一种电场辐射敏感度改进测试方法和系统技术方案

本发明专利技术公开本发明专利技术提供一种电场辐射敏感度改进测试方法和系统，解决现有方法和系统测试效率低和测试成本高的问题。所述方法，包含：根据受试设备的尺寸和测试距离计算E面测试范围和H面测试范围，根据发射天线波束宽度和测试距离计算E面步进和H面步进；选定测试初始位置，按照先沿E面再沿H面或者先沿H面再沿E面调节发射天线的位置，使得发射天线移动范围覆盖所述E面测试范围和H面测试范围，且每个测试位置都与所述受试设备的距离保持为所述测试距离；在所述每个测试位置，通过所述发射天线向所述受试设备辐射信号，测量受试设备处的电场强度。所述系统使用所述方法。本发明专利技术实现了大尺寸EUT单天线等效测试。尺寸EUT单天线等效测试。尺寸EUT单天线等效测试。

【技术实现步骤摘要】
一种电场辐射敏感度改进测试方法和系统


[0001]本专利技术涉及电磁场测试领域，尤其涉及一种电场辐射敏感度改进测试方法和系统。

技术介绍

[0002]GJB151B中的RS103项目名称是10kHz～40GHz电场辐射敏感度，试验目的是为了检验受试设备(EUT)通过外壳和连接电缆感应外界辐射电场的承受能力，以确保在各种电磁场中工作的设备不降低性能。根据GJB151B的要求，当发射频率大于200MHz时，天线的3dB波束覆盖范围已经非常小了，对于大尺寸EUT，需要多位置重复测量。现有的GJB151B中RS103电场辐射敏感度的测试方法中，对于大尺寸的EUT，单个发射天线的3dB波束宽度宽度无法覆盖标准要求覆盖的区域时，需要多天线法进行测试，测试过程需同时使用多个天线，系统复杂，测试效率低。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种电场辐射敏感度测试方法和系统，解决现有方法和系统测试效率低和测试成本高的问题。
[0004]为解决上述问题，本专利技术是这样实现的：
[0005]本专利技术实施例提出一种电场辐射敏感度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电场辐射敏感度测试改进方法，用于GJB161B中RS103项目，其特征在于，包含以下步骤：根据受试设备的尺寸和测试距离计算E面测试范围和H面测试范围，根据发射天线波束宽度和测试距离计算E面步进和H面步进，所述测试距离为预设的发射天线与受试设备之间的距离，所述E面步进为沿发射天线E面的最小移动距离，所述H面步进为沿发射天线H面的最小移动距离；选定测试初始位置，按照先沿E面再沿H面或者先沿H面再沿E面调节发射天线的位置，使得发射天线移动范围覆盖所述E面测试范围和H面测试范围，且每个测试位置都与所述受试设备的距离保持为所述测试距离，沿E面调节发射天线位置的调节步进为所述E面步进，沿H面调节发射天线位置的调节步进为所述H面步进；在所述每个测试位置，通过所述发射天线向所述受试设备辐射信号，测量受试设备处的电场强度。2.如权利要求1所述的电场辐射敏感度测试改进方法，其特征在于，所述E面测试范围为所述受试设备的全尺寸辐照，所述H面测试范围为所述受试设备的全尺寸辐照。3.如权利要求1所述的电场辐射敏感度测试改进方法，其特征在于，所述E面步进大于等于所述H面步进大于等于其中，L为所述测试距离，θ
E
为发射天线的E面3dB波束宽度，θ
H
为发射天线的H面3dB波束宽度。4.如权利要求1所述的电场辐射敏感度改进测试方法，其特征在于，所述受试设备的尺寸满足：若测试频率大于等于10k且小于200MHz，所述受试设备尺寸大于3米；若测试频率大于等于200MHz且小于1GHz时，所述受试设备壳体的整个宽度及其端接电缆的首个35cm线段...

【专利技术属性】
技术研发人员：穆晨晨，袁岩兴，康宁，韩玉峰，齐万泉，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：