测试架(9)，其特征在于：所述测试平台(2)下方四角设置有支撑腿(1)，所述测试平台(2)两端分别设置有第一转辊和第二转辊，所述第一转辊与第二转辊通过输送带(4)连接，所述测试平台(2)一端设置有测试架(9)，所述测试架(9)下表面设置有工业照相机(7)和补光灯(8)，所述测试平台(2)两侧靠近测试架(9)的一端设置有缺口(12)，所述缺口(12)与承接板(10)连接，所述承接板(10)下方设置有收集箱(11)，所述测试平台(2)两端设置有支撑板(13)，所述支撑板(13)下表面中间位置固定有隔板(6)，所述隔板(6)两侧设置有阻断机构(5)，所述阻断机构(5)包括安装块(5-1)、连接块(5-2)，所述连接块(5-2)上设置有凹槽(5-3)，所述凹槽(5-3)内转动连接有挡杆(5-4)。/n

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件性能测试台，包括测试平台(2)、阻断机构(5)、测试架(9)，其特征在于：所述测试平台(2)下方四角设置有支撑腿(1)，所述测试平台(2)两端分别设置有第一转辊和第二转辊，所述第一转辊与第二转辊通过输送带(4)连接，所述测试平台(2)一端设置有测试架(9)，所述测试架(9)下表面设置有工业照相机(7)和补光灯(8)，所述测试平台(2)两侧靠近测试架(9)的一端设置有缺口(12)，所述缺口(12)与承接板(10)连接，所述承接板(10)下方设置有收集箱(11)，所述测试平台(2)两端设置有支撑板(13)，所述支撑板(13)下表面中间位置固定有隔板(6)，所述隔板(6)两侧设置有阻断机构(5)，所述阻断机构(5)包括安装块(5-1)、连接块(5-2)，所述连接块(5-2)上设置有凹槽(5-3)，所述凹槽(5-3)内转动连接有挡杆(5-4)。


2.根据权利要求1所述的电子元器件性能测试台，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐玉佩，王鑫，卢立康，王双喜，
申请(专利权)人：青岛睿尔泽电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37