测试装置以及测试方法制造方法及图纸

一种测试装置以及测试方法，测试装置包含一传输电路、一接收电路以及一回授电路。传输电路用以接收多个第一测试信号。接收电路用以在一正常模式下自多个接垫接收一输入数据。回授电路耦接所述多个接垫以及一取样电路的多个输入端。回授电路用以传输所述多个第一测试信号自传输电路至取样电路的所述多个输入端，以产生用以后续分析的一测试数据。如此，本揭示的测试装置能够应用于回授型式的高速数据传输。

【技术实现步骤摘要】
测试装置以及测试方法
本揭示中所述实施例内容是有关于一种测试装置，特别是关于一种用于回授测试的测试装置以及测试方法。
技术介绍
集成电路可透过高速序列接口彼此连接。在实际应用中，高速序列接口一般包含输入/输出(I/O)电路。测试信号可施加至输入/输出电路的传输接垫(pad)且可回授至输入/输出电路的接收接垫，以识别输入/输出电路的缺陷。在现有技术中，为了执行这种测试，需要耦接至接收器的额外多工器。如此，额外多工器的额外容值以及阻值的影响将会造成接收器的效能下降。
技术实现思路
本揭示的一些实施方式是关于一种测试装置。测试装置包含一传输电路、一接收电路以及一回授电路。传输电路用以接收多个第一测试信号。接收电路用以在一正常模式下自多个接垫接收一输入数据。回授电路耦接所述多个接垫以及一取样电路的多个输入端。回授电路用以传输所述多个第一测试信号自传输电路至取样电路的所述多个输入端，以产生用以后续分析的一测试数据。在一些实施例中，接收电路包含多个终端电阻，且所述多个终端电阻分别耦接所述多个接垫。在一些实施例中，回授电路用以协同所述多个终端电阻，以传输所述多个第一测试信号至取样电路的所述多个输入端。在一些实施例中，回授电路直接耦接所述多个终端电阻、所述多个接垫以及取样电路的所述多个输入端。在一些实施例中，回授电路用以在没有一位准转换器的情况下传输所述多个第一测试信号至取样电路的所述多个输入端。在一些实施例中，回授电路包含一控制电路以及一驱动电路。控制电路用以被一致能信号所致能，以响应于所述多个第一测试信号而产生多个控制信号。驱动电路用以响应于所述多个控制信号而产生多个第二测试信号，且传输所述多个第二测试信号至取样电路的所述多个输入端。在一些实施例中，控制电路包含一第一反相器以及一第二反相器。第一反相器用以依据致能信号而被致能，以响应于所述多个第一测试信号中的一第一信号而产生所述多个控制信号中的一第一控制信号。第二反相器用以依据致能信号而被致能，以响应于所述多个第一测试信号中的一第二信号而产生所述多个控制信号中的一第二控制信号。在一些实施例中，驱动电路包含一第一晶体管、一第二晶体管以及一电流源电路。第一晶体管用以响应于所述多个控制信号中的一第一控制信号而导通或截止，以产生所述多个第二测试信号中的一第一信号。第二晶体管用以响应于所述多个控制信号中的一第二控制信号而导通或截止，以产生所述多个第二测试信号中的一第二信号。电流源电路耦接第一晶体管以及第二晶体管。在一些实施例中，所述多个第二测试信号的逻辑值相同于所述多个第一测试信号的逻辑值。本揭示的一些实施方式是关于一种测试方法。测试方法包含：通过一传输电路接收多个第一测试信号；以及通过一回授电路传输所述多个第一测试信号自传输电路至一取样电路的所述多个输入端，以产生用以后续分析的一测试数据，其中回授电路耦接相应于一接收电路的多个接垫以及取样电路的多个输入端。在一些实施例中，所述多个接垫分别耦接多个终端电阻。在一些实施例中，传输所述多个第一测试信号自传输电路至取样电路的所述多个输入端包含：通过回授电路协同所述多个终端电阻，以传输所述多个第一测试信号至取样电路的所述多个输入端。在一些实施例中，回授电路直接耦接所述多个终端电阻、所述多个接垫以及取样电路的所述多个输入端。在一些实施例中，所述多个第一测试信号在没有一位准转换器的情况下被传输至取样电路的所述多个输入端。在一些实施例中，传输所述多个第一测试信号自传输电路至取样电路的所述多个输入端包含：通过一致能信号致能回授电路的一控制电路，以响应于所述多个第一测试信号而产生多个控制信号；以及通过回授电路的一驱动电路响应于所述多个控制信号而产生多个第二测试信号，且传输所述多个第二测试信号至取样电路的所述多个输入端。在一些实施例中，通过致能信号致能回授电路的控制电路包含：依据致能信号致能一第一反相器，以响应于所述多个第一测试信号中的一第一信号而产生所述多个控制信号中的一第一控制信号；以及依据致能信号致能一第二反相器，以响应于所述多个第一测试信号中的一第二信号而产生所述多个控制信号中的一第二控制信号。在一些实施例中，响应于所述多个控制信号而产生所述多个第二测试信号包含：响应于所述多个控制信号中的一第一控制信号导通或截止驱动电路中的一第一晶体管，以产生所述多个第二测试信号中的一第一信号；以及响应于所述多个控制信号中的一第二控制信号导通或截止驱动电路中的一第二晶体管，以产生所述多个第二测试信号中的一第二信号。在一些实施例中，所述多个第二测试信号的逻辑值相同于所述多个第一测试信号的逻辑值。综上所述，本揭示一些实施例中的测试装置以及测试方法，能够应用于回授型式的高速数据传输。附图说明为让本揭示的上述和其他目的、特征、优点与实施例能够更明显易懂，所附附图的说明如下：图1是依照本揭示一些实施例所绘示的一测试装置的示意图；图2是依照本揭示一些实施例所绘示的图1的测试装置的电路图；图3是依照本揭示一些实施例所绘示的图2的反相器的电路图；以及图4是依照本揭示一些实施例所绘示的一测试方法的流程图。【符号说明】100:测试装置110:传输电路120:回授电路121:控制电路122:驱动电路130:样式产生电路140:接收电路150:取样电路151,152:输入端400:测试方法TX1,TX2:接垫DOUT,DIN:数据RX1,RX2:接垫ST1,ST2,ST3,ST4:测试信号EN:致能信号DT:测试数据T1,T2,T3,T4,M1,M2,M3:晶体管I1,I2:电流源电路VT1,VT2:信号TR1,TR2:终端电阻O1,O2:控制信号A1,A2:反相器GND:地电压VDD:电压Su1,Su2:电流信号S410,S420:操作具体实施方式下文是举实施例配合所附附图对本揭示作详细说明。然而本揭示可以许多不同型式实施且不应被限制至这些实施例。更确切的说，这些实施例被提供使得本揭示完善且完整，且完全地传达本揭示的范围给本领域具有通常知识者。相同符号标示是指相同元件。将被了解的是，虽然字词第一、第二、第三等等被使用于此以描述不同的元件、组件、区域、层及/或部分。这些元件、组件、区域、层及/或部分不应被这些字词限制。这些字词仅是用来区分元件、组件、区域、层或部分。因此，于下所讨论的一第一元件、组件、区域、层或部分可在不违反本揭示的教示下亦可被命名为第二元件、组件、区域、层或部分。在本文中所使用的用词“耦接”亦可指“电性耦接”，且用词“连接”亦可指“电性连接”。用词“耦接”以及“连接”可分别指“直接耦接”以及“间接耦接”，或分别指“直接连接”以及“间接连接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试装置，其特征在于，包含：/n一传输电路，用以接收多个第一测试信号；/n一接收电路，用以在一正常模式下自多个接垫接收一输入数据；以及/n一回授电路，耦接所述多个接垫以及一取样电路的多个输入端，该回授电路用以传输所述多个第一测试信号自该传输电路至该取样电路的所述多个输入端，以产生用以后续分析的一测试数据。/n

【技术特征摘要】
20191124 US 16/693,3581.一种测试装置，其特征在于，包含：
一传输电路，用以接收多个第一测试信号；
一接收电路，用以在一正常模式下自多个接垫接收一输入数据；以及
一回授电路，耦接所述多个接垫以及一取样电路的多个输入端，该回授电路用以传输所述多个第一测试信号自该传输电路至该取样电路的所述多个输入端，以产生用以后续分析的一测试数据。


2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，其中该接收电路包含多个终端电阻，且所述多个终端电阻分别耦接所述多个接垫。


3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，其中该回授电路用以协同所述多个终端电阻，以传输所述多个第一测试信号至该取样电路的所述多个输入端。


4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，其中该回授电路直接耦接所述多个终端电阻、所述多个接垫以及该取样电路的所述多个输入端。


5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，其中该回授电路用以在没有一位准转换器的情况下传输所述多个第一测试信号至该取样电路的所述多个输入端。


6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，其中该回授电路包含：
一控制电路，用以被一致能信号所致能，以响应于所述多个第一测试信号而产生多个控制信号；以及
一驱动电路，用以响应于所述多个控制信号而产生多个第二测试信号，且传输所述多个第二测试信号至该取样电路的所述多个输入端。


7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，其中该控制电路包含：
一第一反相器，用以依据该致能信号而被致能，以响应于所述多个第一测试信号中的一第一信号而产生所述多个控制信号中的一第一控制信号；以及
一第二反相器，用以依据该致能信号而被致能，以响应于所述多个第一测试信号中的一第二信号而产生所述多个控制信号中的一第二控制信号。


8.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，其中该驱动电路包含：
一第一晶体管，用以响应于所述多个控制信号中的一第一控制信号而导通或截止，以产生所述多个第二测试信号中的一第一信号；
一第二晶体管，用以响应于所述多个控制信号中的一第二控制信号而导通或截止，以产生所述多个第二测试信号中的一第二信号；以及
一电流源电路，耦接该第一晶体管以及该第二晶体管。


9.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，其中所述多个第二测试信号的逻辑值相同于所述多个第一测试信号的逻辑值。

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【专利技术属性】
技术研发人员：陈彦中，杨财铭，喻柏莘，
申请(专利权)人：创意电子股份有限公司，台湾积体电路制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71