一种并行加载数据回读校验方法技术

本发明专利技术目的在于提供一种并行加载数据回读校验方法，以克服现有技术中的加载速度因回读校验是逐个单板进行而受到很大限制的问题。为解决上述问题，本发明专利技术提供如下的技术方案：第一步：对边界扫描并行加载适配器（ＪＴＡＧ－Ｈｕｂ）所有端口的单板广播并行加载，完成对单板的数据加载；第二步：加载终端下传“回读校验掩码”给ＪＴＡＧ－Ｈｕｂ的逻辑；第三步：利用ＪＴＡＧ－Ｈｕｂ作为辅助完成，并行对每个单板进行数据回读校验，以校验加载数据是否正确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子或通信领域的测试技术，具体指一种JTAG并行加载数据回读校验方法。
技术介绍
在许多电子或通信设备中，通常会将若干个相同的单板都装置在同一系统中。所述的每个单板通常都拥有自己的存储器，在使用时一般通过外部设备对存储器进行程序或数据的加载。在众多的加载方法中，基于联合测试行动小组(Joint Test Action Group，JTAG)的加载方法是最常用的一种。但是，由于在一个电子或通信系统中，往往对每个相同的单板的存储器进行程序或数据的加载，是逐个地进行，则效率非常低。于是，业界便提出了一种基于JTAG的并行加载方法，所谓并行加载，即同时对多个同种类型单板的相同存储器进行加载相同数据的方法，具体应用请参考图1，为一种基于JTAG的并行加载系统，所述的系统包括加载终端，在实际应用中一般为PC机或工控机，作用为运行和存储JTAG加载程序和数据文件的设备；边界扫描并行加载适配器(JTAG-Hub)，与所述的加载终端相连接，作用为将加载终端中的需要加载的程序或数据并行加载到单板中；复数个含同种存储器的同种单板，与所述的JTAG-Hub相连接。工作时，JTAG-Hub将一个JTAG信号经过驱动后通过广播方式同时作用于被加载的多个单板，以提高平均每个单板的加载速度。对于上述的被加载的程序或数据，需要经过校验，确定正确后，才能在电子或通信系统中运行，在现有技术中，常用的一种校验方法为图2所示的方法，具体包括如下步骤首先，对JTAG-Hub所有端口的单板广播(将同一数据同时并行地发送到不同的多个目的设备)并行加载；依次对对JTAG-Hub第1端口的单板、第2端口的单板……第N端口的单板进行数据回读校验，所述的回读校验是一种作用为检验加载的程序或数据是否正确，将数据重新读出并进行比较的一种校验方法。可见，上述的加载及数据回读校验方法，能够节约单板存储器的加载时间，但必须对每一个单板的加载数据进行串行回读校验。因此实际平均每个单板的加载速度提高受到很大的限制，具体原因如下设单独每个单板存储器的加载时间为Tp，数据回读校验时间为Tv，并行加载单板的数量为n，单板加载的过程占用时间最长的是加载和校验环节，其它的时间可以略去不计。则实际平均每个单板的加载时间Tavg为Tavg=Tp+Tv×nn=Tpn+Tv]]>可以看出，当并行加载单板的数量n很大的时候，平均每个单板的加载时间Tavg趋近于Tv。也就是说，采用上述的方法，Tv是该种并行加载技术方案的速度极限，无法超越和突破这个极限。
技术实现思路
本专利技术目的在于提供，以克服现有技术中的加载速度因回读校验是逐个单板进行而受到很大限制的问题。为解决上述问题，本专利技术提供如下的技术方案，包括如下步骤第一步对JTAG-Hub所有端口的单板广播并行加载，完成对单板的数据加载；第二步加载终端下传“回读校验掩码”给JTAG-Hub的逻辑；第三步利用JTAG-Hub作为辅助完成，并行对每个单板进行数据回读校验，以校验加载数据是否正确。所述的第三步具体包括 A1、加载终端下传每一次回读校验命令给JTAG-Hub保存；A2、JTAG-Hub将期望的正确回读数据根据“回读校验掩码”定义的有效位与从每块单板返回的数据分别进行比较，以判断加载的数据是否正确；A3、JTAG-Hub根据比较结果设置出错单板的校验出错标志；A4、判断校验是否完成，如果未完成，则返回A1步骤，继续校验；如果完成，则加载终端读取JTAG-Hub对每块单板的比较结果，即完成校验。所述的步骤A1中的回读校验命令中含期望的正确回读数据。所述的第三步为设置一个单板为参考板并利用加载终端单独对参考板进行数据回读校验及利用所述的校验结果对其它单板进行回读校验。所述的第三步具体包括如下步骤B1、加载终端单独对参考板进行数据回读校验并利用所述的校验结果对其它单板进行校验；B2、判断回读校验是否正确；B3、如果回读校验正确且全部一致，则表明全部单板加载都完成；如果回读校验正确但有不一致，则直接上报不一致的单板号；B4、如果回读校验不正确，则将其它JTAG-Hub端口的单板设置为参考板并进行B3的步骤，直到回读校验完成。所述的B1又包括如下步骤B11、对JTAG-Hub第1端口的单板进行数据回读校验；B12、在JTAG-Hub中按照“回读校验掩码”将第1端口回来的数据和其他端口回来的数据分别进行异或比较。本专利技术的方法具有如下优点由于采用了JTAG-Hub并行加载而且利用JTAG-Hub同时对所有单板的加载数据进行并行回读校验，所有单板的加载需要的时间只需要进行一次广播加载和一次并行回读校验就能够完成，大大地提高了校验速度。附图说明图1为现有技术中的一种基于JTAG的并行加载系统；图2为现有技术中的一种数据加载及回读校验方法；图3为本专利技术的并行加载数据回读校验方法第一实施例的流程图；图4为本专利技术的并行加载数据回读校验方法第二实施例的流程图。具体实施例方式在具体介绍本专利技术第一实施例的并行数据回读校验方法之前，先就第一实施例的核心思想作说明，即本专利技术的并行数据回读校验方法实质是在并行加载后的回读校验阶段前，首先由加载终端下载“回读校验掩码”到JTAG-Hub中进行保存，所述的“回读校验掩码”作用为标志了在回读的所有数据中哪些是需要进行校验的(有效位)，哪些是不需要校验的(无效位)；然后，加载终端分别在每一条回读校验命令中带上期望的正确回读数据；接着，JTAG-Hub保存并根据“回读校验掩码”定义的有效位与从每块单板返回的数据进行比较以进行校验，所述的每一次回读校验在JTAG-Hub中完成；最后，当全部数据校验完成后，加载终端读取JTAG-Hub对每块单板的数据校验结果，从而就可以准确知道哪块单板加载出错。请参考图3，为本专利技术的并行加载数据回读校验方法第一实施例的流程图，所述的并行加载数据回读校验方法包括如下步骤A1、对JTAG-Hub所有端口的单板广播并行加载，完成对单板的数据加载；A2、下传“回读校验掩码”给JTAG-Hub的逻辑，即将加载终端中的“回读校验掩码”下传给JTAG-Hub；A3、加载终端下传每一次回读校验命令(该命令中含期望的正确回读数据)给JTAG-Hub保存，根据所述的回读校验命令来校验加载的数据是否正确；A4、JTAG-Hub将期望的正确回读数据根据“回读校验掩码”定义的有效位与从每块单板返回的数据进行分别比较，以判断加载的数据是否有正确；A5、JTAG-Hub根据比较结果设置出错单板的校验出错标志；A6、判断校验是否完成，如果未完成，则返回A3步骤，继续校验；如果完成，则加载终端读取JTAG-Hub对每块单板的比较结果，即完成校验。由于在整个过程中利用利用JTAG-Hub作为辅助完成，所以采用这种数据回读校验方法，加载终端就没有必要单独对每个单板进行串行的数据回读校验，节约了大量的时间，大大提高了加载的速度。具体地讲，优点如下由于采用了JTAG-Hub并行加载而且利用JTAG-Hub同时对所有单板的加载数据进行回读校验，所有单板的加载需要的时间只需要进行一次广播加载和一次并行校验就能够完成。设单独每个单板存储器的加载时间为Tp，数据回读校验时间为Tv，并行加载单板的数量为n本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种并行加载数据回读校验方法，其特征在于，包括如下步骤：第一步：对边界扫描并行加载适配器（ＪＴＡＧ－Ｈｕｂ）所有端口的单板广播并行加载，完成对单板的数据加载；第二步：加载终端下传“回读校验掩码”给ＪＴＡＧ－Ｈｕｂ的逻辑； 第三步：利用ＪＴＡＧ－Ｈｕｂ作为辅助完成，并行对每个单板进行数据回读校验，以校验加载数据是否正确。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王华，张玉，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]