【技术实现步骤摘要】
具有内建自测试逻辑的测试装置及方法
[0001]本专利技术一般涉及电子通信
，特别涉及一种具有内建自测试逻辑的测试装置及测试方法。
技术介绍
[0002]随着通信设备端口速率的提高，要求通信设备内物理层与介质访问控制层之间有非常高的信号传输速率。高速串行电信号在通信设备内经过一定的传输距离后，高频分量会产生衰减，信号传输速率越高，高频分量的衰减率越大。高频分量的减少会产生码间串扰，进而产生误码，影响数据准确性。目前的测试方法需要误码测试设备和额外的PCIe端点卡对通信设备中的数据进行测试，该测试方法需要依赖于第三方的端点卡。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的在于提供一种具有内建自测试逻辑的测试装置及方法，以定位物理层或介质访问控制层中的故障。
[0004]本申请公开了一种具有内建自测试逻辑的测试装置，包括设置于物理层和介质访问控制层之间的至少一个生成器和至少一个校验器，其中，
[0005]所述至少一个生成器被配置为产生协议模式以在所述物理层和所述介质访问控制层之间形成数据通路并...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种具有内建自测试逻辑的测试装置，包括设置于物理层和介质访问控制层之间的至少一个生成器和至少一个校验器，其中，所述至少一个生成器被配置为产生协议模式以在所述物理层和所述介质访问控制层之间形成数据通路并在所述数据通路中生成不同的伪随机位序列模式；所述至少一个校验器被配置依据所述伪随机位序列模式测试所述物理层和/或所述介质访问控制层中的数据流以定位故障位置。2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，每一个所述生成器包括协议模式生成器、伪随机位序列模式生成器和多路复用器，其中所述协议模式生成器和所述伪随机位序列模式生成器的输出连接至所述多路复用器。3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，每一个所述校验器包括协议模式校验器、伪随机位序列模式校验器和解复用器，其中所述解复用器的输出连接至所述协议模式校验器和所述伪随机位序列模式校验器。4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括第一逻辑电路，所述第一逻辑电路的输入端连接所述物理层与所述生成器，所述第一逻辑电路的输出端连接所述介质访问控制层。5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括第二逻辑电路，所述第二逻辑电路的输入端连接所述介质访问控制层与所述生成器，所述第二逻辑电路的输出端连接所述物理层。6.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述至少一个校验器测试所述数据流的比特误码率。7.如权利要求1所述的测试装置，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：王丹，范然然，朱肖，常仲元，刘新，
申请(专利权)人：澜起科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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