一种光介电材料的光介电响应测试仪及测试方法技术

本发明专利技术公开了一种光介电材料的光介电响应测试仪及测试方法，所述测试仪包括计算机和可变波长光源、可多向平移的样品台、遮光板、LCR表，遮光板固定在旋转轴上，旋转轴带动遮光板旋转，遮光板上分布有透光部位与遮光部位，遮光板的透光部位布置有滤光片，样品台平移控制器、遮光板旋转轴控制器、可变波长光源和LCR表统一受计算机控制。本发明专利技术不仅能测试单光源下的不同测试频率的光介电响应，还可以测试不同波长以及不同光强下的光介电响应，同时可以利用遮光板实现开关特性的测试，是一套完备的光介电测试系统，它包含了不同光波长，不同光强度，不同信号频率等多种变化因素，节约了测试时间，降低了测试的劳动强度。降低了测试的劳动强度。降低了测试的劳动强度。

【技术实现步骤摘要】
一种光介电材料的光介电响应测试仪及测试方法


[0001]本专利技术涉及材料性能测试领域，具体涉及一种光介电材料的光介电响应测试仪及测试方法。

技术介绍

[0002]光介电材料是具有光介电效应的一种材料，光介电效应是一个物理效应，是指材料在光激发下的响应引起的介电常数的变化，其一般用介电可调率n来表示，光介电材料对于开发非接触式光电耦合器件提供了实现途径，为新型光电器件的设计提供了技术支持。
[0003]目前，对光介电的研究甚少，缺乏配套的测试设备，依靠简单组装的测试存在手动进行光源的更换，测量过程花费大量时间和人力；无法保证每次测试的光源与样品位置处于同一位置，对测试结果的准确性具有一定的影响，而且能够测试的性能也比较单一。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种准确测量光介电材料的光介电响应(介电可调率和开关响应)参数的测试仪以及相应的测试方法，该测试仪可以测量光介电材料在不同光波长、不同光强度下和不同测试信号频率时的介电响应以及开关特性，能够节约测试时间和降低测试的劳动强度。/>[0005]光介本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光介电材料的光介电响应测试仪，包括可变波长光源和计算机，其特征在于，还包括可多向平移的样品台、遮光板和LCR表，遮光板的平面中心固定在旋转轴上，遮光板上分布有透光部位与遮光部位，遮光板的透光部位布置有滤光片，样品台平移控制器、遮光板旋转轴控制器、可变波长光源和LCR表都连接到计算机上。2.根据权利要求1所述的光介电响应测试仪，其可变波长光源由氘灯与卤钨灯产生，其光波波长为190nm
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2000nm。3.根据权利要求1或2所述的光介电响应测试仪，其中所述的可多向平移样品台布置有调温装置，用于调节样品台台面放置的样品温度。4.一种光介电材料的光介电响应测试方法，采用权利要求1所述的光介电响应测试仪，其特征在于，包括以下步骤：(1)将测试样品固...

【专利技术属性】
技术研发人员：许积文，张杰，饶光辉，余文杰，杨玲，王华，
申请(专利权)人：桂林电子科技大学，
类型：发明
国别省市：