一种电子元件测试用连接装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及电子元件检测领域，其具体公开一种电子元件测试用连接装置，适用于电性连接具有多连接端子的电子元件和测试机，它包括：第一端，该第一端具有：第一面板，其具有若干第一电极点；第一接插件，其具有用于与被测电子元件电连接的引脚，该引脚数量大于100，且该第一接插件与第一电极点电连接；第二端，该第二端具有：第二面板，其具有若干第二电极点；第二接插件，其具有用于插入测试机以传输电信号的输出端口，且该第二接插件与第二电极点电连接；连接件，其为探针或导电胶；且该连接件电连接在第二电极点上并在第一端接入时与第一电极点电连接以形成被测电子元件至测试机的测试通路。以使电子元件在不同测试机上测试时，或者不同电子元件更换到测试机测试时，无需重复插拔排线与连接器，增加测试效率，减小连接器的损坏率。连接器的损坏率。连接器的损坏率。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件测试用连接装置


[0001]本技术涉及电子元件检测领域，尤其涉及一种电子元件测试用连接装置，尤其适于电性连接具有多连接端子的电子元件和测试机。

技术介绍

[0002]随着生活品质的不断提高，电子产品成为我们生活中不可或缺的一部分，各种电子元件的生产也得到了长足进步与发展。
[0003]电子元件生产出来后，需要经过多步工序以对电子元件的各种性能进行测试。一般现有测试设备与电子元件之间的连接，都是采用连接器和排线连接，当连接通道大于单个连接器通道数量时，会采用多个连接器并联使用，当测试通道达到几百几千个通道时，需要的连接器数量会很多；这样会导致电子元件在每一步检测工序中，都要在连接器与排线的插拔过程中花费大量时间，效率低，而且一般的连接器经过多次插拔后，会出现连接器的引脚变形及损坏的情况，使用寿命短，损坏后维修困难。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的技术问题在于克服现有技术的不足，而提供一种电子元件测试用连接装置。
[0005]为了达到上述目的，本技术采用的技术方案如下：
>[0006]一种电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件测试用连接装置，可用于电性连接具有多个连接端子的电子元件和测试机，其特征在于，它包括：第一端，该第一端具有：第一面板，其具有若干第一电极点；第一接插件，其具有用于与被测电子元件电连接的引脚，该引脚数量大于100，且该第一接插件与第一电极点电连接；第二端，该第二端具有：第二面板，其具有若干第二电极点；第二接插件，其具有用于插入测试机以传输电信号的输出端口，且该第二接插件与第二电极点电连接；连接件，其为探针或导电胶；且该连接件电连接在第二电极点上并在第一端接入时与第一电极点电连接以形成被测电子元件至测试机的测试通路。2.根据权利要求1所述的连接装置，其特征在于，所述第一面板为一层或多层PCB板，且该第一面板上还具有第一金属触点，以及连接第一金属触点和第一电极点的第一印刷电路。3.根据权利要求2所述的连接装置，其特征在于，所述第一接插件固定设置在第一面板上以便于电子元件接入。4.根据权利要求1所述的连接装置，其特征在于，所述第二面板为一层或多层P...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴宗元，贺勇，李宇，李建军，张泽，
申请(专利权)人：深圳市骏创科技有限公司，
类型：新型
国别省市：