【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术是为一种测试方法,特别是指应用于计算机硬件测试中的。2、存在潜在的测试漏洞。上述串行测试法没有考虑到多硬件共同测试的情况。为了消除串行测试法的缺点,可采用并行测试法。最基本的方法是为每个测试项生成一个测试线程,如附图说明图1B所示,所有测试项同时进行测试。但并行测试法的问题是不同测试项的间同时测试可能会产生冲突。例如,不能同时进行硬盘的Sequential Seek测试和Random Seek测试。为解决上述缺失,这时需要一种既有并行测试法的高效率高质量的优点,又可避免测试冲突的测试方法。本专利技术提供一种,至少包括下列步骤确定待测试项的唯一标识; 根据唯一标识的间的互斥关是自动生成测试逻辑表;及根据测试逻辑表规定的测试逻辑执行多线程测试过程。有关本专利技术的详细内容及技术,兹就配合图式说明如下 其中,附图标记说明如下步骤201 确定待测试项的唯一标识步骤202 根据唯一标识的间的互斥关是自动生成测试逻辑表步骤203 根据逻辑表规定的测试逻辑执行多线程测试过程步骤301 取得所有待测试项的唯一标识,并将唯一标识写入测试逻辑表中步骤302 ...
【技术保护点】
一种多线程自动测试方法,应用于一计算机硬件的测试过程,至少包括如下步骤: 确定待测试项的唯一标识; 根据唯一标识的间的互斥关是自动生成测试逻辑表;及 根据测试逻辑表规定的测试逻辑执行多线程测试过程。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员:宋建福,刘文涵,史永军,
申请(专利权)人:英业达股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。