一种计算机电压拉偏和环境测试系统技术方案

一种计算机电压拉偏和环境测试系统，该测试系统包括一控制平台、一测试平台和一温湿控箱，所述的测试平台被置于所述的温湿控箱之内，测试平台上运行一后台测试软件，所述的控制平台分别与测试平台和温湿控箱相连，其特征在于，所述测试平台包括至少一个电压拉偏电路、信号转换电路、和跳线电路；信号转换电路输入端连接所述的控制平台，接收电压拉偏控制信号，信号转换电路输出端连接各电压拉偏电路的控制端；电压拉偏电路的输出端连接跳线电路，跳线电路与计算机部件上的各个供电电压端连接，跳线电路的跳线实现计算机部件各个供电电压的分别独立拉偏和同时共同拉偏。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及计算机内部部件测试技术，尤其是涉及一种计算机电压拉偏和环境测试系统。
技术介绍
计算机内部部件对应用环境均有自己相应的使用范围和标准，其中主要因素包括电压，温度，湿度。为了更好的实现对计算机部件的测试，需要针对这些环境因素进行必要的测试，于是出现了相应的测试系统，该系统在运行专项测试程序的同时通过拉偏计算机内部部件供电电压来考验计算机内部部件在计算机电源变化情况下的稳定性，同时通过温湿控箱控制工作环境温度和湿度。由于以往主板供电部件的工作电压单一，如SDRAM内存仅由3.3V电压供电等，而且很多部件的供电电压在主板上没有稳压模块，所以现有技术可通过直接拉偏调节计算机供电电源(ATX电源)的3.3V、5V供电电压来实现对部件工作电压的拉偏，这种电压拉偏方式有以下缺点一、由于通过对ATX电源进行直接的拉偏调节受ATX电源自身影响较大，所以拉偏效果不理想。二、目前，由于主板供电部件的工作电压趋于复杂化、多元化，如DDR内存由2.5V，1.25V电压供电，主板内部本身会有一个稳压模块对供电电压进行稳压，所以通过对ATX电源直接拉偏调节的方式不能实现对主板供电部件的供电电压有效拉偏。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供一种计算机电压拉偏和环境测试系统，从而解决现有测试系统不能对计算机内部部件电压进行有效拉偏的技术问题。本专利技术的目的是这样实现的一种计算机电压拉偏和环境测试系统，该测试系统包括一控制平台、一测试平台和一温湿控箱，所述的测试平台被置于所述的温湿控箱之内，测试平台上运行一后台测试软件，所述的控制平台分别与测试平台和温湿控箱相连，其特征在于，所述测试平台包括至少一个电压拉偏电路、信号转换电路、和跳线电路；信号转换电路输入端连接所述的控制平台，接收电压拉偏控制信号，信号转换电路输出端连接各电压拉偏电路的控制端；电压拉偏电路的输出端连接跳线电路，跳线电路与计算机部件上的各个供电电压端连接，跳线电路的跳线实现计算机部件各个供电电压的分别独立拉偏和同时共同拉偏。所述测试平台上的电压拉偏电路包括n条由调压电阻和场效应管串联构成的调压支路和一稳压支路；所述各调压支路的控制端即场效应管的输入端接收电压拉偏控制信号，各调压支路的输出端并接；所述的稳压支路包括分压电路和稳压器件，稳压器件的输出端连接分压电路的分压点并与调压支路的输出端并接点连接，分压电路的高电位端输出拉偏电压，n为正整数。所述信号转换电路包括一串/并信号转换电路和一电平驱动电路，串/并信号转换电路的输入端接收电压拉偏控制信号，串/并信号转换电路的各输出端和所述电平驱动电路的各输入端一一对应连接，电平驱动电路的各输出端和所述电压拉偏电路的控制端一一对应连接。所述测试平台的跳线电路由分压电路连接跳线开关构成；分压电路的高电位端连接一电压拉偏电路的拉偏电压输出端，并接计算机部件的第一种供电电压的输入端；分压电路的分压端连接跳线开关一固定端，跳线开关另一固定端连接另一电压拉偏电路的拉偏电压输出端，跳线开关的活动端接计算机部件的第二种供电电压的输入端。所述的控制平台和测试平台之间利用I2C总线结构进行连接。所述的控制平台和测试平台上分别包括互为本端和对端的I2C总线电气隔离电路，I2C总线电气隔离电路包括总线逻辑判断单元和光电耦合器，本端I2C总线电气隔离电路的总线逻辑判断单元和对端I2C总线电气隔离电路的光电耦合器的激励端相连，I2C总线信号先经过本端总线逻辑判断单元再送入对端光电耦合器的激励端，对端光电耦合器的响应端输出与I2C总线信号状态一致的信号，光电耦合器实现控制平台和测试平台之间I2C总线的电气隔离。所述测试平台还包括对每一电压拉偏电路进行过压保护的过压保护电路，该过压保护电路有二比较输入端，其中一端接电压拉偏电路的输出端，另一端接设定的参考电压，过压保护电路的输出端接计算机电源控制端。所述的控制平台和温湿控箱之间利用R-232接口连接。所述测试平台上还包括一监测电路，该监测电路与控制平台相连，向控制平台发送计算机部件实际拉偏电压和温度的采集数据。本专利技术提供的一种计算机电压拉偏和环境测试系统完全实现了对计算机主板供电部件进行自动电压拉偏测试的功能，而且在测试过程中不会引入其它影响计算机正常工作的因素，解决了一直困扰计算机集成厂商的部件电源兼容性测试的难题；本专利技术采用的电源设计方案适用于大多数计算机系统由主板供电的部件，具有广泛的适用性；本专利技术所采用的软件和硬件的接口是通用的I2C总线，因此具有良好的功能扩展性，只要修改控制软件便可实现不同的测试功能；此外，本专利技术设计成本低，具有良好的经济效益。附图说明图1为本专利技术测试系统的总体框图；图2为本专利技术控制平台和测试平台的组成框图；图3为本专利技术调电压拉偏电路图；图4为本专利技术实现两种电压同时拉偏或分别拉偏的跳线电路；图5为本专利技术主从式的I2C总线结构图； 图6为本专利技术的电气隔离电路图；图7为本专利技术的过压保护电路图；图8为本专利技术控制软件的流程图。具体实施例方式下面结合附图和实施例进一步说明本专利技术的具体实施方式。在本实施例中以针对DDR内存进行电压拉偏和环境测试的测试平台为例对本专利技术进行说明。首先介绍一下DDR内存对电源的要求，DDR内存工作需要主板提供两种电源1)参考电压VREF，2)工作电压VDIMM。设计规范要求参考电压VREF为1.25V，工作电压VDIMM为2.50V，允许的变化范围为+-5％。本实施例就是通过对VDIMM与VREF的拉偏来测试内存在各种环境下(包括温度、电压、负载)的性能变化，具体的拉偏方式有以下两种1)VDIMM与VREF同时共同拉偏同时拉偏方式保证了VDIMM与VREF同步变化，主要目的是为了仿真主板系统运行的真实情况，在这种平台上可以验证主板电压变化对内存运行的影响。2)VDIMM与VREF分别独立拉偏分别独立拉偏方式主要考察噪声容限对内存工作的影响。此外，本实施例的测试平台工作温度范围为0℃——55℃。如图1所示为本实施例测试系统总体框图，系统主要由控制平台101和测试平台102以及温湿控制箱103三部分组成，测试平台102被置于所述的温湿控箱103之内，控制平台101和测试平台102之间通过I2C总线实现数据的通信，控制平台101和温湿控制箱103之间通过R-232接口实现数据通信。控制平台101和测试平台102的组成框图见图2所示，控制平台101是一台个人计算机(PC机)，采用INTEL845GE+ICH4主板南北桥芯片组平台，主要包括控制软件201，控制平台基本输入输出系统(BIOS)202，控制平台I2C通信接口电路203和在该PC机主板的周边元件扩展接口(PCI)插槽上增加的一块专用PCI卡204，该专用PCI卡204上包括电气隔离电路211，其中，在该PC机的BIOS(202)上必须为测试需要而增加相应的控制代码，专用PCI卡204主要功能是利用I2C总线与测试平台102主板进行数据传输，同时实现电气隔离。控制平台101通过运行于其上的控制软件201实现对内存电压调节方式的设置，通过I2C总线向测试平台102发送内存电压调节信息并从测试平台102读取内存的实际电压值，记录所有测试数据并生成测试报告，同时通过R-232接口控制温湿控箱103的温度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：冯宇，李璠，欧阳平平，谭越，龚振青，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：