薄膜处理系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种薄膜处理系统。所述薄膜处理系统包括：第一主动辊，进入第一主动辊的薄膜带上包括沿薄膜带的长度方向上重复排布的第一图案，其中第一图案包括第一对位标识；上胶装置，其被配置的在薄膜带上形成胶层；第二主动辊，第二主动辊为辊面上设置有压印结构，所述第二主动辊的辊面压印在所述薄膜带的胶层上以在所述薄膜带的胶层上形成重复排布的第二图案，其中第二图案包括第二对位标识；对位检测装置，其检测薄膜带上的第一图案的第一对位标识和第二图案的第二对位标识的对位偏差；控制器，其被配置的基于得到的对位偏差调控第一主动辊和第二主动辊的转速，进而使得所述对位偏差收敛于预定偏差阈值范围。所述对位偏差收敛于预定偏差阈值范围。所述对位偏差收敛于预定偏差阈值范围。

【技术实现步骤摘要】
薄膜处理系统


[0001]本技术涉及薄膜处理领域，尤其涉及一种薄膜处理系统。

技术介绍

[0002]现有技术中的卷对卷压印设备一般用于单层结构压印。对多层柔性印刷电路(Flexible Printed Circuit，FPC)，包括触控模组在内，传统方案都是逐片制备 (曝光、刻蚀、对准贴合)，制程工效低、折叠性差、大尺寸电路线宽大约10 微米，还存在污染问题。
[0003]将卷对卷压印设备应用于柔性印刷电路中还会存在另一个难以克服的问题。由于所述柔性印刷电路具有柔性，很难精确的控制所述柔性印刷电路张力或拉伸度，这样在后续的曝光、刻蚀或对准贴合等处理中很难进行对位。现有技术中通常采用张力辊来检测所述柔性印刷电路的张力或拉伸度，然而目前的张力辊存在检测精度不足等问题，对所述柔性印刷电路的张力或拉伸度的控制不能满足正常的工业生产的要求。
[0004]此外，在薄膜上进行进一步的处理，比如对准压印等步骤时，需要的对准精度比较高，目前的卷对卷压印设备在应用于柔性薄膜的进一步处理时通常会遇到对位精度不能满足要求的问题。r/>[0005]因本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种薄膜处理系统，其特征在于，其包括:第一主动辊，其被配置的可受控的转动，薄膜带经由第一主动辊被驱动的向前传送，进入第一主动辊的薄膜带上包括沿薄膜带的长度方向上重复排布的第一图案，其中第一图案包括第一对位标识；上胶装置，其被配置的在来自第一主动辊方向的薄膜带上形成胶层；第二主动辊，其被配置的可受控的转动，形成胶层后的薄膜带经由第二主动辊被驱动的向前传送，第二主动辊为辊面上设置有压印结构，所述第二主动辊的辊面压印在所述薄膜带的胶层上以在所述薄膜带的胶层上形成重复排布的第二图案，其中第二图案包括第二对位标识；对位检测装置，其检测从第二主动辊传出的薄膜带上的第一图案的第一对位标识和第二图案的第二对位标识的对位偏差；控制器，其被配置的基于所述对位检测装置得到的对位偏差调控第一主动辊和第二主动辊的转速，进而使得所述对位偏差收敛于预定偏差阈值范围。2.根据权利要求1所述的薄膜处理系统，其特征在于，其还包括：拉伸检测装置，其被配置的检测位于第一主动辊和第二主动辊之间的薄膜带上的两个拉伸定位标识之间的距离值；所述控制器还被配置的基于所述拉伸检测装置检测得到的距离值调控第一主动辊和第二主动辊的转速，进而使得所述距离值收敛于预定距离阈值范围。3.根据权利要求2所述的薄膜处理系统，其特征在于，每个第一图案上设置有一个拉伸定位标识，所述拉伸检测装置检测所述薄膜带上的相邻的两个第一图案上的两个拉伸定位标识之间的距离值；或者每个第一图案上设置有多个拉伸定位标识，所述检测装置检测所述薄膜带上的每个第一图案上的任意两个拉伸定位标识之间的距离值和/或相邻的第一图案上任意两个拉伸定位标识之间的距离值；或者将第一图案上的第一对位标识中的一个或多个用作拉伸定位标识。4.根据权利要求2所述的薄膜处理系统，其特征在于，在检测得到的距离值大于所述预定距离阈值范围时，所述控制器调控第一主动辊和第二主动辊的转速，使得自第一主动辊传出的薄膜带的速度大于自第二主动辊传出的薄膜带的速度，在检测得到的距离值小于所述预定距离阈值范围时，所述控制器调控第一主动辊和第二主动辊的转速，使得自第一主动辊传出的薄膜带的速度小于自第二主动辊传出的薄膜带的速度。5.根据权利要求2所述的薄膜处理系统，其特征在于，所述控制器调控第一主动辊和第二主动辊的转速时，检测得到的对位偏差收敛于预定偏差阈值范围的优先级高于检测得到的距离值收敛于预定距离阈值范围的优先级。6.根据权利要求2所述的薄膜处理系统，其特征在于，所述对位检测装置包括光电传感器或图像采集装置；或所述拉伸检测装置包括光电传感器或图像采集装置。7.根据权利要求1所述的薄膜处理系统，其特征在于，
所述对位检测装置持续检测每组对应的第一图案和第二图案的对位偏差，在所述对位检测装置检测得到的当前对位偏差超出预定偏差阈值范围时，所述控制器调控第一主动辊和第二主动辊的转速，进而调节第一主动辊和第二主动辊之间的薄膜带的拉伸程度，以便使得后续检测得到的对位偏差更接近所述预定偏差阈值范围，通过一次或多次调控使得所述对位偏差收敛于预定偏差阈值范围。8.根据权利要求7所述的薄膜处理系统，其特征在于，第一图案的第一对位标识包括多个，第二图案的第二对位标识包括多个，多个第一对位标识和多个第二对位标识分别对应，对位检测装置会针对一组对应的第一图案和第二图案检测得到多个对应的第一对位标识和第二标识的多个对位偏差，所述控制器调控第一主动辊和第二主动辊的转速，进而使得针对每组对应的第一图案和第二图案检测得到的每个对位偏差均收敛于预定偏差阈值范围。9.根据权利要求1所述的薄膜处理系统，其特征在于，其还包括：在薄膜带的传送路径上位于第一主动辊和第二主动辊之间的辊组，其包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏国军，卢国，周杨，周小红，范广飞，魏玉宽，毛立华，陈林森，
申请(专利权)人：苏州苏大维格科技集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：