测试具有通用串行总线接口的存储装置的方法及存储装置制造方法及图纸

本发明专利技术是测试具有通用串行总线（ＵＳＢ）接口的存储装置的测试方法，其应用于存储装置，所述存储装置至少包含有ＵＳＢ接口、一个连接ＵＳＢ接口的ＵＳＢ控制器、至少一个连接ＵＳＢ控制器的半导体存储器，该方法包括下列步骤：ＵＳＢ控制器经由ＵＳＢ接口接收由主机传送的测试命令；在ＵＳＢ控制器接收到测试命令后，ＵＳＢ控制器对半导体存储器进行写入及读出，并对比写入及读出的两份数据是否相同，以测试半导体存储器是好是坏；在ＵＳＢ控制器完成对半导体存储器的读写测试后，ＵＳＢ控制器经由ＵＳＢ接口向主机传送测试结果数据。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试具有半导体存储器的存储装置的测试方法及其存储装置，特别涉及一种测试具有通用串行总线(USB-Universal Serial Bus)接口的存储装置的测试方法，以及一种具有自测试通用串行总线接口的存储装置。
技术介绍
已知具有快速存储器的存储装置，例如为USB快速随机存储器(USBFlash RAM Drive)的存储装置，其测试方式是由主机送出测试数据(testpattern)，经由USB总线读写快速存储器，将测试数据写入快速存储器，然后读取快速存储器，在主机上对比测试数据和读取数据，这样的已知方式完成测试所需的时间相当长，尤其是对存储容量大的存储装置的测试更为耗时。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种测试具有通用串行总线(USB)接口的存储装置的测试方法，使得能够快速完成对存储装置的测试。 本专利技术的另一目的是提供一种具有自测试通用串行总线(USB)接口的存储装置，其能够在接收到测试命令之后，自动快速完成测试。 为实现本专利技术的目的，本专利技术提供一种测试具有通用串行总线(USB)接口的存储装置的测试方法，其应用于存储装置，其中存储装置至本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试具有通用串行总线（ＵＳＢ）接口的存储装置的测试方法，其应用于存储装置，该存储装置至少包含有ＵＳＢ接口、一个连接该ＵＳＢ接口的ＵＳＢ控制器、至少一个连接该ＵＳＢ控制器的半导体存储器，该测试方法包括下列步骤：.该ＵＳＢ控制器经由该ＵＳＢ接口接收由主机传送的测试命令；.在该ＵＳＢ控制器接收到该测试命令后，该ＵＳＢ控制器对该半导体存储器进行写入及读出，并对比该写入及读出的两份数据是否相同，以测试该半导体存储器是好是坏；.在该ＵＳＢ控制器完成对该半导体存储器的读写测试后，该ＵＳＢ控制器经由该ＵＳＢ接口向该主机传送测试结果数据。

【技术特征摘要】
的范围之内。权利要求1.一种测试具有通用串行总线接口的存储装置的测试方法，其应用于存储装置，该存储装置至少包含有通用串行总线接口、一个连接该通用串行总线接口的通用串行总线控制器、至少一个连接该通用串行总线控制器的半导体存储器，该测试方法包括下列步骤·该通用串行总线控制器经由该通用串行总线接口接收由主机传送的测试命令；·在该通用串行总线控制器接收到该测试命令后，该通用串行总线控制器对该半导体存储器进行写入及读出，并对比该写入及读出的两份数据是否相同，以测试该半导体存储器是好是坏；·在该通用串行总线控制器完成对该半导体存储器的读写测试后，该通用串行总线控制器经由该通用串行总线接口向该主机传送测试结果数据。2.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱延诚，叶奇典，邱文彬，
申请(专利权)人：义隆电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]