一种星型三相负载短路检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种星型三相负载短路检测装置，属于电子技术领域。本实用新型专利技术包括星型三相负载电路、光电耦合器、译码器、三极管组、组合逻辑控制电路、数码显示管；星型三相负载电路与光电耦合器相连，光电耦合器与译码器相连，译码器的输出与三极管组及组合逻辑控制电路相连，组合逻辑控制电路与数码显示管相连。本实用新型专利技术用于电路实验台星型三相电电路短路检测，并用数码管显示检测结果，能够有效防止因连接短路烧毁保险管，降低了实验耗材成本；同时，结构简单，检测结果易于观察。检测结果易于观察。检测结果易于观察。

【技术实现步骤摘要】
一种星型三相负载短路检测装置


[0001]本技术涉及一种星型三相负载短路检测装置，属于电子


技术介绍

[0002]目前，在做星型三相电电路实验时，经常会遇到因接线错误导致三相电源短路而烧毁保险管的问题。保险管的烧毁不仅减慢了实验完成的速度，降低教学质量，更增加了实验的成本。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题是：本技术提供一种星型三相负载短路检测装置，用于解决在做星型三相电电路实验时因短路造成烧毁保险管的问题，本技术通过检测星型三相电电路连接是否短路，并将检测结果直观地显示在数码管上，防止保险管被烧毁。
[0004]本技术技术方案是：一种星型三相负载短路检测装置，包括星型三相负载电路1、光电耦合器2、译码器3、三极管组4、组合逻辑控制电路5、数码管 6；星型三相负载电路1与光电耦合器2相连，光电耦合器2与译码器3相连，译码器3的输出与三极管组4及组合逻辑控制电路5相连，组合逻辑控制电路5 与数码管6相连。
[0005]进一步地，所述星型三相负载电路1包括负载R1、R2、R3；所述光电耦合器2包括二极管L1、L2、L3、三极管D1、D2、D3；负载一端均连接在一起后接地，负载另一端与光电耦合器2的二极管阴极相连，二极管阳极经限流电阻后接 +5V；光电耦合器2的三极管集电极接+5V，发射极串联电阻后接地。
[0006]进一步地，所述译码器3包括74LS138译码器；所述三极管组4包括NPN 型三极管T1、T2、T3、T4；所述组合逻辑控制电路5包括四输入与非门G1、G2、 G3、二输入与非门G4、G5、G6、非门N1、N2、N3、N4；74LS138译码器的三个输入芯片脚A、B、C分别与三个光电耦合器2内部的三极管D1、D2、D3的发射极连接；74LS138译码器的E1芯片脚接+5V，E2芯片脚和E3芯片脚并联后接地，输出芯片脚Y0N经限流电阻R10与三极管T1的基极连接，三极管T1的发射极接地，三极管T1的集电极经限流电阻R11后接+5V；输出芯片脚Y0N经限流电阻R12与三极管T2的基极连接，三极管T2的发射极接地，三极管T2的集电极经限流电阻R13后接+5V；输出芯片脚Y0N经限流电阻R14与三极管T3的基极连接，三极管T3的发射极接地，三极管T3的集电极经限流电阻R15后接+5V；输出芯片脚Y0N经限流电阻R16与三极管T4的基极连接，三极管T4的发射极接地，三极管T4的集电极经限流电阻R17后接+5V；74LS138译码器的输出芯片脚Y1N、 Y3N、Y5N、Y7N接四输入与非门G1的四个输入端，输出芯片脚Y2N、Y3N、Y6N、 Y7N接四输入与非门G2的四个输入端，输出芯片脚Y4N、Y5N、Y6N、Y7N接四输入与非门G3的四个输入端；非门N1的输入端与四输入与非门G1的输出端连接；非门N2的输入端与三极管T2的集电极连接；非门N3的输入端与四输入与非门 G2的输出端连接；非门N4的输入端与四输入与非门G3的输出端连接，二输入与非门G4的两个输入端分别与三极管T1的集电极、非门N1的输出端
连接；二输入与非门G5的两个输入端分别与三极管T3的集电极、非门N3的输出端连接；二输入与非门G6的两个输入端分别与三极管T4的集电极、非门N4的输出端连接。
[0007]进一步地，所述数码管6包括7段数码管LD1、LD2、LD3；LD1的引脚a1、 b1、e1、f1、g1接二输入与非门G4的输出端；LD1的引脚c1接四输入与非门 G1的输出端；LD1的引脚d1接地，LD2的引脚a2、b2接非门N2的输出端；LD2 的引脚c2、e2、f2、g2接二输入与非门G5的输出端；LD2的引脚d2接四输入与非门G2的输出端，LD3的引脚a3、d3、f3接二输入与非门G6的输出端；LD3 的引脚b3接地；LD3的引脚c3、g3接非门N2的输出端；LD3的引脚e3接四输入与非门G3的输出端。
[0008]本技术的有益效果是：本技术提供一种星型三相负载短路检测装置，用于电路实验台星型三相电电路任意两相间连接短路检测，并用数码管显示检测结果，能够有效防止因连接短路时直接接到电路中烧毁保险管，降低了成本。同时，结构简单，检测结果易于观察。
附图说明
[0009]图1是本技术星型三相电电路及光耦部分；
[0010]图2是译码器及组合逻辑控制电路部分；
[0011]图3是数码管显示部分。
[0012]图1中各标号：1
‑
星型三相负载电路；2
‑
光电耦合器；R1～R3星型三相负载， R4～R9
‑
限流电阻。
[0013]图2中各标号：3
‑
译码器；4
‑
三极管组；5
‑
组合逻辑控制电路；R10～R17
‑ꢀ
限流电阻，G1～G3
‑
四输入与非门，G4～G6
‑
二输入与非门，N1～N4
‑
非门。
[0014]图3中各标号：6
‑
数码管。
具体实施方式
[0015]下面结合附图和具体实施例，对本技术作进一步说明。
[0016]实施例1：如图1
‑
3所示，一种星型三相负载短路检测装置，包括星型三相负载电路1、光电耦合器2、译码器3、三极管组4、组合逻辑控制电路5、数码管6；星型三相负载电路1与光电耦合器2相连，光电耦合器2与译码器3相连，译码器3的输出与三极管组4及组合逻辑控制电路5相连，组合逻辑控制电路5 与数码管6相连。
[0017]进一步地，所述星型三相负载电路1包括负载R1、R2、R3；所述光电耦合器2包括二极管L1、L2、L3、三极管D1、D2、D3；负载一端均连接在一起后接地，负载另一端与光电耦合器2的二极管阴极相连，二极管阳极经限流电阻后接 +5V；光电耦合器2的三极管集电极接+5V，发射极串联电阻后接地。
[0018]进一步地，所述译码器3包括74LS138译码器；所述三极管组4包括NPN 型三极管T1、T2、T3、T4；所述组合逻辑控制电路5包括四输入与非门G1、G2、 G3、二输入与非门G4、G5、G6、非门N1、N2、N3、N4；74LS138译码器的三个输入芯片脚A、B、C分别与三个光电耦合器2内部的三极管D1、D2、D3的发射极连接；74LS138译码器的E1芯片脚接+5V，E2芯片脚和E3芯片脚并联后接地，输出芯片脚Y0N经限流电阻R10与三极管T1的基极连接，三极管T1的发射极接地，三极管T1的集电极经限流电阻R11后接+5V；输出芯片脚Y0N经限流电阻 R12与三极管
T2的基极连接，三极管T2的发射极接地，三极管T2的集电极经限流电阻R13后接+5V；输出芯片脚Y0N经限流电阻R14与三极管T3的基极连接，三极管T3的发射极接地，三极管T3的集电极经限流电阻R15后接+5V；输出芯片脚Y0N经限流电阻R16与三极管T本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种星型三相负载短路检测装置，其特征在于：包括星型三相负载电路(1)、光电耦合器(2)、译码器(3)、三极管组(4)、组合逻辑控制电路(5)、数码管(6)；星型三相负载电路(1)与光电耦合器(2)相连，光电耦合器(2)与译码器(3)相连，译码器(3)的输出与三极管组(4)及组合逻辑控制电路(5)相连，组合逻辑控制电路(5)与数码管(6)相连。2.根据权利要求1所述的星型三相负载短路检测装置，其特征在于：所述星型三相负载电路(1)包括负载R1、R2、R3；所述光电耦合器(2)包括二极管L1、L2、L3、三极管D1、D2、D3；负载一端均连接在一起后接地，负载另一端与光电耦合器(2)的二极管阴极相连，二极管阳极经限流电阻后接+5V；光电耦合器(2)的三极管集电极接+5V，发射极串联电阻后接地。3.根据权利要求1所述的星型三相负载短路检测装置，其特征在于：所述译码器(3)包括74LS138译码器；所述三极管组(4)包括NPN型三极管T1、T2、T3、T4；所述组合逻辑控制电路(5)包括四输入与非门G1、G2、G3、二输入与非门G4、G5、G6、非门N1、N2、N3、N4；74LS138译码器的三个输入芯片脚A、B、C分别与三个光电耦合器(2)内部的三极管D1、D2、D3的发射极连接；74LS138译码器的E1芯片脚接+5V，E2芯片脚和E3芯片脚并联后接地，输出芯片脚Y0N经限流电阻R10与三极管T1的基极连接，三极管T1的发射极接地，三极管T1的集电极经限流电阻R11后接+5V；输出芯片脚Y0N经限流电阻R12与三极管T2的基极连接，三极管T2的发射极接地，三极管T2的集电极经限流电阻R13后接+5V；输出芯片脚Y0N经限流电阻...

【专利技术属性】
技术研发人员：董英，李恒，赵磊，薛晓军，张国银，张婉玲，袁树英，闫自达，杨文澳，王龙辉，熊世英，彭昱铭，
申请(专利权)人：昆明理工大学，
类型：新型
国别省市：