基于待成像区域的视觉对位方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了基于待成像区域的视觉对位方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：获取待对位物体a和物体b分别所在的操作平台A、操作平台B对应的ATI特征数据库及标定参数；将特征图像对应采集设备的芯片感光区域设置为待成像区域，分别计算物体a、物体b的待成像区域；并对待成像区域进行图像采集；在计算出的待成像区域的图像中找出与各自模板图像对应的特征图像，确定该特征图像对应的位置，分别得到物体a和物体b的位置；同时将当前特征图像的位置代入对应操作平台进行其ATI特征数据库更新，并更新物体a、物体b的待成像区域；进而实现物体a和物体b的对位。本发明专利技术提高了视觉对位工作效率。

【技术实现步骤摘要】
基于待成像区域的视觉对位方法、装置、设备及存储介质
本专利技术涉及视觉对位
，具体涉及基于待成像区域的视觉对位方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
对位是现代工业生产中，器件精密装配环节的一个专业名称，其典型应用如，以手机生产为典型代表的各种柔性或刚性器件的安装。其具体实现过程是，将位置A的物体a与位置B的物体b安装在一起，在此安装过程中，需要对物体a或物体b的水平、竖直或旋转方向调整。实现对位功能好坏的一个关键环节在于，是否可以获得上述物体a和物体b的精确位置。为了实现位置的精确调整，工作中将会通过视觉对位系统对物体进行拍摄，并指导实现整个对位过程。在一般的视觉对位过程中，都是在拍摄完整幅图像之后，在软件处理阶段，将整幅图像上的一部分确定为感兴趣区域，然后调用特征图像做模板图像，在感兴趣区域中搜索匹配程度最高的图像，最终完成相应的匹配，定位直至两个物体的安装工作。这样做可以正常完成工作，但对该整幅图像进行采集、传输和处理，需要花费较长时间，视觉对位效率较低。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是现有本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.基于自适应待成像区域的视觉对位方法，其特征在于，该对位方法包括以下步骤：/nS1：获取待对位物体a和物体b分别所在的操作平台A、操作平台B对应的ATI特征数据库，所述ATI特征数据库包括模板图像MP和其特征图像相关坐标以及相关参数；同时获取操作平台A、操作平台B的标定参数；/nS2：根据获取的所述ATI特征数据库，将特征图像对应采集设备的芯片感光区域设置为待成像区域，分别计算物体a、物体b的待成像区域；并通过采集设备对所述待成像区域进行图像采集；/nS3：在计算出的所述待成像区域的图像中找出与各自模板图像对应的特征图像，并根据对应所述操作平台的标定参数，确定该特征图像对应的位置，分别得到物...

【技术特征摘要】
1.基于自适应待成像区域的视觉对位方法，其特征在于，该对位方法包括以下步骤：
S1：获取待对位物体a和物体b分别所在的操作平台A、操作平台B对应的ATI特征数据库，所述ATI特征数据库包括模板图像MP和其特征图像相关坐标以及相关参数；同时获取操作平台A、操作平台B的标定参数；
S2：根据获取的所述ATI特征数据库，将特征图像对应采集设备的芯片感光区域设置为待成像区域，分别计算物体a、物体b的待成像区域；并通过采集设备对所述待成像区域进行图像采集；
S3：在计算出的所述待成像区域的图像中找出与各自模板图像对应的特征图像，并根据对应所述操作平台的标定参数，确定该特征图像对应的位置，分别得到物体a和物体b的位置；同时将当前特征图像的位置代入对应操作平台进行其ATI特征数据库更新，并更新物体a、物体b的待成像区域；
S4：根据得到的物体a和物体b的位置，实现物体a和物体b的对位。


2.根据权利要求1所述的基于自适应待成像区域的视觉对位方法，其特征在于，步骤S1中的ATI特征数据库的构建过程为：
步骤A：对分别位于操作平台a和操作平台b上的物体a和物体b，分别采集若干样本图像，得到物体a的图像集a和物体b的图像集b；
步骤B：寻找所述图像集a每张图像中与物体a的模板图像a对应的特征图像，获取该特征图像的对角坐标信息，并根据所述坐标信息计算各个坐标点横、纵坐标的平均值和变化范围，得到操作平台a的ATI特征数据库a；
寻找所述图像集b每张图像中与物体b的模板图像b对应的特征图像，获取该特征图像的对角坐标信息，并根据所述坐标信息计算各个坐标点横、纵坐标的平均值和变化范围，得到操作平台b的ATI特征数据库b。


3.根据权利要求2所述的基于自适应待成像区域的视觉对位方法，其特征在于，步骤B具体包括：
步骤B1：对于所述ATI特征数据库a中每个特征图像的左上角坐标（U，V）和右下角坐标（P，Q），统计U、V、P和Q的平均值和变化范围；U、V、P和Q的平均值分别为∑Ui/N1、∑Vi/N1、∑Pi/N1和∑Qi/N1，其中，i为ATI特征数据库a中特征图像的数量，i=1，2，3，……，N1，U的变化范围为Um-dU≤U≤Um+dU，其中dU=|Umax-Umin|/2，Umax和Umin分别是U的最大值和最小值；V的变化范围为Vm-dV≤V≤Vm+dV，其中dV=|Vmax-Vmin|/2，Vmax和Vmin分别是V的最大值和最小值；P的变化范围为Pm-dP≤P≤Pm+dP，其中dP=|Pmax-Pmin|/2，Pmax和Pmin分别是P的最大值和最小值；Q的变化范围为Qm-dQ≤Q≤Qm+dQ，其中dQ=|Qmax-Qmin|/2，Qmax和Qmin分别是Q的最大值和最小值；Um为左上角横坐标值，Vm为左上角纵坐标值；Pm为右下角横坐标值，Qm为右下角纵坐标值；
步骤B2：对于所述ATI特征数据库b的计算方法与步骤B1中所述ATI特征数据库a的计算方法相同。


4.根据权利要求3所述的基于自适应待成像区域的视觉对位方法，其特征在于，步骤S2中根据获取的所述ATI特征数据库a、ATI特征数据库b，将特征图像对应采集设备的芯片感光区域设置为待成像区域，分别计算物体a、物体b的待成像区域a、待成像区域b；所述待成像区域a所采用的计算公式如下：
x1=Um-k*dU，y1=Vm-k*dV，x2=Pm-k*dP，y2=Qm-k*dQ；
式中，（x1，y1）为待成像区域a的左上角坐标，（x2，y2）为待成像区域a的右下角坐标，k是变化范围的整数倍数；
所述待成像区域b的计算方法与待成像区域a的计算方法相同。


5.根据权利要求4所述的基于自适应待成像区域的视觉对位方法，其特征在于，步骤S3还包括：
在采集的待成像区域a的图像中寻找与模板图像a对应的特征图像，如果能找到，则获取该特征图像的对角坐标信息，将该坐标信息补充至ATI特征数据库a；如果没找到，则移...

【专利技术属性】
技术研发人员：虞建，刘中，张勇，
申请(专利权)人：成都新西旺自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51