放大器芯片预匹配测试装置及测试系统制造方法及图纸

技术编号:28694955 阅读:16 留言:0更新日期:2021-06-02 03:25
本实用新型专利技术提供了一种放大器芯片预匹配测试装置及测试系统,在测试电路板上设置有测试电路,测试电路包括宽带隔直电容、输入阻抗变换线及输出阻抗变换线,宽带隔直电容与输入阻抗变换线串联,放大器芯片的射频输入端和射频输出端分别搭接在输入阻抗变换线及输出阻抗变换线上,输入阻抗变换线的阻抗沿第一同轴微带转换器至放大器芯片的方向逐渐减小,以将输入阻抗降低并加载至放大器芯片上,输出阻抗变换线的阻抗沿放大器芯片至第二同轴微带转换器的方向逐渐增大,以将输出阻抗提高后输出。本实用新型专利技术采用输入阻抗变换线及输出阻抗变换线进行阻抗变换,使得测试装置的阻抗和放大器芯片的阻抗匹配,提高了测试范围和测试灵敏度。

【技术实现步骤摘要】
放大器芯片预匹配测试装置及测试系统
本技术涉及通信
,尤其涉及一种放大器芯片预匹配测试装置及测试系统。
技术介绍
射频放大器芯片广泛的应用于各类收发系统中,是发射机的核心器件。射频放大器芯片在研发过程中,需要对其关键性能进行准确表征测试,从而为放大器芯片的研制提供关键的设计参数。现有的应用于射频放大器芯片的预匹配测试装置的阻抗通常为50欧姆,而待测件放大器芯片的阻抗远小于测试装置的阻抗,通常小于5欧姆。如果测试装置的阻抗和待测件的阻抗相差太大,会导致阻抗失配,在失配状态下输入的大部分射频能量就会被反射回来,无法有效的加载到待测件上;同时待测件产生的射频能量也无法有效的输出到测试装置上,此时测试得到的性能就远小于待测件的真实性能,同时在失配转态下传输线上会形成驻波,有损坏待测件和测试夹具的风险。综上,现有的放大器芯片预匹配测试装置存在的问题为:测试范围窄、测试灵敏度低,无法准确地反映出放大器芯片的真实性能,存在损坏待测件和测试夹具的风险。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种放大器芯片预匹配测试装置及测试系统,以扩大放大器芯片预匹配测试的测试范围,提高测试灵敏度,保障待测件和测试夹具的安全性。为了达到上述目的,本技术提供了一种放大器芯片预匹配测试装置,包括:底座,用于承载测试电路板;测试电路板,所述测试电路板上设置有测试电路,所述测试电路包括宽带隔直电容、输入阻抗变换线及输出阻抗变换线,所述宽带隔直电容与输入阻抗变换线串联,所述输入阻抗变换线及所述输出阻抗变换线之间的测试电路板向下凹陷形成容置空间,放大器芯片设置于所述容置空间中,且所述放大器芯片的射频输入端和射频输出端分别搭接在所述输入阻抗变换线及输出阻抗变换线上;第一同轴微带转换器,位于所述底座的一侧,用于将射频输入信号耦合至所述宽带隔直电容中;第二同轴微带转换器,位于所述底座的另一侧,用于将所述输出阻抗变换线输出的测试信号耦合出;所述输入阻抗变换线的阻抗沿所述第一同轴微带转换器至所述放大器芯片的方向逐渐减小,所述输出阻抗变换线的阻抗沿所述放大器芯片至所述第二同轴微带转换器的方向逐渐增大。可选的,所述输入阻抗变换线的宽度沿所述第一同轴微带转换器至所述放大器芯片的方向逐渐增大,所述输出阻抗变换线的宽度沿所述放大器芯片至所述第二同轴微带转换器的方向逐渐减小。可选的,所述测试电路还包括宽带供电电路,所述宽带供电电路包括直流电源接口及宽带射频扼流圈,所述宽带射频扼流圈的一端与所述直流电源接口连接,所述放大器芯片的供电端搭接在所述宽带射频扼流圈的另一端,所述直流电源接口连接一直流电源,当所述放大器芯片与所述测试电路板的电连接时,所述直流电源为所述放大器芯片供电。可选的,所述第一同轴微带转换器及所述第二同轴微带转换器同轴设置。可选的,还包括压接机构,所述压接机构用于压接所述放大器芯片,以实现所述放大器芯片与所述测试电路板的电连接。可选的,所述压接机构包括第一驱动器及压接块,所述压接块正对于所述放大器芯片的正面,所述第一驱动器驱动所述压接块向下运动以压接所述放大器芯片。可选的,所述容置空间的底部还设置有升降调节机构,所述升降调节机构用于将所述放大器芯片底部的接地安装块顶起,所述升降调节机构与所述压接机构配合动作,以实现所述放大器芯片与所述测试电路板的电连接。可选的,所述升降调节机构包括第二驱动器及顶柱,所述顶柱正对于所述放大器芯片的背面,所述第二驱动器驱动所述顶柱向上运动以将所述放大器芯片底部的接地安装块顶起至预设位置。可选的,所述底座内设置有水冷通道,所述水冷通道与循环冷水机连接,所述循环冷水机为所述水冷通道循环注入冷却水。本技术还提供了一种测试系统,该测试系统包括上述的放大器芯片预匹配测试装置。在本技术提供的放大器芯片预匹配测试装置及测试系统中,第一同轴微带转换器将射频输入信号耦合至所述宽带隔直电容中,宽带隔直电容与输入阻抗变换线串联,放大器芯片的射频输入端和射频输出端分别搭接在输入阻抗变换线及输出阻抗变换线上,且输入阻抗变换线的阻抗沿第一同轴微带转换器至放大器芯片的方向逐渐减小,以将输入阻抗降低并加载至放大器芯片上,输出阻抗变换线的阻抗沿放大器芯片至第二同轴微带转换器的方向逐渐增大,以将输出阻抗提高后输出。本技术采用输入阻抗变换线及输出阻抗变换线进行阻抗变换,使得测试装置的阻抗和放大器芯片的阻抗匹配,提高了测试范围和测试灵敏度。附图说明图1为本技术实施例提供的放大器芯片预匹配测试装置的整体结构示意图;图2为本技术实施例提供的放大器芯片预匹配测试装置的局部结构示意图;图3a为本技术实施例提供的输入阻抗变换线的结构示意图;图3b为本技术实施例提供的输出阻抗变换线的结构示意图;图4为本技术实施例提供的测试电路的电路图。其中,附图标记为:100-底座;101-水冷通道;200-测试电路板;C-宽带隔直电容;L-宽带射频扼流圈;201-输入阻抗变换线;202-输出阻抗变换线;203-容置空间;301-第一同轴微带转换器;302-第二同轴微带转换器;400-放大器芯片;401-接地安装块;500-压接机构;501-第一驱动器;502-压接块;600-升降调节机构;601-第二驱动器;602-顶柱。具体实施方式下面将结合示意图对本技术的具体实施方式进行更详细的描述。根据下列描述,本技术的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本技术实施例的目的。在本技术的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。图1为本实施例提供的放大器芯片预匹配测试装置整体结构示意图,图2为本实施例提供的放大器芯片预匹配测试装置局部结构示意图。结合图1及图2所示,本实施例提供了一种放大器芯片预匹配测试装置,包括底座100、测试电路板、第一同轴微带转换器301及第二同轴微带转换器302,所述底座100上设置测试电路板,所述测试电路板上设置有测试电路,用于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种放大器芯片预匹配测试装置,其特征在于,包括:/n底座,用于承载测试电路板;/n测试电路板,所述测试电路板上设置有测试电路,所述测试电路包括宽带隔直电容、输入阻抗变换线及输出阻抗变换线,所述宽带隔直电容与输入阻抗变换线串联,所述输入阻抗变换线及所述输出阻抗变换线之间的测试电路板向下凹陷形成容置空间,放大器芯片设置于所述容置空间中,且所述放大器芯片的射频输入端和射频输出端分别搭接在所述输入阻抗变换线及输出阻抗变换线上;/n第一同轴微带转换器,位于所述底座的一侧,用于将射频输入信号耦合至所述宽带隔直电容中;/n第二同轴微带转换器,位于所述底座的另一侧,用于将所述输出阻抗变换线输出的测试信号耦合出;/n所述输入阻抗变换线的阻抗沿所述第一同轴微带转换器至所述放大器芯片的方向逐渐减小,所述输出阻抗变换线的阻抗沿所述放大器芯片至所述第二同轴微带转换器的方向逐渐增大。/n

【技术特征摘要】
1.一种放大器芯片预匹配测试装置,其特征在于,包括:
底座,用于承载测试电路板;
测试电路板,所述测试电路板上设置有测试电路,所述测试电路包括宽带隔直电容、输入阻抗变换线及输出阻抗变换线,所述宽带隔直电容与输入阻抗变换线串联,所述输入阻抗变换线及所述输出阻抗变换线之间的测试电路板向下凹陷形成容置空间,放大器芯片设置于所述容置空间中,且所述放大器芯片的射频输入端和射频输出端分别搭接在所述输入阻抗变换线及输出阻抗变换线上;
第一同轴微带转换器,位于所述底座的一侧,用于将射频输入信号耦合至所述宽带隔直电容中;
第二同轴微带转换器,位于所述底座的另一侧,用于将所述输出阻抗变换线输出的测试信号耦合出;
所述输入阻抗变换线的阻抗沿所述第一同轴微带转换器至所述放大器芯片的方向逐渐减小,所述输出阻抗变换线的阻抗沿所述放大器芯片至所述第二同轴微带转换器的方向逐渐增大。


2.如权利要求1所述的放大器芯片预匹配测试装置,其特征在于,所述输入阻抗变换线的宽度沿所述第一同轴微带转换器至所述放大器芯片的方向逐渐增大,所述输出阻抗变换线的宽度沿所述放大器芯片至所述第二同轴微带转换器的方向逐渐减小。


3.如权利要求1所述的放大器芯片预匹配测试装置,其特征在于,所述测试电路还包括宽带供电电路,所述宽带供电电路包括直流电源接口及宽带射频扼流圈,所述宽带射频扼流圈的一端与所述直流电源接口连接,所述放大器芯片的供电端搭接在所述宽带射频扼流圈的另一端,所述直流电源接口连接直流电源,当所述放大器芯片与所述测试电路板电连接时,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:周杨
申请(专利权)人:华美博科技北京有限公司
类型:新型
国别省市:北京;11

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