本发明专利技术公开了一种芯片接口检测装置，包含置于芯片外部的外部检测器件和置于芯片内部的内部检测器件，所述外部检测器件包含用于发送并比较检测信号和验证信号的控制单元和用于存储验证信号的外部存储模块，控制单元与外部存储模块之间连接有外部验证信号线；所述内部检测器件至少包含用于存储检测信号的检测专用内部存储单元，检测专用内部存储单元通过接口待检测信号线与控制单元相连。本发明专利技术还公开了一种芯片接口检测方法。本发明专利技术公开的芯片接口检测装置和方法能够针对任意一种接口信号线进行专门检测，降低检测成本和难度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片检测技术，特别涉及。
技术介绍
目前使用的芯片接口至少包含地址线、数据线和读写控制线，通常地址线共M根，A[1]...A[m]...A[M]，1≤m≤M，地址信号共有2M种组合形式；数据线共N根，D[1]...D[n]...D[N]，1≤n≤N，数据信号共有2N种组合形式。图1是现有技术芯片接口检测装置的组成结构示意图，现有技术的芯片接口检测装置包含置于芯片100外部的外部检测器件101和置于芯片内部的内部检测器件102。其中，外部检测器件101包含用于接收检测指令并控制检测流程的控制单元110，作为外部存储模块的外部固有存储单元112。控制单元110通过外部控制线、外部地址线及外部数据线与外部固有存储单元112相连；外部固有存储单元112至少包含一个用于存储验证信号的存储子单元Memory_x 132，该存储子单元的地址信号为Add_Memory_x。内部检测器件102至少包含作为内部存储模块的芯片内部固有存储单元组122。芯片内部固有存储单元组122由芯片内部固有的各种类型存储单元组成，控制单元110通过接口控制线、接口地址线及接口数据线与芯片内部固有存储单元组122相连。芯片内部固有存储单元组122包含最多p＝2M个存储子单元，分别为图1中的Memory_1...Memory_p...Memory_P，1≤p≤P，Memory_1标识为141，Memory_p标识为142，Memory_P标识为143，用于存储检测信号的每个存储子单元对应不同的地址信号，比如存储子单元Memory_p 142对应的地址信号为Add_Memory_p。现有技术的芯片接口检测方法包括以下步骤步骤11控制单元110向接口控制线上发写控制信号，向接口地址线上发地址信号Add_Memory_p，向接口数据线上发检测信号test_data_0；并且，控制单元110向外部控制线上发写控制信号，向外部地址线上发地址信号Add_Memory_x，向外部数据线上发与检测信号相同的验证信号test_data_0；步骤12检测信号送入存储子单元Memory_p 142存储，验证信号送入存储子单元Memory_x 132存储；步骤13控制单元110向接口控制线上发读控制信号，向接口地址线上发地址信号Add_Memory_p，通过接口数据线从存储子单元Memory_p 142读取检测信号test_data_1；控制单元110向外部控制线上发读控制信号，向外部地址线上发地址信号Add_Memory_x，通过外部数据线从存储子单元Memory_x132读取验证信号test_data_2；步骤14控制单元110比较test_data_1和test_data_2，如果两者相同，则接口控制线、接口地址线和接口数据线正确，如果两者不相同，则接口控制线、接口地址线和接口数据线不正确。从上述处理流程可以看出，现有技术中的芯片接口检测方法存在以下问题1)芯片内部固有存储单元组由各种类型的存储单元组成，不同类型存储单元的读写功能有别，如某些存储单元无法进行读写操作，某些存储单元是读后自动清除的，控制单元无法对所有存储单元进行有效的读写操作，从而导致检测时无法遍历地址信号所有组合和数据信号所有组合；2)每次检测实际检测到的是一个地址信号组合和一个数据信号组合，而芯片内部地址信号组合与数据信号组合的总数是2M+N个，为达到对接口地址线和接口数据线一定的检测覆盖率，需要进行多次检测，检测成本和难度很高；3)实际应用中，虽然直接检测的是接口数据线，但由于每次检测都会使用到接口数据线、接口地址线及接口控制线，故此，这种检测方法实际检测的是一种数据信号组合和一种地址信号组合，不能针对接口数据线或接口地址线进行专门检测，当检测到错误时难以确定错误具体是在哪种信号线上产生的。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种芯片接口检测装置，能够针对任意一种接口信号线进行专门检测，降低检测成本和难度。本专利技术的目的还在于提供一种芯片接口检测方法，能针对任意一种接口信号线进行专门检测，降低检测成本和难度。根据上述目的的一个方面，本专利技术提供了一种芯片接口检测装置，包含置于芯片外部的外部检测器件和置于芯片内部的内部检测器件，所述外部检测器件包含用于发送并比较检测信号和验证信号的控制单元和用于存储验证信号的外部存储模块，控制单元与外部存储模块之间连接有外部验证信号线；所述内部检测器件至少包含用于存储检测信号的检测专用内部存储单元，检测专用内部存储单元通过接口待检测信号线与控制单元相连。其中，所述外部检测器件还包含外部变换处理单元，通过外部验证信号线连接于控制单元和外部存储模块之间，用于对验证信号进行变换处理；所述内部检测器件还包含内部变换处理单元，通过接口待检测信号线连接于控制单元和检测专用内部存储单元之间，用于对检测信号进行变换处理；其中，内部变换处理单元的变换处理方式与外部变换处理单元相同。其中，所述外部存储模块是外部固有存储单元，外部固有存储单元与控制单元之间还连接有外部控制线和外部地址线。其中，所述外部存储模块是检测专用外部存储单元。其中，所述接口待检测信号线是接口数据线，所述外部验证信号线是外部数据线。其中，所述接口待检测信号线是接口地址线，所述外部验证信号线是外部地址线；且所述检测专用外部存储单元与控制单元之间还连接有外部数据线，所述检测专用内部存储单元与控制单元之间还连接有接口数据线；所述外部检测器件进一步包括外部同步处理单元，通过外部验证信号线连接于控制单元和检测专用外部存储单元之间，用于对验证信号按检测专用外部存储单元的数据存储格式进行处理；所述内部检测器件进一步包含内部同步处理单元，通过接口待检测信号线连接于控制单元和检测专用内部存储单元之间，用于对检测信号按检测专用内部存储单元的数据存储格式进行处理。其中，所述接口待检测信号线是接口地址线，所述外部验证信号线是外部地址线；且所述检测专用外部存储单元与控制单元之间还连接有外部数据线，所述检测专用内部存储单元与控制单元之间还连接有接口数据线；所述外部检测器件进一步包括外部同步处理单元，通过外部验证信号线连接于外部变换处理单元和检测专用外部存储单元之间，用于对验证信号按检测专用外部存储单元的数据存储格式进行处理；所述内部检测器件进一步包含内部同步处理单元，通过接口待检测信号线连接于内部变换处理单元和检测专用内部存储单元之间，用于对检测信号按检测专用内部存储单元的数据存储格式进行处理。其中，所述检测专用内部存储单元是可读可写寄存器、或可读可写存储器。其中，所述检测专用外部存储单元是可读可写寄存器、或可读可写存储器。其中，所述检测专用外部存储单元是可读可写寄存器、或可读可写存储器、可读寄存器、或可读存储器；所述检测专用内部存储单元是可读可写寄存器、或可读可写存储器、可读寄存器、或可读存储器。根据上述目的的另一个方面，本专利技术提供了一种芯片接口检测方法，该方法包括下述步骤A、控制单元通过接口待检测信号线向检测专用内部存储单元发送检测信号，并通过外部验证信号线向外部存储模块发送与检测信号相同的验证信号；B、控制单元比较从检测专用内部存储单元读出的检测信号和从外部存储模块读出的验证信号是否相同，如果相同，本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种芯片接口检测装置，包含置于芯片外部的外部检测器件和置于芯片内部的内部检测器件，所述外部检测器件包含用于发送并比较检测信号和验证信号的控制单元和用于存储验证信号的外部存储模块，控制单元与外部存储模块之间连接有外部验证信号线； 其特征在于，所述内部检测器件至少包含用于存储检测信号的检测专用内部存储单元，检测专用内部存储单元通过接口待检测信号线与控制单元相连。
【技术特征摘要】
1.一种芯片接口检测装置，包含置于芯片外部的外部检测器件和置于芯片内部的内部检测器件，所述外部检测器件包含用于发送并比较检测信号和验证信号的控制单元和用于存储验证信号的外部存储模块，控制单元与外部存储模块之间连接有外部验证信号线；其特征在于，所述内部检测器件至少包含用于存储检测信号的检测专用内部存储单元，检测专用内部存储单元通过接口待检测信号线与控制单元相连。2.如权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于，所述外部检测器件还包含外部变换处理单元，通过外部验证信号线连接于控制单元和外部存储模块之间，用于对验证信号进行变换处理；所述内部检测器件还包含内部变换处理单元，通过接口待检测信号线连接于控制单元和检测专用内部存储单元之间，用于对检测信号进行变换处理；其中，内部变换处理单元的变换处理方式与外部变换处理单元相同。3.如权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于，所述外部存储模块是外部固有存储单元，外部固有存储单元与控制单元之间还连接有外部控制线和外部地址线。4.如权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于，所述外部存储模块是检测专用外部存储单元。5.如权利要求2所述的芯片检测装置，其特征在于，所述外部存储模块是外部固有存储单元，外部固有存储单元与控制单元之间还连接有外部控制线和外部地址线。6.如权利要求2所述的芯片检测装置，其特征在于，所述外部存储模块是检测专用外部存储单元。7.如权利要求1至6任一项所述的芯片检测装置，其特征在于，所述接口待检测信号线是接口数据线，所述外部验证信号线是外部数据线。8.如权利要求4所述的芯片检测装置，其特征在于，所述接口待检测信号线是接口地址线，所述外部验证信号线是外部地址线；且所述检测专用外部存储单元与控制单元之间还连接有外部数据线，所述检测专用内部存储单元与控制单元之间还连接有接口数据线；所述外部检测器件进一步包括外部同步处理单元，通过外部验证信号线连接于控制单元和检测专用外部存储单元之间，用于对验证信号按检测专用外部存储单元的数据存储格式进行处理；所述内部检测器件进一步包含内部同步处理单元，通过接口待检测信号线连接于控制单元和检测专用内部存储单元之间，用于对检测信号按检测专用内部存储单元的数据存储格式进行处理。9.如权利要求6所述的芯片检测装置，其特征在于，所述接口待检测信号线是接口地址线，所述外部验证信号线是外部地址线；且所述检测专用外部存储单元与控制单元之间还连接有外部数据线，所述检测专用内部存...
【专利技术属性】
技术研发人员：王菁，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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