光学望远镜辅助射电望远镜提高指向精度的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了光学望远镜辅助射电望远镜提高指向精度的装置及方法，光学望远镜固定安装在射电望远镜上，一般的光学望远镜观测终端为大靶面的CCD或者CMOS图像探测器，其分辨率远高于射电望远镜波束接收机，光学望远镜的指向轴与射电望远镜的指向轴平行。本发明专利技术创新地采用光学望远镜作为辅助望远镜，随斜轴望远镜一起运动，利用光学望远镜CCD成像系统能够捕获更多的天体目标这一优势，解决了射电望远镜分辨率低，可用于指向观测的天文点源稀缺从而导致的指向精度不高的问题。光学望远镜可为射电望远镜提供指向坐标数据，辅助斜轴式望远镜建立指向模型，获得指向误差，提高指向精度。本发明专利技术通过建立指向模型进一步提高望远镜的指向精度。

【技术实现步骤摘要】
光学望远镜辅助射电望远镜提高指向精度的装置及方法
本专利技术涉及天文设备
，尤其涉及光学望远镜辅助射电望远镜提高指向精度的装置及方法。
技术介绍
射电望远镜的指向精度是一项评估望远镜性能的重要指标，影响望远镜指向误差的误差源主要是各零部件的机械制造误差,系统的装配误差,望远镜的安装误差和环境及运行过程中引起的各种扰动因素。射电望远镜的指向误差修正与光学望远镜的指向误差修正原理相同，通过对已知精确方向目标源进行指向测量实验，获得指向偏差实验样本。在求得指向误差修正的参数之后，利用参数建立望远镜的指向模型，在控制系统的驱动下使望远镜更加精准的指向坐标输入位置，从而提高望远镜指向精度。对于射电望远镜来说获得望远镜指向模型所采用的办法是以若干已知精确坐标的天文点源为观测目标进行指向测量实验，通过十字扫描法、五点扫描法或其他拟合方法获取望远镜的实际指向AM和EM(俯仰和水平观测值)，并计算与AC和EC(俯仰和水平的理论值)之间的偏差值ΔA＝AM-AC、ΔE＝EM-EC。射电望远镜的通常要求其指向误差小于天线半功率波束宽度的10％。在这一过程本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.光学望远镜辅助射电望远镜提高指向精度的装置，包括射电望远镜(1)，其特征是：光学望远镜(2)固定安装在射电望远镜(1)上，所述的光学望远镜(2)的分辨率高于射电望远镜(1)分辨率，光学望远镜(2)的指向轴与射电望远镜(1)的指向轴平行。/n

【技术特征摘要】
1.光学望远镜辅助射电望远镜提高指向精度的装置，包括射电望远镜(1)，其特征是：光学望远镜(2)固定安装在射电望远镜(1)上，所述的光学望远镜(2)的分辨率高于射电望远镜(1)分辨率，光学望远镜(2)的指向轴与射电望远镜(1)的指向轴平行。


2.根据权利要求1所述的光学望远镜辅助射电望远镜提高指向精度的装置，其特征是：所述的射电望远镜(1)为斜轴式望远镜，所述的光学望远镜(2)为折射式望远镜。


3.根据权利要求1所述的光学望远镜辅助射电望远镜提高指向精度的装置，其特征是：所述的光学望远镜(2)通过转接板(3)安装在斜轴望远镜的背架连接件(4)上。


4.采用如权利要求2所述的装置提高射电望远镜指向精度的方法，其特征是：包括以下步骤：
步骤一、光学望远镜(2)安装在射电望远镜(1)上，光学望远镜对星空进行成像观测，获得光学图像，记录下射电望远镜(1)的当前斜轴角及水平角；
步骤二、记录下光学望远镜(2)拍摄的光学图像，该光学图像中具有多个用于指向观测的目标天体，计算拍摄该星空图像时的地方恒星时，
步骤三、将步骤一中射电望远镜(1)的位置坐标从斜轴坐标系转为地平坐标系；
步骤四、从光学图像中获取目标天体在J2000历元下的赤道坐标系中的坐标；
步骤五、通过计算，将J2000历元下的赤道坐标系信息转为当前历元下的赤道坐标系信息；
步骤六、计算当前历元下的赤道坐标系目标天体时角；
步骤七、利用当前历元下的赤道坐标系目标天体时角，计算出光学望远镜在当前历元下的地平坐标系目标天体俯仰角和方位角信息，以此俯仰角和方位角为标准；
步骤八、根据步骤一所记录的射电望远镜斜轴下的斜轴角和斜轴方位角，计算出射电望远镜在地平坐标系下的地平俯仰和地平方位角。
步骤九、统一到地平坐标系下，比较步骤七与步骤八的结果；得到射电望远镜俯仰角和方位角指向误差，并将该俯仰角和方位角指向误差耦合至射电望远镜控制系统，提高射电望远镜指向精度。


5.根据权利要求4所述的光学望远镜辅助射电望远镜提高指向精度的方法，其特征是：步骤六中，目标天体时角的计算方法为：
t＝LST-RA；
其中，t为天体时角，LST为本地恒星时，RA为当前历元下目标天体的赤经。


6.根据权利要求5所述的光学望...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘伟，娄铮，左营喜，应晓科，
申请(专利权)人：中国科学院紫金山天文台，
类型：发明
国别省市：江苏;32