【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及用于检测物体如手指或笔与触摸屏装置的接触的触摸屏装置,特别涉及通过利用激励元件和接收元件检测声表面波(SAW)的衰减和截止来检测物体的接触位置的触摸屏装置,其中在压电体上形成电极来构成激励元件和接收元件。
技术介绍
随着计算机系统、主要是个人计算机的广泛使用,已经采用通过用物体如手指或笔点击在其上由计算机系统显示信息的显示装置的显示屏的位置来输入新信息或向计算机系统提供各种指令的装置。为了通过触摸法对在个人计算机等的显示装置的显示屏上显示的信息进行输入操作,必须高度精确地检测显示屏上的接触位置(点击位置)。用于检测物体如手指和笔的接触位置的触摸屏装置的公知例子是采用电阻膜的装置和采用超声波的装置。前一种采用电阻膜的装置检测由物体对电阻膜的接触产生的电阻膜的电阻的变化,这种装置的优点是功耗低,但是其响应时间、检测性能和耐久性方面有问题。相比之下,在采用超声波的装置中,例如通过在非压电基板上传播声表面波,并检测由物体如手指和笔与非压电基板的接触产生的声表面波的衰减来检测物体的接触位置。有人已经研制了一种触摸屏装置,该装置采用梳状电极(IDT交叉指传感 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:胜木隆史,中沢文彦,佐野聡,高桥勇治,
申请(专利权)人:富士通株式会社,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。