用于验证测量站中的密度和/或粘度测量装置的方法制造方法及图纸

技术编号:28730887 阅读:10 留言:0更新日期:2021-06-06 08:28
本发明专利技术涉及一种在正在进行的操作期间,用于验证工艺安装件的测量站中的,优选地强制性认证的,密度和/或粘度测量装置的方法,其中介质,尤其是含烃的介质,流过工艺安装件的主通道。该方法包括以下步骤:

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于验证测量站中的密度和/或粘度测量装置的方法


[0001]本专利技术涉及一种用于在正在进行的操作期间,验证工艺安装件的测量站中的密度和/或粘度测量装置的方法,并且涉及一种用于在工艺安装件的正在进行的操作期间,借助于基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置来检查工艺安装件的测量站中的密度和/或粘度测量装置的设备。

技术介绍

[0002]密度和/或粘度测量装置尤其用于在正在进行的操作期间,即在连续执行工艺的情况下,记录工艺安装件中的介质的密度和/或粘度。在这种情况下,密度和/或粘度的记录发生在存在进行该工艺所需的工艺条件的情况下。这些工艺条件尤其涉及温度和压力。
[0003]为了保证测量的结果的可靠性,必须周期性地检查这些测量装置。存在不同的选项可用于执行这个检查。这些是:
[0004]·
在敞口容器中取样,并且在现场利用比重计或替代性地利用基于振荡U型管的移动式手持式密度计进行测量。这种方法具有这样的缺点,即测量不能在工艺压力下进行。这在具有易挥发性部分(蒸汽压明显低于1巴绝对值)的介质的情况下尤其有问题,因为样品在取样和样品测量之间会发生变化。
[0005]·
在密闭容器中取样,并且随后在实验室中利用比重瓶或基于振荡U型管法的实验室测量装置进行测量。有了这些实验室测量,测量的准确性比在现场测量的情况下更高。然而,同样在这种情况下,不能在存在工艺条件(T和p)的情况下进行测量。而且,挥发性部分即使在封闭的瓶中也容易蒸发,并且在打开时逸出。因此,即使在这种情况下,样本也潜在地被破坏。
[0006]借助于压力比重瓶在工艺压力下在现场进行的测量用于在玻璃或金属活塞中提供精确、可再现体积的介质。通过称量空的和经填充的活塞,可以确认介质的密度。如果人们应用配备有压力和温度测量装置的稳健且绝缘的金属活塞,则测量也可以在高压下和在工艺温度下进行。该测量方法非常精确、带有细致的工作和复杂的清洁和测试程序,并且提供了在工艺压力和工艺温度下进行测量的机会。然而,问题是活塞的复杂清洁。尤其是在具有高粘度的粘性介质的情况下,介质的残余物可能残留在活塞的壁上,并且因此影响结果。
[0007]所有上述方法中的缺点在于测量后必须处理介质。
[0008]为了克服这个缺点,最近已经努力为工业界建立了另一测试方法。为此,提供了一种主密度测量装置或控制密度测量装置,其与待检查/验证的测量装置串联安装在车间中。在这种情况下,以提供分支路径的方式进行安装,其中可以连接主密度测量装置或控制密度测量装置。为了尽可能不改变通过车间的介质的流量,分支路径与测量装置位于的实际工艺路径相匹配,即分支路径具有例如等于工艺路径的标称管直径的标称管直径和/或与其串联连接。这些措施不仅实施起来非常耗时,而且还相对昂贵。
[0009]因此,本专利技术的目的是克服以上描述的技术状态的缺点。

技术实现思路

[0010]根据本专利技术,目的通过如权利要求1限定的方法和如权利要求9限定的设备来实现。
[0011]本专利技术的方法用于在正在进行的操作期间,验证工艺安装件的测量站中的(优选地强制性认证的)密度和/或粘度测量装置,其中介质(尤其是含烃的介质)流过工艺安装件的主通道,该方法包括以下步骤:
[0012]‑
提供侧通道,该侧通道作为主通道的旁路被连接,其中侧通道经由主通道的具有相互不同的直径的两个区域被流体连接到主通道;
[0013]‑
在侧通道中提供基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置,使得基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置被介质流过;
[0014]‑
用基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置执行至少一次验证测量;
[0015]‑
基于由基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置执行的至少一个验证测量,验证密度和/或粘度测量装置。
[0016]与上述方法相比,本专利技术的方法具有许多优点,例如:
[0017]·
验证测量在实际工艺条件下连续进行,并可以在需要时执行和重复。
[0018]·
不需要特殊装备,诸如用于利用比重计进行测量的样品容器或用于实验室中的后续测量的样品瓶,或带有闸阀、压力和温度传感器的特殊连接件,以及用于在现场利用压力比重瓶进行测量的带参考重量的秤。
[0019]·
测量简单,且不易失效。
[0020]·
在需要的情况下,测量可以是自动化的。
[0021]·
这种测量方法在其中介质的密度快速变化的应用中特别有利。
[0022]·
没有介质损失,并且因此也没有废物产生。
[0023]另外,本专利技术方法的实施例的有利形式包括以下步骤:
[0024]‑
提供主通道适配器,该主通道适配器被布置在主通道中或主通道处,并且该主通道适配器适于以这样的方式控制通过侧通道的介质的流动,即仅当基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置被机械地连接到主通道适配器时,侧通道由介质流过。
[0025]另外,本专利技术方法的实施例的另一有利形式包括以下步骤:
[0026]‑
优选地作为传感器适配器的一部分,在侧通道中提供至少一个可更换的过滤器元件,其中,过滤器元件在流动方向上被布置在基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置之前,使得介质在进入到基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置中之前被过滤。
[0027]特别地,实施例的形式可以提供基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置可释放地被连接到主通道适配器,并且因此仅由介质流过以便进行至少一个验证测量,和/或在正在进行的操作中在至少一个验证测量之后,基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置被从主通道适配器断开连接。主通道适配器优选地设置在工艺安装件的构建物上,并相应地布置在主通道中,使得它连续地保持在车间中。由于主通道适配器在车间中的连续存在,主密度测量装置或控制密度测量装置与用于执行验证测量的主通道适配器的稍后连接可以在无需工具的情况下进行。
[0028]本专利技术方法实施例的另一有利形式提供了基于MEMS的主密度或控制密度测量装
置被检查,优选被反复地检查,尤其优选地被用参考介质在实验室中检查,该参考介质优选地通过基于国家标准的测量程序进行测量。特别地,实施例的形式可以提供,基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置被应用于另一测量站处以验证另一密度和/或粘度测量装置,并且另一测量站优选地具有附加的主通道适配器,基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置被机械地连接到该附加的主通道适配器。
[0029]本专利技术的方法的实施例的另一有利形式提供了基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置被密封地安装在主通道适配器处。
[0030]本专利技术方法实施例的另一有利形式提供了为了验证密度和/或粘度测量装置,对表示正在进行的操作中的测量站的温度和/或压力进行考虑。
[0031]本专利技术本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种在正在进行的操作期间用于验证工艺安装件的测量站中的,优选地强制性认证的,密度和/或粘度测量装置的方法,其中介质,尤其是含烃的介质,流过所述工艺安装件的主通道,所述方法包括以下步骤:

提供侧通道,所述侧通道作为所述主通道的旁路被连接,其中,所述侧通道经由所述主通道的具有相互不同的直径的两个区域被流体连接到所述主通道(S100);

在所述侧通道中提供基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置,使得所述基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置被所述介质流过(S200);

用所述基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置执行至少一次验证测量(S300);

基于由所述基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置执行的所述至少一个验证测量,验证所述密度和/或粘度测量装置(S400)。2.根据权利要求1所述的方法,还包括如下步骤:

提供主通道适配器,所述主通道适配器被布置在所述主通道中或所述主通道处,并且所述主通道适配器适于控制通过所述侧通道的所述介质的流动,以使得仅当所述基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置被机械地连接到所述主通道适配器时,所述侧通道由所述介质流过(S101)。3.根据权利要求1或2所述的方法,还包括如下步骤:

优选地作为传感器适配器的一部分,在所述侧通道中提供至少一个可更换的过滤器元件,其中,所述过滤器元件在所述流动方向上被布置在所述基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置之前,使得所述介质在进入到所述基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置中之前被过滤(S102)。4.根据权利要求2或3所述的方法,其中,所述基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置可释放地被连接到所述主通道适配器,并且因此仅由所述介质流过以便进行所述至少一个验证测量。5.根据前述权利要求所述的方法,其中,在正在进行的操作中所述至少一个验证测量之后,所述基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置被从所述主通道适配器断开连接。6.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述基于MEMS的主密度或控制密度测量装置被检查,优选地被反复地检查,尤其优选地被用参考介质在实验室中检查,所述参考介质优选地借助于基于国家标准的测量程序进行测量(S500)。7.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置被应用于另一测量站处以验证另一密度和/或粘度测量装置,并且所述另一测量站优选地具有附加的主通道适配器,所述基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置被机械地连接到所述附加的主通道适配器。8.根据权利要求1至3或7中任一项所述的方法,其中,所述基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量装置被密封地安装在所述主通道适配器处。9.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,为了验证所述密度和/或粘度测量装置,对表示正在进行的操作中的所述测量站的温度和/或压力进行考虑。10.一种在正在进行的操作期间,借助于基于MEMS的主密度测量装置或控制密度测量
装置(10),用于验证工艺安装件(3)的测量站(2)中的,优选地强制性认证的,密度和/或粘度测量装置(1)的设备,其中所述测量站(2)包括:

主通道(4),在所述工艺安装件的正在进行的操作中,介质(5)尤其是含烃的介质流过所述主通道(4),其中,所述主通道(4)具有带有相互不同的直径(D1,D2)的至少两个区域(6,7);

密度和/或粘度测量装置(1),所述密度和/或粘度测量装置被布置在所述主通道(4...

【专利技术属性】
技术研发人员:斯蒂芬
申请(专利权)人:特鲁达因传感器股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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