基于准直器耦合系统的调试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种基于准直器耦合系统的调试方法，包括以下步骤：S1：将CCD探测器、微调步进电机、数据采集卡和控制电路集成在一起，组合成镶嵌准直器耦合系统的调试工具；S2：选取两个标准型准直器，利用两个单模光纤对照两个标准型准直器上的自聚焦透镜；S3：得到两个标准型准直器插损最小处的间隙、探测光斑和最小插损的比对数据，作为待做准直器调试的对比数据；S4：固定标准型准直器和待做准直器的位置。本发明专利技术设计合理，能够自动对准直器进行调试，降低人工调试的强度，规避人工调试过程中的人为误差，调试准直器的效率高，准直器生产的一致性高，质量佳。

【技术实现步骤摘要】
基于准直器耦合系统的调试方法
本专利技术涉及准直器调试
，尤其涉及一种基于准直器耦合系统的调试方法。
技术介绍
传统的准直器装配是用五维调整架将待做准直器与标准准直对调，利用光功率计进行在线监控，监测准直器插入损耗值的变化至最小时，上胶、固化。用此种方法生产准直器，需手工操控调整架，反复调试，人员极易疲劳，不可避免的会造成人为的偶然误差，从而导致生产的准直器指标较差，一致性不佳，所以我们提出了一种基于准直器耦合系统的调试方法，用以解决上述提出的问题。
技术实现思路
基于
技术介绍
存在的技术问题，本专利技术提出了基于准直器耦合系统的调试方法。本专利技术提出的基于准直器耦合系统的调试方法，包括以下步骤：S1：将CCD探测器、微调步进电机、数据采集卡和控制电路集成在一起，组合成镶嵌准直器耦合系统的调试工具；S2：选取两个标准型准直器，利用两个单模光纤对照两个标准型准直器上的自聚焦透镜；S3：得到两个标准型准直器插损最小处的间隙、探测光斑和最小插损的比对数据，作为待做准直器调试的对比数据；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.基于准直器耦合系统的调试方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1：将CCD探测器、微调步进电机、数据采集卡和控制电路集成在一起，组合成镶嵌准直器耦合系统的调试工具；/nS2：选取两个标准型准直器，利用两个单模光纤对照两个标准型准直器上的自聚焦透镜；/nS3：得到两个标准型准直器插损最小处的间隙、探测光斑和最小插损的比对数据，作为待做准直器调试的对比数据；/nS4：固定标准型准直器和待做准直器的位置；/nS5：CCD探测器从1-5mm处进行探测，数据采集卡采集探测光斑直径和插损最小处的间隙值，准直器耦合系统将得到的数据和比对数据进行对比；/nS6：准直器耦合系统启动微调步进电机；/nS7：在...

【技术特征摘要】
1.基于准直器耦合系统的调试方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：将CCD探测器、微调步进电机、数据采集卡和控制电路集成在一起，组合成镶嵌准直器耦合系统的调试工具；
S2：选取两个标准型准直器，利用两个单模光纤对照两个标准型准直器上的自聚焦透镜；
S3：得到两个标准型准直器插损最小处的间隙、探测光斑和最小插损的比对数据，作为待做准直器调试的对比数据；
S4：固定标准型准直器和待做准直器的位置；
S5：CCD探测器从1-5mm处进行探测，数据采集卡采集探测光斑直径和插损最小处的间隙值，准直器耦合系统将得到的数据和比对数据进行对比；
S6：准直器耦合系统启动微调步进电机；
S7：在光纤头和插损最小点处进行上胶；
S8：对胶水进行固化。


2.根据权利要求1所述的基于准直器耦合系统的调试方法，其特征在于，所述S1中，CCD探测器、微调步进电机、数据采集卡和控制电路的规格可以根据实际进行选取，微调步进电机的功率为100W-300W。


3.根据权利要求1所述的基于准直器耦合系统的调试方法，其特征在于，所述S2中，两个准直器的型号为COL6-xx，两个光纤探头从两个准直器相互远离的一侧进行对照，选取距离准直器1-5mm的距离对照多次。


4.根据权利要求1所述的基于准直器耦合系统的调试方法，其特征在于，所述S3中，利用高斯分布计算光纤探头的出光模场分布，得到光纤探头在不同位置时的插损最小处的间隙、探测光斑和最小插损值...

【专利技术属性】
技术研发人员：王春阳，
申请(专利权)人：深圳市鍂鑫科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44