一种利用倍频腔抑制激光强度噪声的装置及其测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种利用倍频腔抑制激光强度噪声的装置及其测量方法，1550nm单频激光器发出的基频光经电光调制器、透镜、法拉第隔离器、双色镜后入射到倍频腔，倍频腔的反射信号被锁相回路探测，双色镜是对基频光高透、倍频光高反的镜片，倍频腔经参量上转换过程产生的波长为775nm的倍频光经双色镜反射后，入射至功率计进行探测功率，第一探测器设置在倍频腔的另一端，用于接收并探测倍频腔透射峰信号，经倍频腔产生的倍频光的功率被功率计探测，倍频腔产生的返回基频信号经法拉第隔离器的分束棱镜、功率波片后，被第二探测器接收并探测，第二探测器产生的探测信号由频谱仪接收并探测。本发明专利技术调节精确、方便、直观等优点，可以广泛应用于倍频腔应用领域。

【技术实现步骤摘要】
一种利用倍频腔抑制激光强度噪声的装置及其测量方法
本专利技术涉及光学
，尤其涉及一种利用倍频腔抑制激光强度噪声的装置及其测量方法。
技术介绍
激光技术的应用使得我们的生产技术、医疗技术等都获得了新的发展。其作用不仅仅体现在生产经济领域，还体现在国防军事领域，为此，世界各国都致力于加强对激光的研究。全固态1550nm单频激光器作为近年来新兴的1550nm单频激光器，只有半个世纪的发展史，但是却在激光领域占有重要地位。全固态1550nm单频激光器又称半导体泵浦固体1550nm单频激光器，简称DPSS(DiodePumpedSolidStatelaser)。全固态单频(单纵模)1550nm单频激光器更是以窄线宽、低噪声的优良特性大幅提升了微弱信号测量的精度。而对于实验上的低频探测如引力波探测器，就需要实现高功率、高稳定、低噪声的激光输出。激光精密测量的测量精度主要受限于光场噪声和各种技术噪声，在去耦合技术噪声后，光场量子噪声成为限制其测量精度的主要因素。在量子光学中,量子噪声包括散粒噪声和量子辐射压力噪声。经过几十年的发展，已形成多种不本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种利用倍频腔抑制激光强度噪声的装置，其特征在于：包括1550nm单频激光器、法拉第隔离器、倍频腔、功率波片、功率计、频谱仪、双色镜、电光调制器、锁相回路和第一探测器、第二探测器，所述1550nm单频激光器发出的基频光经所述电光调制器、透镜、法拉第隔离器、双色镜后入射到所述倍频腔，所述倍频腔的反射信号被所述锁相回路探测，所述双色镜是对基频光高透、倍频光高反的镜片，所述倍频腔经参量上转换过程产生的波长为775nm的倍频光经双色镜反射后，入射至功率计进行探测功率，所述第一探测器设置在倍频腔的另一端，用于接收并探测所述倍频腔透射峰信号，经所述倍频腔产生的倍频光的功率被所述功率计探测，所述倍频腔产...

【技术特征摘要】
1.一种利用倍频腔抑制激光强度噪声的装置，其特征在于：包括1550nm单频激光器、法拉第隔离器、倍频腔、功率波片、功率计、频谱仪、双色镜、电光调制器、锁相回路和第一探测器、第二探测器，所述1550nm单频激光器发出的基频光经所述电光调制器、透镜、法拉第隔离器、双色镜后入射到所述倍频腔，所述倍频腔的反射信号被所述锁相回路探测，所述双色镜是对基频光高透、倍频光高反的镜片，所述倍频腔经参量上转换过程产生的波长为775nm的倍频光经双色镜反射后，入射至功率计进行探测功率，所述第一探测器设置在倍频腔的另一端，用于接收并探测所述倍频腔透射峰信号，经所述倍频腔产生的倍频光的功率被所述功率计探测，所述倍频腔产生的返回基频信号经所述法拉第隔离器的分束棱镜、功率波片后，被所述第二探测器接收并探测，所述第二探测器产生的探测信号由所述频谱仪接收并探测。


2.根据权利要求1所述的一种利用倍频腔抑制激光强度噪声的装置，其特征在于：所述倍频腔为两镜腔或多晶腔，且所述倍频腔内至少一片腔镜上设置有用于改变腔长的压电陶瓷。


3.根据权利要求2所述的一种利用倍频腔抑制激光强度噪声的装置，其特征在于：所述倍频腔由弯月形凹面镜和非线性晶体组成。


4.根据权利要求3所述的一种利用倍频腔抑制激光强度噪声的装置，其特征在于：所述非线性晶体为PPKTP、PPLN、KTP、LBO、BBO或BIBO。


5.根据权利要求4所述的一种利用倍频腔抑制激光强度噪声的装置，其特征在于：所述非线性晶体为PPKTP晶体...

【专利技术属性】
技术研发人员：王雅君，张文慧，孙瑜，郑耀辉，田龙，
申请(专利权)人：山西大学，
类型：发明
国别省市：山西;14