一种用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量装置及端耦合腔测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量装置，包括测量部和网络分析仪。其中，所述测量部包括主体、耦合环和同轴线。所述主体设有穿孔；所述耦合环设置在所述穿孔中；所述同轴线的一端穿设在所述穿孔中，并与所述耦合环连接；所述同轴线的另一端延伸至所述主体并与所述网络分析仪连接。本发明专利技术的技术方案通过将端耦合腔测量装置的主体置于桥式耦合器的中心腔体与端耦合腔之间的连接槽口中并令耦合环一侧位于端耦合腔，调节网络分析仪的参数测量单端口反射系数S11，即可简单、快速地、准确地获取端耦合腔的测试结果，进而通过测量结果修正端耦合腔的尺寸直至达到指标要求，能够有效降低机械加工量和调谐工作量。能够有效降低机械加工量和调谐工作量。能够有效降低机械加工量和调谐工作量。

【技术实现步骤摘要】
一种用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量装置及端耦合腔测量方法


[0001]本专利技术涉及加速器
，具体涉及一种用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量装置及端耦合腔测量方法。

技术介绍

[0002]耦合腔加速结构是一种质子直线加速器的加速结构，一般包括多个加速段和桥式耦合器。其中，每个加速段一般由多个加速腔和耦合腔构成；相邻的加速段之间通过桥式耦合器连接，从而实现加速段之间的微波传输。
[0003]在耦合腔加速结构使用前，需要对腔链中的各腔频率等参数进行测试，并依据测试结果对腔链中的各腔体进行调谐，从而使腔链满足设计要求。
[0004]相关技术中针对耦合腔加速结构中腔体的测试和调谐，主要是通过活塞探针法。然而，活塞探针法主要适用于各个腔体处在同一轴线上情况。对于设置有端耦合腔的耦合腔加速结构，由于端耦合腔和加速腔未处于同一轴线且耦合腔与加速腔在非中心位置由耦合口连接，因此，相关技术中的活塞探针法难以得到端耦合腔的准确测试结果。

技术实现思路

[0005]本专利技术的主要目的在于提供一种用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量装置及端耦合腔测量方法，以准确地获取端耦合腔的测试结果。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供了一种用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量装置，包括测量部和网络分析仪。其中，所述测量部包括主体、耦合环和同轴线。所述主体设有穿孔；所述耦合环设置在所述穿孔中；所述同轴线的一端穿设在所述穿孔中，并与所述耦合环连接；所述同轴线的另一端延伸至所述主体并与所述网络分析仪连接。/>[0007]进一步地，所述主体采用金属制成，并呈弯曲条状。
[0008]进一步地，所述穿孔贯穿所述主体。
[0009]进一步地，所述同轴线与所述穿孔之间为紧配合。
[0010]进一步地，所述网络分析仪为具备反射参数测量功能的仪器。
[0011]进一步地，所述网络分析仪为微波矢量网络分析仪。
[0012]本专利技术还提供了一种用采用上述端耦合腔测量装置对耦合腔加速结构中与桥式耦合器相连接的端耦合腔进行测试的端耦合腔测量方法，包括：将所述端耦合腔测量装置的主体置于所述桥式耦合器的中心腔体与端耦合腔之间的连接槽口中，并令所述耦合环一侧位于所述端耦合腔；将所述端耦合腔测量装置的同轴线与所述端耦合腔测量装置的网络分析仪连接；调节所述网络分析仪的参数，测量单端口反射系数S11，并获取所述单端口反射系数S11对应的谷值作为所述端耦合腔的谐振频率。
[0013]进一步地，所述端耦合腔测量方法还包括：判断获取到的所述端耦合腔的谐振频率与设计频率之间的差值是否大于预设阈值；若获取到的所述端耦合腔的谐振频率与设计
频率之间的差值大于预设阈值，则修正所述端耦合腔的尺寸后，然后重复上述步骤直至获取到的所述端耦合腔的谐振频率与所述设计频率之间的差值小于所述预设阈值。
[0014]应用本专利技术的技术方案，通过将端耦合腔测量装置的主体置于桥式耦合器的中心腔体与端耦合腔之间的连接槽口中并令耦合环一侧位于端耦合腔，调节网络分析仪的参数测量单端口反射系数S11，即可简单、快速地、准确地获取端耦合腔的测试结果，进而通过测量结果修正端耦合腔的尺寸直至达到指标要求，能够有效降低机械加工量和调谐工作量。
附图说明
[0015]通过下文中参照附图对本专利技术所作的描述，本专利技术的其它目的和优点将显而易见，并可帮助对本专利技术有全面的理解。
[0016]图1是一种耦合腔加速结构的示意图；
[0017]图2是根据本专利技术的一些实施例的用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量装置的结构示意图；
[0018]图3是图2中的端耦合腔测量装置的测量部的放大示意图；
[0019]图4是图3中测量部的另一角度的示意图；及
[0020]图5是根据本专利技术的一些实施例的用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量方法的流程图。
[0021]需要说明的是，附图并不一定按比例来绘制，而是仅以不影响读者理解的示意性方式示出。
[0022]附图标记说明：
[0023]100、耦合腔加速结构；110、加速段；112、加速腔；114、边耦合腔；116、端耦合腔；118、轴线；130、桥式耦合器；
[0024]200、端耦合腔测量装置；201、测量部；212、穿孔；210、主体；230、耦合环；230、网络分析仪；250、同轴线。
具体实施方式
[0025]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例的附图，对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本专利技术的一个实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本专利技术的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0026]需要说明的是，除非另外定义，本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本专利技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。若全文中涉及“第一”、“第二”等描述，则该“第一”、“第二”等描述仅用于区别类似的对象，而不能理解为指示或暗示其相对重要性、先后次序或者隐含指明所指示的技术特征的数量，应该理解为“第一”、“第二”等描述的数据在适当情况下可以互换。若全文中出现“和/或”，其含义为包括三个并列方案，以“A和/或B”为例，包括A方案，或B方案，或A和B同时满足的方案。此外，为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“上方”、“下方”、“顶部”、“底部”等，仅用来描述如图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系，应当理解为也包含除了图中所示的方位之外的在使用或操作中的不同方位。
[0027]图1是一种耦合腔加速结构的示意图。如图1所示，耦合腔加速结构100包括多个加速段110和桥式耦合器130。相邻的加速段110之间通过桥式耦合器130连接，从而实现加速段110之间的微波传输。其中，每个加速段110包括多个加速腔112、多个边耦合腔114和位于加速段110的端侧的端耦合腔116。
[0028]在每个加速段110中，多个加速腔112沿着轴线118依次连接。多个边耦合腔114偏离轴线118并大致交替地设置在多个加速腔112的两侧。每个边耦合腔114与相邻的加速腔112通过耦合孔连接，用于电磁耦合相邻的加速腔112。端耦合腔116位于加速段110沿着轴线118方向上的端侧，并于相邻的加速腔112通过耦合孔连接。同时，端耦合腔116与桥式耦合器130连接。桥式耦合器130的中心腔体与端耦合腔116之间设有用于测试端耦合腔116中参数的连接槽口(图中未标记)，连接槽口的位置和形状可以根据需要设计。
[0029]本专利技术实施例提供一种可用于对上述耦合腔加速结构100中与桥式耦合器130相连接的端耦合腔116进行测试的端耦合腔测量装置和端耦合腔测量方法，以准确地获取端耦合腔116的测试结果。
[0030]图2是根据本专利技术的一些实施例的用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量装置的结构示意图。如图2所示，端耦合腔测量装置200本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量装置(200)，其特征在于，包括：测量部(201)；和网络分析仪(230)；其中，所述测量部(201)包括主体(210)、耦合环(230)和同轴线(250)；所述主体(210)设有穿孔(212)；所述耦合环(230)设置在所述穿孔(212)中；所述同轴线(250)的一端穿设在所述穿孔(212)中，并与所述耦合环(230)连接；所述同轴线(250)的另一端延伸至所述主体(210)外部并与所述网络分析仪(230)连接。2.根据权利要求1所述的端耦合腔测量装置(200)，其特征在于：所述主体(210)采用金属制成，并呈弯曲条状。3.根据权利要求2所述的端耦合腔测量装置(200)，其特征在于：所述穿孔(212)贯穿所述主体(210)。4.根据权利要求3所述的端耦合腔测量装置(200)，其特征在于：所述同轴线(250)与所述穿孔(212)之间为紧配合。5.根据权利要求1所述的端耦合腔测量装置(200)，其特征在于：所述网络分析仪(230)为具备反射参数测量功能的仪器。6.根据权利要求5所述的端耦合腔测量装置(...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨京鹤，杨誉，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：