一种便捷式ICT测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种结构简单、成本低、体积小的便捷式ICT测试系统。该系统包括底板（1）、上位机（2）及外部电源（3），外部电源为底板供电，底板上装置有模拟开关（11）、继电器驱动电路（12）、DMM板（13）、多档位恒流源（14）及LDO电压转换模块（15），DMM板上装置有MCU（131）和ADC（132），ADC与MCU相连接，模拟开关分别与继电器驱动电路、ADC、多档位恒流源及待测产品信号接口（16）相连接，继电器驱动电路、多档位恒流源及LDO电压转换模块均与MCU连接，多档位恒流源与LDO电压转换模块连接，LDO电压转换模块接入外部电源，MCU与上位机相连接。本实用新型专利技术用于测试领域。

【技术实现步骤摘要】
一种便捷式ICT测试系统
本技术涉及测试领域，尤其涉及一种便捷式ICT测试系统。
技术介绍
ICT测试：在线测试，ICT，In-CircuitTest，是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。它主要检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。但是，目前市场上ICT测试系统复杂，造价高；其电路复杂维修难度大，维修需要专业技能高；机台体积大，不方便摆放。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种结构简单、成本低、体积小的便捷式ICT测试系统。本技术所采用的技术方案是：所述便捷式ICT测试系统包括底板、上位机及外部电源，所述外部电源为所述底板供电，所述底板上装置有模拟开关、继电器驱动电路、DMM板、多档位恒流源及LDO电压转换模块，所述DMM板上装置有MCU和ADC，所述ADC与所述MCU相连接，所述模拟开关分别与所述继电器驱动电路、所述ADC、所述多档位恒流源及待测产品信号接口相连接，所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种便捷式ICT测试系统，其特征在于：它包括底板（1）、上位机（2）及外部电源（3），所述外部电源（3）为所述底板（1）供电，所述底板（1）上装置有模拟开关（11）、继电器驱动电路（12）、DMM板（13）、多档位恒流源（14）及LDO电压转换模块（15），所述DMM板（13）上装置有MCU（131）和ADC（132），所述ADC（132）与所述MCU（131）相连接，所述模拟开关（11）分别与所述继电器驱动电路（12）、所述ADC（132）、所述多档位恒流源（14）及待测产品信号接口（16）相连接，所述继电器驱动电路（12）、所述多档位恒流源（14）及所述LDO电压转换模块（15）均与所...

【技术特征摘要】
1.一种便捷式ICT测试系统，其特征在于：它包括底板（1）、上位机（2）及外部电源（3），所述外部电源（3）为所述底板（1）供电，所述底板（1）上装置有模拟开关（11）、继电器驱动电路（12）、DMM板（13）、多档位恒流源（14）及LDO电压转换模块（15），所述DMM板（13）上装置有MCU（131）和ADC（132），所述ADC（132）与所述MCU（131）相连接，所述模拟开关（11）分别与所述继电器驱动电路（12）、所述ADC（132）、所述多档位恒流源（14）及待测产品信号接口（16）相连接，所述继电器驱动电路（12）、所述多档位恒流源（14）及所述LDO电压转换模块（15）均与所述MCU（131）连接，所述多档位恒流源（14）与所述LDO电压转换模块（15）连接，所述LDO电压转换模块（15）接入所述外部电源（3），所述MCU（131）与所述上位机（2）相连接。


2.根据权利要求1所述的一种便捷式ICT测试系统，其特征在于：所述MCU（131）与所述上位机（2）之间通过USB线连接，所述继电器驱动电路（12）与所述MCU（131）之间通过I2C线连接，所述LDO电压转换模块（15）与所述外...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘晓东，韩玉争，杨永栋，张琛星，
申请(专利权)人：欧拓飞科技珠海有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44