控制逻辑校验方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:28621378 阅读:10 留言:0更新日期:2021-05-28 16:16
本申请涉及一种控制逻辑校验方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:按照控制逻辑运行工艺设备,采集针对于工艺设备的设备运行时序信号;基于设备运行时序信号,生成与设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图;获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图;将运行时序甘特图与设计时序甘特图进行比对,确定控制逻辑的校验结果。本申请通过比对运行时序甘特图与设计时序甘特图,从而实现对控制逻辑的校验,不需要通过数学模型进行控制逻辑校验,甘特图可直观显示内部设备的运行情况,从而提高控制逻辑校验方法的准确性。

【技术实现步骤摘要】
控制逻辑校验方法、装置、计算机设备和存储介质
本申请涉及工业校验
,特别是涉及一种控制逻辑校验方法、装置、计算机设备和存储介质。
技术介绍
随着工业制造的发展,工业设备的种类不断增多,在一次生产过程中,需要多种设备按照一定顺序进行动作以完成上述生产过程,而控制设备动作顺序的往往是通过可编程逻辑控制器实现,因此,控制器内部逻辑的准确性直接影响了生产过程的可靠性以及安全性。目前,对控制器内部逻辑的校验往往是通过虚拟仿真软件进行调试,通过在虚拟调试过程中导入数学模型以及控制逻辑进行校验,然而,通过数学模型进行的控制逻辑校验难以确认内部设备运行情况,目前的控制逻辑校验方法准确性较低。
技术实现思路
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种控制逻辑校验方法、装置、计算机设备和存储介质。一种控制逻辑校验方法,所述方法包括:按照控制逻辑运行工艺设备,采集针对于所述工艺设备的设备运行时序信号;基于所述设备运行时序信号,生成与所述设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图;获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图;将所述运行时序甘特图与所述设计时序甘特图进行比对,确定所述控制逻辑的校验结果。在其中一个实施例中,所述工艺设备的数量为多个;所述基于所述设备运行时序信号,生成与所述设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图,包括:基于所述设备运行时序信号,确定各工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳;利用所述运行开始时间戳以及所述运行结束时间戳确定所述各工艺设备的运行时长;按照预设的工艺设备的运行顺序,以及所述各工艺设备的运行时长,生成所述运行时序甘特图。在其中一个实施例中,所述按照预设的工艺设备的运行顺序,以及所述各工艺设备的运行时长,生成所述运行时序甘特图,包括:按照所述运行顺序,确定所述运行顺序为首运行顺序的首运行工艺设备;确定所述首运行工艺设备的运行开始时间戳,作为首运行开始时间戳;将所述各工艺设备的运行开始时间戳与所述首运行开始时间戳的差值作为各工艺设备的运行开始时间;基于所述各工艺设备的运行时长以及所述各工艺设备的运行开始时间确定所述各工艺设备的运行结束时间;根据按照所述运行顺序设置的第一轴坐标、按照所述运行开始时间以及运行结束时间设置的第二轴坐标,生成所述运行时序甘特图。在其中一个实施例中,所述将所述运行时序甘特图与所述设计时序甘特图进行比对,确定所述控制逻辑的校验结果,包括:确定第一工艺设备和第二工艺设备在所述设计时序甘特图之中的第一运行顺序,以及所述第一工艺设备和所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图之中的第二运行顺序;若所述第一运行顺序与所述第二运行顺序不匹配,则确定所述校验结果为校验不通过。在其中一个实施例中,所述确定第一工艺设备和第二工艺设备在所述设计时序甘特图之中的第一运行顺序,以及所述第一工艺设备和所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图之中的第二运行顺序,包括:根据所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备的第一轴坐标确定所述第一运行顺序,以及根据所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图中的运行开始时间确定所述第二运行顺序;和/或根据所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备在所述设计时序甘特图中的运行开始时间确定所述第一运行顺序,以及根据所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图中的运行开始时间确定所述第二运行顺序。在其中一个实施例中,所述确定所述校验结果为校验不通过之后,还包括:基于所述运行时序甘特图的第一轴坐标,确定目标工艺设备;所述目标工艺设备包括所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备;获取运行所述目标工艺设备的控制逻辑,得到目标控制逻辑;对所述目标控制逻辑的正确性进行校验,若所述正确性的校验结果为所述目标控制逻辑不正确,则修正所述目标控制逻辑;和/或若所述正确性的校验结果为所述目标控制逻辑正确,则修正所述设计时序甘特图。在其中一个实施例中,所述采集针对于所述工艺设备的设备运行时序信号,包括:采集各工艺设备的设备运行时序信号,将所述各工艺设备的设备运行时序信号存入多个数据块中;其中,各数据块中存储有各工艺设备的设备运行时序信号;所述基于所述设备运行时序信号,确定各工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳,包括:从所述各数据块中确定所述各工艺设备的运行开始信号以及运行结束信号;根据所述运行开始信号以及所述运行结束信号确定所述运行开始时间戳以及所述运行结束时间戳。一种控制逻辑校验装置,所述装置包括:运行信号采集模块,用于按照控制逻辑运行工艺设备,采集针对于所述工艺设备的设备运行时序信号;运行甘特图生成模块,用于基于所述设备运行时序信号,生成与所述设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图;设计甘特图获取模块,用于获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图;控制逻辑校验模块,用于将所述运行时序甘特图与所述设计时序甘特图进行比对,确定所述控制逻辑的校验结果。一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。上述控制逻辑校验方法、装置、计算机设备和存储介质,按照控制逻辑运行工艺设备,采集针对于工艺设备的设备运行时序信号;基于设备运行时序信号,生成与设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图;获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图;将运行时序甘特图与设计时序甘特图进行比对,确定控制逻辑的校验结果。本申请通过比对运行时序甘特图与设计时序甘特图,从而实现对控制逻辑的校验,不需要通过数学模型进行控制逻辑校验,甘特图可直观显示内部设备的运行情况,从而提高控制逻辑校验方法的准确性。附图说明图1为一个实施例中控制逻辑校验方法的流程示意图;图2为一个实施例中生成与设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图的流程示意图;图3为一个实施例中按照预设的工艺设备的运行顺序,以及各工艺设备的运行时长,生成运行时序甘特图的流程示意图;图4为另一个实施例中控制逻辑校验方法的流程示意图;图5为一个应用实例中虚拟调试中的可编程逻辑控制器的控制逻辑校验方法的流程示意图;图6为一个应用实例中数据块的结构示意图;图7为一个应用实例中上位机采集可编程逻辑控制器数据的流程示意图;图8为一个应用实例中根据甘特图分析设备动作时序准确性的界面示意图;图9为一个应用实例中完成动作时序校验的流程示意图;图10为一个实施例中控制逻辑校验装置的结构框图;图11为一个实施例中计算机设备的内部结构图。具体实施方式为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。在一个实施例中,如图1所示,提供了一种控制逻辑本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种控制逻辑校验方法,其特征在于,所述方法包括:/n按照控制逻辑运行工艺设备,采集针对于所述工艺设备的设备运行时序信号;/n基于所述设备运行时序信号,生成与所述设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图;/n获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图;/n将所述运行时序甘特图与所述设计时序甘特图进行比对,确定所述控制逻辑的校验结果。/n

【技术特征摘要】
20201204 CN 202011401095X1.一种控制逻辑校验方法,其特征在于,所述方法包括:
按照控制逻辑运行工艺设备,采集针对于所述工艺设备的设备运行时序信号;
基于所述设备运行时序信号,生成与所述设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图;
获取预设的与设备设计时序信号匹配的设计时序甘特图;
将所述运行时序甘特图与所述设计时序甘特图进行比对,确定所述控制逻辑的校验结果。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述工艺设备的数量为多个;所述基于所述设备运行时序信号,生成与所述设备运行时序信号匹配的运行时序甘特图,包括:
基于所述设备运行时序信号,确定各工艺设备的运行开始时间戳以及运行结束时间戳;
利用所述运行开始时间戳以及所述运行结束时间戳确定所述各工艺设备的运行时长;
按照预设的工艺设备的运行顺序,以及所述各工艺设备的运行时长,生成所述运行时序甘特图。


3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述按照预设的工艺设备的运行顺序,以及所述各工艺设备的运行时长,生成所述运行时序甘特图,包括:
按照所述运行顺序,确定所述运行顺序为首运行顺序的首运行工艺设备;
确定所述首运行工艺设备的运行开始时间戳,作为首运行开始时间戳;
将所述各工艺设备的运行开始时间戳与所述首运行开始时间戳的差值作为各工艺设备的运行开始时间;
基于所述各工艺设备的运行时长以及所述各工艺设备的运行开始时间确定所述各工艺设备的运行结束时间;
根据按照所述运行顺序设置的第一轴坐标、按照所述运行开始时间以及运行结束时间设置的第二轴坐标,生成所述运行时序甘特图。


4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述将所述运行时序甘特图与所述设计时序甘特图进行比对,确定所述控制逻辑的校验结果,包括:
确定第一工艺设备和第二工艺设备在所述设计时序甘特图之中的第一运行顺序,以及所述第一工艺设备和所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图之中的第二运行顺序;
若所述第一运行顺序与所述第二运行顺序不匹配,则确定所述校验结果为校验不通过。


5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,
所述确定第一工艺设备和第二工艺设备在所述设计时序甘特图之中的第一运行顺序,以及所述第一工艺设备和所述第二工艺设备在所述运行时序甘特图之中的第二运行顺序,包括:
根据所述第一工艺设备以及所述第二工艺设备的...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈旻琪贺毅姚维兵左志军
申请(专利权)人:广州明珞装备股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1