通过跟踪动态死指令来减少微处理器中的虚假差错检测制造技术

本发明专利技术提供的技术通过跟踪动态死指令来减少微处理器中的虚假差错检测。当一条指令提交时，它被接着存储在ＰＥＴ缓冲区中。当所述指令正在从ＰＥＴ缓冲区中被移出时，而不是在提交时刻，处理器可以当时宣告机器检验差错。处理器可以扫描ＰＥＴ缓冲区，以确定所述指令是不是动态死指令。这进一步使得处理器能够减少虚假肯定。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及微处理器中的差错(error)检测，具体地说，涉及通过跟踪动态死指令来减少微处理器中的虚假差错检测。
技术介绍
由于中子和阿尔发粒子的撞击造成的瞬态故障(fault)正在成为未来处理技术中处理器晶体管数量增多的明显阻碍。虽然个别晶体管的故障率可能不会升高很多，但是向一个器件中加入更多的晶体管就使得该器件更有可能遇到故障。结果，预计将处理器差错率保持在可接受的水平上将需要更多设计方面的努力。由瞬态故障引起的单比特翻转已成为今天微处理器设计中很重要的挑战之一。这些故障因带能量粒子而起，例如宇宙射线中的中子以及来自封装材料的阿尔法粒子。晶体管源节点和扩散节点可以收集这些电荷。足够量的累积电荷可以反转逻辑器件(例如SRAM单元、锁存器或者门电路)的状态，从而向电路运行中引入逻辑故障。因为这一类型的故障并不反映器件的永久失效，所以它被称为软差错或瞬态差错。随着片上晶体管的数量不断呈指数上升，软差错对于微处理器的设计者而言正成为越来越大的负担。对于下几代技术而言，计划每锁存器或SRAM位的原始差错率要大致保持常数或略微下降。因此，除非有另外的差错保护机制或者使用更具鲁棒性的技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种方法，包括：　　　　提交指令；　　　　在缓冲区中存储所述指令；　　　　判断所述指令是不是动态死指令；　　　　从所述缓冲区中移出所述指令；以及　　　　如果指令不是动态死指令，则引发差错。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：克里斯托弗韦弗，舒布亨杜穆克赫基，乔尔埃默，史蒂文莱因哈特，
申请(专利权)人：英特尔公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]