一种测试方法、装置、系统、芯片和电子设备制造方法及图纸

本申请实施例提供一种测试方法、装置、系统、芯片和电子设备。方法包括：获取待测试AI芯片运行AI测试程序时的实时运行信息，其中，所述待测试AI芯片的电压以及频率被设定为测试电压/频率设定组合；根据所述实时运行信息，生成测试结果，其中，当根据所述实时运行信息判定所述待测试AI芯片的运行出现异常时，所述测试结果为所述测试电压/频率设定组合不合理。根据本申请一实施例的方法，可以简单快速的对AI芯片进行测试，判断AI芯片的电压/频率设置组合是否合理；本申请实施例的方法流程简单，实现难度低，具有很高的实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种测试方法、装置、系统、芯片和电子设备
本申请涉及人工智能
，特别涉及一种测试方法、装置、系统、芯片和电子设备。
技术介绍
在人工智能(ArtificialIntelligence，AI)领域，AI芯片也称AI速器，是一种专门用于处理AI应用中的大量计算任务的芯片。随着电子技术的发展，越来越多的终端中加入了AI模块。由于芯片制造的过程中存在着工艺偏差，导致每一颗芯片在特定电压下可正常工作的最高频率也不尽相同。而芯片可运行的电压/频率组合直接决定了芯片的性能、功耗和稳定性。因此，在实际使用AI芯片之前，需要对芯片进行电压/频率组合测试，以判断AI芯片的电压设定以及频率设定是否合理。
技术实现思路
针对现有技术下如何对芯片进行电压/频率组合测试的问题，本申请提供了一种测试方法、装置、系统、芯片和电子设备，本申请还提供一种计算机可读存储介质。本申请实施例采用下述技术方案：第一方面，本申请提供一种测试方法，包括：当获取到待测试AI芯片运行AI测试程序时的实时运行信息时，根据所述实时运行信息，生成测试结果，其中：所述待测试AI芯片运行AI测试程序时的电压以及频率被设定为测试电压/频率设定组合；当根据所述实时运行信息判定所述待测试AI芯片的运行出现异常时，所述测试结果为所述测试电压/频率设定组合不合理。在上述第一方面的一种可行的实现方式中，所述方法还包括：当获取到所述AI测试程序的执行结果时，根据所述AI测试程序的执行结果，生成测试结果，其中：<br>所述AI测试程序的执行结果为，所述待测试AI芯片运行所述AI测试程序完成后，根据所述AI测试程序的输出所生成的判定结果；当所述AI测试程序的执行结果为执行错误时，测试结果为测试电压/频率设定组合不合理。在上述第一方面的一种可行的实现方式中，在所述AI测试程序运行完毕后，当AI神经网络的最后一层输出的第一文件的校验结果与基准文件的校验结果不一致时，所述AI测试程序的执行结果为执行错误，其中：所述基准文件校验结果为，在安全电压以及安全频率下，所述待测试AI芯片运行所述AI测试程序完毕后，所述AI神经网络的最后一层输出的第二文件的校验结果。第二方面，本申请提供了一种测试响应方法，所述方法包括：设定待测试AI芯片的电压以及频率为测试电压/频率设定组合；使用所述待测试AI芯片运行AI测试程序；输出所述待测试AI芯片运行所述AI测试程序时的实时运行信息。在上述第二方面的一种可行的实现方式中，所述方法还包括，从所有可用的AI神经网络中选取测试AI神经网络，其中，所述测试AI神经网络为一个AI神经网络或多个AI神经网络的集合，所述测试AI神经网络可以覆盖所述待测试AI芯片所支持的所有算子；所述使用所述待测试AI芯片启动AI测试程序，包括，令所述AI测试程序运行所述测试AI神经网络。在上述第二方面的一种可行的实现方式中，所述方法还包括：在所述AI测试程序运行完毕后，输出所述AI测试程序的执行结果；或者，在所述AI测试程序运行完毕后，输出AI神经网络的最后一层输出的文件。第三方面，本申请提供了一种获取基准文件校验结果的方法，所述方法包括：将待测试AI芯片的电压以及频率设定为安全电压以及安全频率；使用所述待测试AI芯片运行AI测试程序；在所述AI测试程序运行完毕后，获取AI神经网络的最后一层输出的第一文件；对所述第一文件运行文件校验程序，获取基准文件校验结果。第四方面，本申请提供了一种确定电压/频率设定组合的方法，所述方法包括：基于权利要求1～3中任一项所述的方法，对所述待测试AI芯片进行多轮循环测试，以确认，在电压/频率设定组合合理的前提下，电压最低和/或频率最高的电压/频率设定组合，其中：在当前轮次的测试结果为测试电压/频率设定组合合理时，调高所述当前轮次的测试电压/频率设定组合的频率值，和/或，调低所述当前轮次的测试电压/频率设定组合的电压值，以确定下一轮次的测试电压/频率设定组合；在所述当前轮次的测试结果为电压/频率设定组合不合理时，以上一轮次的测试电压/频率设定组合，为在电压/频率设定组合合理的前提下，电压最低和/或频率最高的电压/频率设定组合。在上述第四方面的一种可行的实现方式中，根据安全电压以及安全频率确定第一轮测试所使用的测试电压/频率设定组合。在上述第四方面的一种可行的实现方式中，所述调高所述当前轮次的测试电压/频率设定组合的频率值，和/或，调低所述当前轮次的测试电压/频率设定组合的电压值，包括：保持所述电压值不变，按照预设步长调高所述频率值。第五方面，本申请提供了一种测试装置，包括：测试结果生成模块，其用于当获取到待测试AI芯片运行AI测试程序时的实时运行信息时，根据所述实时运行信息，生成测试结果，其中：所述待测试AI芯片运行AI测试程序时的电压以及频率被设定为测试电压/频率设定组合；当根据所述实时运行信息判定所述待测试AI芯片的运行出现异常时，所述测试结果为所述测试电压/频率设定组合不合理。第六方面，本申请提供了一种测试响应装置，所述装置包括：电压/频率设定模块，其用于设定待测试AI芯片的电压以及频率为测试电压/频率设定组合；测试程序运行模块，其用于使用所述待测试AI芯片启动AI测试程序；实时运行信息输出模块，其用于输出所述待测试AI芯片运行所述AI测试程序时的实时运行信息。第七方面，本申请提供了一种测试系统，所述系统包括：测试终端，其用于：为待测试AI芯片提供运行环境支持；将所述待测试AI芯片的电压以及频率设定为测试电压/频率设定组合；以及，输出所述待测试AI芯片运行AI测试程序时的实时运行信息；测试主机，其用于根据所述实时运行信息，生成测试结果，其中，当根据所述实时运行信息判定所述待测试AI芯片的运行出现异常时，所述测试结果为所述测试电压/频率设定组合不合理。第八方面，本申请提供了一种任务处理芯片，所述任务处理芯片包括：处理器，其用于执行存储器中存储的计算机程序指令，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发所述任务处理芯片执行如上述第一方面所述的方法流程。第九方面，本申请提供了一种任务处理芯片，所述任务处理芯片包括：处理器，其用于执行存储器中存储的计算机程序指令，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发所述任务处理芯片执行如上述第二方面所述的方法流程。第十方面，本申请提供了一种电子设备，所述电子设备包括用于存储计算机程序指令的存储器和用于执行程序指令的处理器，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发所述电子设备执行如上述第一方面所述的方法步骤。第十一方面，本申请提供了一种电子设备，所述电子设备包括用于安装待测试AI芯片的接口模块、用于存储计算机程序指令的存储器和用于执行程序指令的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试方法，其特征在于，包括：/n当获取到待测试AI芯片运行AI测试程序时的实时运行信息时，根据所述实时运行信息，生成测试结果，其中：/n所述待测试AI芯片运行AI测试程序时的电压以及频率被设定为测试电压/频率设定组合；/n当根据所述实时运行信息判定所述待测试AI芯片的运行出现异常时，所述测试结果为所述测试电压/频率设定组合不合理。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，包括：
当获取到待测试AI芯片运行AI测试程序时的实时运行信息时，根据所述实时运行信息，生成测试结果，其中：
所述待测试AI芯片运行AI测试程序时的电压以及频率被设定为测试电压/频率设定组合；
当根据所述实时运行信息判定所述待测试AI芯片的运行出现异常时，所述测试结果为所述测试电压/频率设定组合不合理。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当获取到所述AI测试程序的执行结果时，根据所述AI测试程序的执行结果，生成测试结果，其中：
所述AI测试程序的执行结果为，所述待测试AI芯片运行所述AI测试程序完成后，根据所述AI测试程序的输出所生成的判定结果；
当所述AI测试程序的执行结果为执行错误时，测试结果为测试电压/频率设定组合不合理。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述AI测试程序运行完毕后，当AI神经网络的最后一层输出的第一文件的校验结果与基准文件的校验结果不一致时，所述AI测试程序的执行结果为执行错误，其中：
所述基准文件校验结果为，在安全电压以及安全频率下，所述待测试AI芯片运行所述AI测试程序完毕后，所述AI神经网络的最后一层输出的第二文件的校验结果。


4.一种测试响应方法，其特征在于，所述方法包括：
设定待测试AI芯片的电压以及频率为测试电压/频率设定组合；
使用所述待测试AI芯片运行AI测试程序；
输出所述待测试AI芯片运行所述AI测试程序时的实时运行信息。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括，从所有可用的AI神经网络中选取测试AI神经网络，其中，所述测试AI神经网络为一个AI神经网络或多个AI神经网络的集合，所述测试AI神经网络可以覆盖所述待测试AI芯片所支持的所有算子；
所述使用所述待测试AI芯片启动AI测试程序，包括，令所述AI测试程序运行所述测试AI神经网络。


6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
在所述AI测试程序运行完毕后，输出所述AI测试程序的执行结果；
或者，
在所述AI测试程序运行完毕后，输出AI神经网络的最后一层输出的文件。


7.一种获取基准文件校验结果的方法，其特征在于，所述方法包括：
将待测试AI芯片的电压以及频率设定为安全电压以及安全频率；
使用所述待测试AI芯片运行AI测试程序；
在所述AI测试程序运行完毕后，获取AI神经网络的最后一层输出的第一文件；
对所述第一文件运行文件校验程序，获取基准文件校验结果。


8.一种确定电压/频率设定组合的方法，其特征在于，所述方法包括：
基于权利要求1～3中任一项所述的方法，对所述待测试AI芯片进行多轮循环测试，以确认，在电压/频率设定组合合理的前提下，电压最低和/或频率最高的电压/频率设定组合，其中：
在当前轮次的测试结果为测试电压/频率设定组合合理时，调高所述当前轮次的测试电压/频率设定组合的频率值，和/或，调低所述当前轮次的测试电压/频率设定组合的电压值，以确定下一轮次的测试电压/频率设定组合；
在所述当前轮次的测试结果为电压/频率设定组合不合理时，以上一轮次的测试电压/频率设定组合，为在电压/频率设定组合合理的前提下，电压最低和/或频率最高的电压/频率设定组合。


9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，根据安全电压以及安全频率确定第一轮测试所使用的测试电压/频率设定组合。


10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于，所述调高所述当前轮次的测试电压/频率设定组合的频率值，和/或，调低所述当前轮次的测试电压/频率设定组合的电压值，包括：
保持所述电压值不变，按照预设步长调高所述频率值。


11.一种测试装置，其特征在于，包括：
测试结果生成模块，其用于当获取到待测试AI芯片运行AI测试程序时的实时运行信息时，根据所述实时运行信息，生成测试结果，其中：
所述待测试AI芯片运行AI测试程序时的电压以及频率被设定为测试电压/频率设定组合；
当根据所述实时运行信息判定所述待测试AI芯片的运行出现异常时，所述测试结果为所述测试电压/频率设定组合不合理。


12.一种测试响应装置，其特征在于，所述装置包括：
电压/频率设定模块，其用于设定待测试AI芯片的电压以及频率为测试电压/频率设定组合；
测试程序运行模块，其用于使用所述待测试AI芯片启动AI测试程序；
实时运行信息输出模块，其用于输出所述待测试AI芯片运行所述AI测试程序时的实时运行信息。


13.一种测试系统，其特征在于，所述系统包括：
测试终端，其用于：为待测试AI芯片提供运行环境支持；将所述待测试AI芯片的电压以及频率设定为测试电压/频率设定组合；以及，输出所述待测试AI...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋玉超，邓刚桥，吴文鸣，
申请(专利权)人：展讯通信天津有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12