定位系统精度测量方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种定位系统精度测量方法、装置及存储介质，该方法包括：检索定位系统的数据库，查找基站记录的参考卡移动到预设位置时的参考卡定位信息以及参考卡移动到预设位置时的时间点；从数据库中搜索时间点所在预设周期内，基站记录的测试卡定位信息，定位卡作为测试卡，与参考卡一同移动；根据测试卡定位距离与参考卡定位距离的差值，得到定位系统的动态精度。本方案适用于没有GPS授时的矿用人员定位系统基站的定位精度测量，使得动态精度测量仅仅需要依赖于基站的内部时钟，减少了人工测量的工作难度以及人工时钟校准难度。

【技术实现步骤摘要】
定位系统精度测量方法、装置及存储介质
本专利技术涉及定位测量
，尤其涉及一种用于矿用人员定位系统的定位系统精度测量方法、装置及存储介质，主要适合各安标检测中心和第三方检测机构使用。
技术介绍
目前，对于矿用人员定位系统，需要根据人员定位系统标准要求，对系统的动态精度进行测量。但是标准并未规定具体的测量方式，因此目前测量方法是由各检测中心自行把握。但是，现有的检测方案仅适用于有GPS授时的人员定位系统，对于没有GPS授时的人员定位系统，则不适用，比如矿用人员定位系统基本都是不带GPS授时的(因为井下无GPS信号)。
技术实现思路
本专利技术提供一种定位系统精度测量方法、装置及存储介质，可以实现无GPS授时的人员定位系统的动态精度测量，保证时钟基准的统一性。为实现上述目的，本专利技术提供一种定位系统精度测量方法，所述方法应用于定位系统精度测量装置，所述定位系统包括基站和定位卡，所述方法包括以下步骤：检索定位系统的数据库，查找基站记录的参考卡移动到预设位置时的参考卡定位信息以及参考卡移动到预设位置时的时间点；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种定位系统精度测量方法，其特征在于，所述方法应用于定位系统精度测量装置，所述定位系统包括基站和定位卡，所述方法包括以下步骤：/n检索定位系统的数据库，查找基站记录的参考卡移动到预设位置时的参考卡定位信息以及参考卡移动到预设位置时的时间点；/n从所述数据库中搜索所述时间点所在预设周期内，所述基站记录的测试卡定位信息，所述定位卡作为所述测试卡，与所述参考卡一同移动；/n根据所述测试卡定位信息以及所述参考卡定位信息，计算得到所述定位系统的动态精度。/n

【技术特征摘要】
1.一种定位系统精度测量方法，其特征在于，所述方法应用于定位系统精度测量装置，所述定位系统包括基站和定位卡，所述方法包括以下步骤：
检索定位系统的数据库，查找基站记录的参考卡移动到预设位置时的参考卡定位信息以及参考卡移动到预设位置时的时间点；
从所述数据库中搜索所述时间点所在预设周期内，所述基站记录的测试卡定位信息，所述定位卡作为所述测试卡，与所述参考卡一同移动；
根据所述测试卡定位信息以及所述参考卡定位信息，计算得到所述定位系统的动态精度。


2.根据权利要求1所述的定位系统精度测量方法，其特征在于，所述根据所述测试卡定位信息以及所述参考卡定位信息，计算得到所述定位系统的动态精度的步骤包括：
从所述测试卡定位信息读取所述测试卡的定位距离；
从所述参考卡定位信息读取所述参考卡的定位距离；
计算所述测试卡的定位距离和所述参考卡的定位距离之间的差值，得到所述定位系统的动态精度。


3.根据权利要求1所述的定位系统精度测量方法，其特征在于，所述检索定位系统的数据库之前还包括：
控制所述参考卡和测试卡同时向预设位置方向移动；
在所述参考卡经过所述预设位置时，通过基站接收所述参考卡发射的参考卡定位信息，并记录保存至所述数据库；
通过基站接收所述测试卡发射的测试卡定位信息，并记录保存至所述数据库。


4.根据权利要求3所述的定位系统精度测量方法，其特征在于，所述定位系统精度测量装置包括轨道、置于所述轨道上的轨道车，以及设置在所述预设位置的永磁铁，所述参考卡及被测卡固定在所述轨道车上，随所述轨道车在所述轨道上移动；
所述在所述参考卡经过所述预设位置时，通过基站接收所述参考卡发射的参考卡定位信息，并记录保存至所述数据库的步骤包括：
在所述参考卡经过所述预设位置时，所述参考卡与所述永磁体接触，被所述永磁铁激活，向所述基站发射参考卡定位信息，通过基站接收所述参考卡发射的参考卡定位信息，并记录保存至所述数据库。


5.根据权利要求4所述的定...

【专利技术属性】
技术研发人员：喻川，翁凯利，王彩强，李璞，
申请(专利权)人：深圳市翌日科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44