一种测试定位机构及芯片自动测试台制造技术

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，公开了一种测试定位机构及芯片自动测试台。测试定位机构包括载物台，载物台具有承载面，载物台的承载面上凸设有凸台，用以将芯片放置于凸台的台面上，载物台的内部设置有冷却液通道，凸台的台面上开设有与冷却液通道连通的第一连通孔。本实用新型专利技术实施例提供的载物台的承载面上凸设有凸台，将芯片放置于凸台的台面上，由于凸台的高度高于凸台四周的高度，这样位于凸台四周的冷却水不会对凸台的台面与芯片之间的冷却水产生虹吸效应。冷却水产生虹吸效应。冷却水产生虹吸效应。

【技术实现步骤摘要】
一种测试定位机构及芯片自动测试台


[0001]本技术涉及芯片测试
，特别是涉及一种测试定位机构及芯片自动测试台。

技术介绍

[0002]芯片广泛应用于移动终端、计算机设备、人脸识别、智能家居、航空航天等各个领域当中。在芯片的研发和使用过程中，一般需要对芯片的多项参数(如光束发散角、光功率、电流、电压等)进行测试，以确定芯片的性能和工作状态是否满足要求。但是，现有的芯片测试装置的自动化程度较低，大部分测试操作过程需要人工操作来完成。
[0003]鉴于此，本申请的专利技术人设计了一种芯片自动测试台，该芯片自动测试台为全自动操作的专业测试平台，可实现对单颗芯片的光束发散角、光功率、电流、电压等参数的自动测试。芯片自动测试台设置有取料机构、载物台和加电机构，在芯片的自动测试过程中，先通过取料机构将待测芯片放置于载物台的承载面上，再通过加电机构对载物台上的芯片进行加电测试，最后通过取料机构取走载物台上的已测芯片。在芯片的加电测试过程中，由于芯片会产生大量的热量，为了避免芯片过热而导致报废，载物台的内部会设置有冷却水通道，并在载物台的承载面上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试定位机构，其特征在于，包括载物台，所述载物台具有承载面，所述载物台的承载面上凸设有凸台，用以将芯片放置于所述凸台的台面上，所述载物台的内部设置有冷却液通道，所述凸台的台面上开设有与所述冷却液通道连通的第一连通孔。2.根据权利要求1所述的测试定位机构，其特征在于，所述第一连通孔为圆形孔，所述第一连通孔的孔径为0.2mm～0.4mm。3.根据权利要求1所述的测试定位机构，其特征在于，所述载物台上对应所述凸台设置有限位装置，所述限位装置用以限制芯片脱离所述凸台和矫正芯片的位置。4.根据权利要求3所述的测试定位机构，其特征在于，所述凸台用以供芯片朝上放置，所述限位装置包括两个能沿所述凸台的宽度方向移动的夹持件，两个所述夹持件分别设置于所述凸台宽度方向的两侧，两个所述夹持件具有相互靠拢的限位状态以及相互远离的释放状态。5.根据权利要求4所述的测试定位机构，其特征在于，所述凸台的宽度被设置为大于芯片的宽度，使得在两个所述夹持件处于所述限位状态时，两个所述夹持件分别抵接于所述凸台在所述宽度...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭琪，施小磊，宋周周，
申请(专利权)人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：