光片荧光显微镜制造技术

提供了一种光片荧光显微镜，包括：光源设备，被配置为发射适于诱发从样品发射的荧光的激发光；检测器设备，被配置为检测来自所述样品的荧光；以及光学系统，被配置为用由所述激发光形成的光片照明所述样品并将所述荧光从被照明的所述样品引导到所述检测器设备，其中所述光学系统包括面向所述样品的物镜，所述物镜被配置为收集从所述样品发射的所述荧光，其中所述光源设备还被配置为发射适于对所述样品进行光操纵的操纵光，并且其中所述光学系统还被配置为沿着不同于所述光片的光传播方向的光传播方向将所述操纵光通过所述物镜的入射光瞳的空间受限子区域导引到所述样品上。射光瞳的空间受限子区域导引到所述样品上。射光瞳的空间受限子区域导引到所述样品上。

【技术实现步骤摘要】
光片荧光显微镜


[0001]本专利技术涉及一种光片荧光显微镜。另外，本专利技术涉及一种借助于光片荧光显微镜使样品成像的方法。

技术介绍

[0002]光片荧光显微镜术是一种技术，其中用特定的激发光分布照明样品的薄片，该特定的激发光分布例如通过使用柱面透镜而仅聚焦在一个方向上。另一种照明方法使用在一个方向上扫描的准直光束，以创建形成光片的光分布。由于实际上观察的样品的只一部分被照明的事实，因此光片荧光显微术减少在活体样品上引起的光损伤和应力。此外，与逐点扫描样品的共焦激光扫描显微术形成对比，光片荧光显微术是一种宽视场技术，它允许基于穿过样品的不同平面的光学截面来生成图像的三维堆栈。
[0003]在通常的方法中，光片荧光显微镜包括分离的物镜，用于用光片照明样品并用于观察被照明的物体平面。近来，已经开发出了仅使用一个物镜进行照明和检测的光片方法。例如，通过照明高NA物镜的光瞳的小斑点，可以生成倾斜的光片。因此，使用倾斜的检测器配置对倾斜的物体平面成像。这种技术被称为“斜面显微术”(OPM)。通过使用扫描镜同时移动光片和待成像的物体平面，已经开发本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光片荧光显微镜(100，100a，100b)，包括：光源设备(102，202，302)，被配置为发射适于诱发从样品(110)发射的荧光(F)的激发光(E)，检测器设备(104，304)，被配置为检测来自所述样品(110)的所述荧光(F)，以及光学系统(106、306)，被配置为用由所述激发光(E)形成的光片(LS)照明所述样品(110)，并将所述荧光(F)从被照明的所述样品(110)引导到所述检测器设备(104，304)，其中所述光学系统(106，306)包括面向所述样品(110)的物镜(108)，所述物镜(108)被配置为收集从所述样品(110)发射的所述荧光(F)，其中所述光源设备(102，202，302)还被配置为发射适于对所述样品(110)进行光操纵的操纵光(M)，并且其中所述光学系统(106，306)还被配置为沿着与所述光片(LS)的光传播方向不同的光传播方向将所述操纵光(M)通过所述物镜(108)的入射光瞳(EP)的空间受限子区域导引到所述样品(110)上。2.根据权利要求1所述的光片荧光显微镜(100，100a，100b)，其中所述光学系统(106，306)被配置为通过所述物镜(108)用所述光片(LS)照明所述样品(110)。3.根据权利要求1或2所述的光片荧光显微镜(100，100a，100b)，其中所述空间受限子区域定位为相对于所述物镜(108)的所述入射光瞳(EP)的中心偏移。4.根据权利要求2或3所述的光片荧光显微镜(100，100a，100b)，其中所述光学系统(106，306)被配置为通过所述入射光瞳(EP)的另一个空间受限子区域将所述激发光(E)导引到所述样品(110)上，所述另一个子区域定位为相对于所述操纵光(M)通过其被导引到所述样品(110)上的所述子区域偏移。5.根据前述权利要求中任一项所述的光片荧光显微镜(100，100a，100b)，其中从所述物镜(108)朝着所述样品(110)发出的所述操纵光(M)的所述光传播方向相对于与由所述样品发射的所述荧光的光传播方向相反的方向具有在0到
±
45
°
的角度范围内的角度。6.根据前述权利要求中任一项所述的光片荧光显微镜(100，100a，100b)，其中所述光学系统(106，306)包括扫描镜设备(116，316)，所述扫描镜设备包括至少一个倾斜镜(122，332，334)，所述至少一个倾斜镜(122，332，334)是可倾斜的，用于反射所述激发光(E)以使所述光片(LS)整体上在与所述光片(LS)的所述光传播方向成横向的光片扫描方向移动通过所述样品(110)。7.根据权利要求6所述的光片荧光显微镜(100，100a，100b)，其中所述至少一个扫描镜(122，332，334)是可倾斜的，用于反射所述激发光(E)和所述操纵光(M)两者。8.根据权利要求6或7所述的光片荧光显微镜(100，100a)，其中所述扫描镜设备(116)包括扫描透镜(118)和位于所述扫描透镜(118)的后焦平面中的一个单个倾斜镜(122)。9.根据权利要求6或7所述的光片荧光显微镜(100b)，其中所述扫描镜设备(316)包括两个倾斜镜(332，334)，所述两个倾斜镜(332，334)定位为沿着所述光学系统(306)的光轴(O)彼此偏移。10.根据权利要求6至9中任一项所述的光片荧光显微镜(100，100a，100b)，其中所述扫描镜设备(116，316)被配置为当所述激发光(E)被所述至少一个扫描镜(122，332，334)反射时使所述激发光(E)的主光线平行地移置。
11.根据权利要求6至10中任一项所述的光片荧光显微镜(100，100a，100b)，其中所述至少一个倾斜镜(122，332，334)是可倾斜的，以将由所述物镜(108)收集的所述荧光(F)朝着所述检测器设备(104，304)反射。12.根据权利要求7至11中任一项所述的光片荧光显微镜(100)，包括光学移位单元(126)，所述光学移位单元(126)被配置为使所述操纵光(M)在所述至少一个可倾斜的反射镜(122)上的入射位置移位，用于独立于所述荧光(F)的所述光传播方向和/或独立于所述光片(LS)的所述光传播方向而改变导引到所述样品(110)上的所述操纵光(M)的所述光传播方向。13.根据权利要求12所述的光片荧光显微镜(100)，其中所述光学移位单元(126)包括反射或发射所述操纵光(M)的至少一个元件，所述元件可移动以移位所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：弗罗里安，
申请(专利权)人：莱卡微系统CMS有限责任公司，
类型：发明
国别省市：