超导线材临界电流性能并联测试杆及其制备方法、应用技术

本发明专利技术涉及低温超导线材临界电流测量技术领域，涉及超导线材临界电流性能并联测试杆及其制备方法、应用。首先分析现有串联测试样品杆结构，并在其基础之上引入第二正极来设计临界电流并联测试杆。经过组装、焊接得到临界电流并联测试杆；采用中空铜件制备电极套实现下端样品与第二正极连接，实现了样品临界电流性能的并联测试，减少了临界电流测试过程中下杆次数、提高测试效率、降低测试过程中液氦消耗量。同时，由于并联测试杆可分别单独对两个样品进行测试，避免了串联测试过程中样品自场对相邻样品临界电流性能测试结果的影响，使测试结果更加精确、可靠。可靠。可靠。

【技术实现步骤摘要】
超导线材临界电流性能并联测试杆及其制备方法、应用


[0001]本专利技术属于低温超导线材
，涉及超导线材临界电流性能的测量， 具体涉及超导线材临界电流性能并联测试杆及其制备方法、应用。

技术介绍

[0002]目前应用最广泛的超导材料为低温超导线材，每年有大量的低温超导线 材被应用于核磁共振成像仪(MRI)、核磁共振谱仪(NMR)、大型粒子加速 器及超导储能系统(SMES)，磁约束核聚变装置(Tokamak)等多个领域。
[0003]对于企业而言，提升超导线材临界电流测量效率至关重要，而目前所运 用的串联测试法对于样品的线材规格、测试条件以及样品之间载流能力的差 异有非常高的要求，这严重限制着超导线材临界电流的测试效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供超导线材临界电流性 能并联测试杆及其制备方法、应用，该并联测试样品杆，能够克服由于规格 不同、测试条件不同及性能差异较大所导致的样品无法实现串联测试的限制， 克服临界电流测量过程中下杆次数多的问题。
>[0005]为实现本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超导线材临界电流性能并联测试杆的制备方法，其特征在于，具体包括以下步骤：1)分析现有串联测试样品杆的结构，获取所述串联测试样品杆的正、负极规格；2)制备并联测试杆，在所述串联测试样品杆上安装一根电极，组装、焊接后得到并联测试杆主体；所述电极作为并联测试杆的第二正极(2)，所述串联测试样品杆的正极、负极分别作为并联测试杆的第一正极(1)、公共负极(3)；所述第二正极(2)与第一正极(1)、公共负极(3)的规格相同；3)制备电极套(5)，所述电极套(5)套设于并联测试杆主体下端的中心铜棒(4)的外部，用以连接第二正极(2)与并联测试杆下端的样品。2.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述步骤1)中，所述串联测试样品杆的正、负极由两根紫铜管组成，所述串联测试样品杆的下端为中心铜棒(4)，所述中心铜棒(4)、正极、负极通过电极固定件(6)固定；所述中心铜棒(4)通过其下端的紫铜固定件(7)与串联测试样品杆的负极连接，所述中心铜棒(4)与串联测试样品杆的正极绝缘；所述串联测试样品杆的正、负极上端由胶木板固定。3.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述步骤2)中，所述第一正极(1)、第二正极(2)及公共负极(3)均采用紫铜管，所述中心铜棒(4)、第一正极(1)、第二正极(2)及公共负极(3)分别通过电极固定件(6)固定；所述中心铜棒(4)通过其下端的紫铜固定件(7)与公共负极(3)连接，所述中心铜棒(4)与第一正极(1)、第二正极(2)绝缘。4.根据权利要求3所述的制备方法，其特征在于，所述电极固定件(6)的直径为55～65mm。5.根据权利要求3所述的制备方法，其特征在于，所述电极固定件(6)上开设有用以安装第一正极(1)、第二正极(2)及公共负极(3)的三个安装孔，且三个所述安装孔所在位置的连线呈等边三角形，所述等边三角形的中心开设有用以安装中心铜棒(4)的第四安装孔。6.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述步骤3)中，所述电极套(5)为紫铜电极套，呈中空圆柱形；所述紫铜电极套的侧面开设有用以保证样品与液氦充分接触的第五安装孔(8)。7.根据权利要求6所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建亚，郭强，王菲菲，钱佳涛，董茂胜，武博，史一功，赵永富，李建峰，刘向宏，冯勇，
申请(专利权)人：西部超导材料科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：