【技术实现步骤摘要】
显示面板的检测方法
[0001]本申请涉及显示
，特别是涉及一种显示面板的检测方法。
技术介绍
[0002]显示面板出厂前通常要进行质量检测，检测效果的好坏影响到显示面板的良率。其中，元件之间的信号传输性能是显示面板出厂前检测的重要指标。传统的元件之间的信号传输性能检测方式工序复杂，检测效率低。
技术实现思路
[0003]基于此，针对元件之间的信号传输性能的检测效率低的问题，提供一种显示面板的检测方法。
[0004]一种显示面板的检测方法，包括：
[0005]建立检测数据库，所述检测数据库包括基准电阻和基准侧刻量的对应关系，所述基准电阻是通过基准过孔的基准电路的电阻，所述基准侧刻量是所述基准过孔的侧刻量，所述基准电路包括填充所述基准过孔的基准导体以及与所述基准导体连接的基准元件。
[0006]测量通过检测过孔的检测电路的检测电阻，所述检测电路包括填充所述检测过孔的检测导体以及与所述检测导体连接的检测元件；
[0007]根据所述检测数据库和所述检测电阻得到所述检测过孔的检测...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：建立检测数据库，所述检测数据库包括基准电阻和基准侧刻量的对应关系，所述基准电阻是通过基准过孔(30)的基准电路的电阻，所述基准侧刻量是所述基准过孔(30)的侧刻量，所述基准电路包括填充所述基准过孔(30)的基准导体(40)以及与所述基准导体(40)连接的基准元件(180)；测量通过检测过孔(300)的检测电路的检测电阻，所述检测电路包括填充所述检测过孔(300)的检测导体(400)以及与所述检测导体(400)连接的检测元件(600)；根据所述检测数据库和所述检测电阻得到所述检测过孔(300)的检测侧刻量。2.如权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述建立检测数据库，所述检测数据库包括基准电阻和基准侧刻量的对应关系，所述基准电阻是通过基准过孔(30)的基准电路的电阻，所述基准侧刻量是所述基准过孔(30)的侧刻量，所述基准电路包括填充所述基准过孔(30)的基准导体(40)以及与所述基准导体(40)连接的基准元件(180)的步骤包括：提供基准显示面板(10)，对所述基准过孔(30)侧刻蚀，所述基准显示面板(10)包括基准膜层(100)，所述基准膜层(100)开设有所述基准过孔(30)；在所述基准过孔(30)中填充所述基准导体(40)，使所述基准导体(40)与所述基准元件(180)连接形成所述基准电路，并测量所述基准电路的基准电阻；对所述基准膜层(100)切片以获得所述基准过孔(30)的基准侧刻量；根据所述基准电阻和所述基准侧刻量的对应关系建立所述检测数据库。3.如权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述基准元件(180)为基准薄膜晶体管，所述提供基准显示面板(10)，对所述基准过孔(30)侧刻蚀，所述基准显示面板(10)包括基准膜层(100)，所述基准膜层(100)开设有所述基准过孔(30)的步骤包括以下步骤：在基准衬底(200)的表面形成基准源漏极层(140)，所述基准源漏极层(140)包括基准源极(142)和基准漏极(143)；在所述基准源漏极层(140)远离所述基准衬底(200)的表面形成所述基准膜层(100)；在所述基准膜层(100)间隔开设两个所述基准过孔(30)，以形成所述基准显示面板(10)，两个所述基准过孔(30)分别与所述基准源极(142)和所述基准漏极(143)一一对应连接。4.如权利要求3所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述在所述基准过孔(30)中填充所述基准导体(40)，使所述基准导体(40)与所述基准元件(180)连接形成所述基准电路，并测量所述基准电路的基准电阻的步骤包括以下步骤：在两个所述基准过孔(30)中各填充一个所述基准导体(40)，所述基准源极(142)、所述基准漏极(143)、所述基准源极(142)与所述基准漏极(143)之间的基准沟道(144)和两个所述基准导体(40)构成所述基准电路；测量所述基准电路的电阻得到所述基准电阻。5.如权利要求4所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述在两个所述基准过孔(30)中各填充一个所述基准...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙洋，李勃，李素华，王石，任腾，
申请(专利权)人：合肥维信诺科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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