一种紧凑型激光波长测量装置及其测量方法制造方法及图纸

技术编号:28617752 阅读:35 留言:0更新日期:2021-05-28 16:12
本发明专利技术公开了一种紧凑型激光波长测量装置及其测量方法,包括光纤、准直镜组、干涉腔、光电探测器和控制与数据处理模块,所述光纤纤芯的端面为孔径光阑,待测波长的激光束入射在孔径光阑上,经准直镜组准直为平行光束,照射在干涉腔上,光束在干涉腔内多次反射后出射,形成干涉条纹,所述的光电探测器采集条纹信号并传输至控制与数据处理模块,经运算后获得光束的波长值。本发明专利技术基于等厚干涉原理测量激光的准确波长,进而在波长测量装置中降低发生干涉的核心器件加工难度、降低制造成本且整体设备无运动结构、体积紧凑,实现高精度的波长精确测量。

【技术实现步骤摘要】
一种紧凑型激光波长测量装置及其测量方法
本专利技术涉及一种激光波长测量装置及其测量方法,尤其涉及一种紧凑型激光波长测量装置及其测量方法。
技术介绍
近年来,为了实现物联网或新一代通信“5G”的光网络,波分复用(WDM)技术从骨干网到接入网得到了广泛的应用。它是将多种不同波长的光信号通过合波器汇合在一起并耦合到同一根光纤中,以此进行数据传输的技术。为了增大信道容量,波长间隔变得越来越小,形成了紧密的WDM,叫做密集波分复用(DWDM)。应用于这种新技术中的光学元件和器件需要以更高的精度测量单个光波长进行测试,因此精确测量激光波长的需求日益明显。目前,激光波长计常采用Michealson干涉仪或Fizeau干涉腔作为波长测量核心组件,体积大,制造加工难度高,或包含运动结构,对控制系统要求苛刻。
技术实现思路
专利技术目的:本专利技术目的是提供一种紧凑型激光波长测量装置及其测量方法,实现高精度的波长精确测量。技术方案:本专利技术包括光纤、准直镜组、干涉腔、光电探测器和控制与数据处理模块,所述光纤纤芯的端面为孔径光阑,待测波本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种紧凑型激光波长测量装置,其特征在于,包括光纤(1)、准直镜组、干涉腔(3)、光电探测器和控制与数据处理模块,所述光纤(1)纤芯的端面为孔径光阑,待测波长的激光束入射在孔径光阑上,经准直镜组准直为平行光束,照射在干涉腔(3)上,光束在干涉腔(3)内多次反射后出射,形成干涉条纹,所述的光电探测器采集条纹信号并传输至控制与数据处理模块。/n

【技术特征摘要】
1.一种紧凑型激光波长测量装置,其特征在于,包括光纤(1)、准直镜组、干涉腔(3)、光电探测器和控制与数据处理模块,所述光纤(1)纤芯的端面为孔径光阑,待测波长的激光束入射在孔径光阑上,经准直镜组准直为平行光束,照射在干涉腔(3)上,光束在干涉腔(3)内多次反射后出射,形成干涉条纹,所述的光电探测器采集条纹信号并传输至控制与数据处理模块。


2.根据权利要求1所述的一种紧凑型激光波长测量装置,其特征在于,所述的干涉腔(3)由多个厚度不等的楔板组成,包括多个平面,其中,前平面与中间平面之间形成第一楔角,中间平面与后平面之间形成第二楔角,所述的第一楔角和第二楔角在垂直于光轴的平面上投影方向不重合。


3.根据权利要求1或2所述的一种紧凑型激光波长测量装置,其特征在于,所述干涉腔(3)的前平面中心位置到中间平面中心位置之间的距离与中间平面中心位置到后平面中心位置之间的距离不相等。


4.根据权利要求3所述的一种紧凑型激光波长测量装置,其特征在于,所述干涉腔(3)的平面均镀有分光膜。


5.根据权利要求1所述的一种紧凑型激光波长测量装置,其特征在于,所述的光电探测器为阵列探测器,包括面阵探测器(4)和线阵探测器(8),所述光电探测器的探测面垂直于干涉腔(3)出射光束方向。


6.根据权利要求5所述的一种紧凑型激光波长测量装置,其特征在于,所述的线阵探测器(8)设有多个,其中一个...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈宽
申请(专利权)人:南京中科神光科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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